X熒光光譜儀的優勢和劣勢及三種分析檢測方法
X熒光光譜儀的優勢和劣勢優勢:a) 分析速度快。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。(氣體密封在容器內也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。e) 分析精密度高。f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。劣勢：a)難于作分析，故定量分析需要標樣。b)對輕元素檢測的靈敏度要低一些。c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。 X熒光光譜儀是目前最常用的分析儀器之一......閱讀全文
熒光光譜儀單分子熒光檢測方法分析
單分子熒光檢測。單分子熒光分析是實現單分子檢測最靈敏的光分析技術。單分子熒光檢測的關鍵在于確保被照射的體積中只有一個分子與激光發生作用以及消除雜質熒光的背景干擾。單分子熒光檢測可提供單分子水平上生物分子反應的動力學信息，分子構象以及構象隨時間的變化，因此尤其在生命科學領域中具有廣闊的應用前景，為
理學推出全反射X射線熒光光譜儀－鎘元素檢測有優勢
近日，日本理學宣布推出新一代理學NANOHUNTER II臺式全反射X射線熒光（TXRF）光譜儀，液體或固體表面高靈敏度痕量元素分析達到ppb水平。全反射X射線熒光光譜通過一種途徑使X射線入射光束剛好擦過樣品，來實現低背景噪音、高靈敏度的超微量元素測量。NANOHUNTER II臺式全反射X射線
解析X熒光光譜儀的六大性能優勢
X熒光光譜儀由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的
X射線熒光光譜儀無標樣分析方法
對于以固體進樣為主的X射線熒光分析技術，要獲得一套高質量的固體標準樣品有一定難度，限制了X射線熒光分析的應用范圍。 而X射線熒光光譜無標樣分析技術是20世紀90年代推出的新技術，其目的是不用標準樣品也可以分析各種樣品。它的基本思路是：由儀器制造商測量標準樣品，儲存強度和工作曲線，然后將這些數據
X熒光光譜儀分析中的干擾分析
1、在X熒光光譜儀分析中，某些元素間可能有全部或者部分譜線重疊。基本參數方程要求使用沒有受到譜線重疊影響的凈強度。在這些方程中包含某些經驗的修正。 2、在X射線光譜儀分析中，在某些元素間可能存在元素間干擾或者基體效應。來彌補這些效應的經驗方式就是制備一系列校正標樣的曲線，濃度范圍涵蓋要分析的范圍。此
X射線熒光光譜儀－檢測標準
JJG810-1993《波長色散X射線熒光光譜儀》檢定周期為1年。
X射線熒光光譜儀原理分析
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
X熒光光譜儀分析技術誤區
不管任何分析儀器，分析技術是獲得正確結果的保證。分析技術貫穿于儀器應用的全過程。分析方法的選擇必須滿足儀器應用的需要。 誤區1：標樣制備太麻煩，最好用無標樣法。 X熒光光譜儀分析法和其它大部分分析儀器一樣，是相對分析法。在X熒光光譜儀分析中，測得的X射線強度與相應元素濃度的對應關系完全是建立在標準樣
X熒光光譜儀用途及優點
X熒光光譜儀由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀主要用途X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，可以 測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于
X熒光光譜儀分類及比較
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
x熒光光譜儀的應用及優點
x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素
X熒光光譜儀的原理及應用
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射
X熒光光譜儀的應用及發展
如今，X熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。X熒光光譜儀可對固體、粉末、液體、懸浮物、過濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進行定性、定量分析，元素范圍13Al-92U，含量范圍ppb至100%，檢
X熒光光譜儀的應用及原理
?X熒光光譜儀由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。技術原理受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集
X熒光光譜儀的原理及應用
X射線光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征輻射，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元素組成，得到物質成分的定性和定量信息。?特征x射線的
X熒光光譜儀的應用及發展
X熒光光譜儀技術已成功應用于環境、食物鏈、動植物、農產品、人體組織細胞及器官、生物醫學材料、組織細胞、醫學試劑、動植物器官、代謝產物中的無機元素測定。 X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X射
全自動X熒光光譜儀主要性能優勢
全自動X熒光光譜儀主要性能優勢： —1秒鐘出結果 采用行業zui先進的極速探測器技術——（SDD）分辨率zui低至125eV 優勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低 采用行業zui先進的數字多道技術 優勢：有
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。 c) 根據各元素的特征X射線的強度，
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各
X射線熒光應用及分析
a)?X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強
X熒光光譜儀制樣方法（一）
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X?射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分布是
X熒光光譜儀制樣方法（二）
制備固體樣品時要注意：（1）?樣品的分析面不能有氣孔，析出物和多孔質現象。（2）?防止偏析。造成偏析的因素：合金的組成和密度；鑄模的材料、形狀和厚度；合金熔化溫度、澆鑄溫度和被澆鑄樣品的冷卻速度等。（3）?樣品的冷卻速度。當樣品化學組成相同由于熱過程不同測得的X?射線強度不同，含C?量高的鋼鐵樣品這
X熒光光譜儀制樣方法（三）
粉末樣品誤差主要來源：（1）?粒度效應?粉末樣品粒度效應是指被測量樣品中的分析元素的熒光強度變化和樣品的粒度變化有關。一般來說，被分析樣品的粒度越小，熒光強度越高，輕元素尤甚。原子序數越小，對粒度越敏感；同一元素粒度越小，制樣穩定性越好。一般要求粒度小于200?目。（2）?偏析?偏析是指組分元素在樣
X熒光光譜儀制樣方法詳談
一、固體樣品1、固體樣品的主要缺點是，一般情況下不能采用各種添加法：如標準添加（或稀釋）法、低（或高）吸收稀釋法、內標法等。若所有樣品中已經含有適當的、一定濃度的內標元素，則上述的最后兩種方法還是可用的。另外，也不能進行化學濃縮和分離。表面結構和成分有時也難取得一致。可能弄不到現成的標樣，而人工合成
X熒光光譜儀制樣方法詳談
一、X熒光光譜儀分析方法是一個相對分析方法，任何制樣過程和步驟必須有非常好的重復操作可能性，所以用于制作標準曲線的標準樣品和分析樣品必須經過同樣的制樣處理過程。X 射線熒光實際上又是一個表面分析方法，激發只發生在試樣的淺表面，必須注意分析面相對于整個樣品是否有代表性。此外，樣品的平均粒度和粒度分
X熒光光譜儀的操作方法
X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線)，激發被測樣品，產生X熒光(二次X射線)，探測器對X熒光進行檢測。? 1、本儀器采用X光管產生激發源，因此，在不使用時，儀器會自動將X光管的高壓斷掉，使X光管的電源處理待機狀態。此時，儀器將不會產生任何
X射線熒光光譜儀定量分析方法簡介
X射線熒光光譜法是一種相對分析方法，光譜儀只提供X射線熒光的強度，要找到熒光強度與樣品濃度的關系，需要一套高質量的標準樣品，根據元素的濃度和已測的該元素的特征譜線的強度按一定關系進行擬合繪制工作曲線，以該工作曲線為基礎測試同類型樣品元素的組成和含量。
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6
X熒光光譜儀的定量分析和定性分析的介紹
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。 事實上，X熒光光譜儀在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存
X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律
?? X熒光光譜儀能夠對生活中不同元素形成的各式各樣的導體及非導體材料進行分析。那么X熒光光譜儀在檢測分析時采用了哪些定律呢？ 1、莫塞萊定律 莫塞萊定律是反應各個元素X射線特征光譜規律的一種實驗定律，依靠莫塞萊定律進行分析的方式也是可靠的方法之一。X熒光光譜儀在對材料進行分析時也會使用到這一定