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X射線光譜儀與物質的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。X熒光光譜儀是一種波長較短的電磁輻射，通常是指能t范圍在0.1^-100keV的光子。X射線熒光光譜儀是由物質中的組成元素產生的特征輻射，通過側里和分析樣品產生的x射線熒光，即可獲知樣品中的元素組成，得到物質成分的定性和定量信息。 特征x射線的產生與特性 當用高能電子束照射樣品時，人射高能電子被樣品中的電子減速，這種帶電拉子的負的加速度會產生寬帶的連續X射線譜，簡稱為連續潛或韌致輻射。另一方面，化學元素受到高能光子或粒子的照射，如內層電子被激發，則當外層電子躍遷時，就會放射出特征X射線。特征X射線是一種分離的不連續譜。如果激發光源為x射線，則受激產生的x射線稱為二次X射線或X射線熒光。特征x射線顯示了特征x射線光譜儀產生的過程。 當人射x射線撞擊原子中的電子時，如光子能量大于原子中的電子束縛能，電子就會被擊出。這一相互作用過程被稱為光電效應，被......閱讀全文
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵
X熒光光譜儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信
天瑞儀器參展第十四屆北京分析測試學術報告會及展覽會（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞儀器在北京展覽館2號會議室舉辦了合金分析、重金屬檢測技術交流會。來自科研院所、高等院校的30余名專家學者參加了本次交流會，共同探討XRF儀器新技術，及其在合金行
X熒光光譜儀的簡單介紹 x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選
X熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能
光譜儀又稱光譜分析儀，應用分類繁多，我們著重介紹手持式合金分析儀，全譜火花直讀光譜儀，X射線熒光光譜儀，拉曼光譜儀，激光誘導擊穿光譜儀。 光譜儀原理： 1，手持式光譜儀和能量色散X射線熒光光譜儀原理基本一致： X-射線熒光分析儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快
1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。X熒光光譜儀的工作原理： X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理
便攜式x熒光光譜儀的現狀及其將來的發展 便攜式x熒光光譜儀被廣泛應用于多種領域，如顏色測量、化學成份的濃度測量或輻射度學分析、膜厚測量、氣體成分分析等領域。便攜式x熒光光譜儀通常采用光纖作為信號耦合器件，將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由于光纖的
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
利用中午的休息時間，會務組還特地為與會代表安排了精彩的4D科普影片。大家稍作歇息后，下午的大會報告繼續進行。 北京礦冶研究總院 符斌教授 來自北京礦冶研究總院的符斌教授為大家帶來了題為《身手不凡的手持式X射線熒光光譜儀》的報告。符教授首先指出，目前手持式XRF分析儀基本上都是能量
成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕
一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述x射線熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測
X熒光光譜儀因其自身分析速度快、精度高的優勢被廣泛應用。x熒光光譜儀是一種常用的分析儀器，主要由激發源和探測系統構成。 X熒光光譜儀的原理就是：X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(
常見的分析儀器有，原子吸收分光光度計、原子熒光光譜儀、電感藕合等離子體發射光譜儀(簡稱ICP)、火花直讀光譜儀(簡稱光譜儀)、X射線熒光光譜儀、能譜儀等。此外，還有些專屬性分析儀器，如碳硫分析儀、氧氮氫三元素連測儀等。這些儀器有生產過程中扮演著不同的角色。下面談一下各種儀器在金屬材料中扮演的不同角色
X熒光光譜儀的原理 當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣
光譜儀具體分類：1、按產生本質可分：原子光譜儀和分子光譜儀等。2、按產生方式可分：發射光譜儀、吸收光譜儀、熒光光譜儀和散射光譜儀。3、按光譜形狀可分：線光譜儀、帶光譜儀和連續光譜儀。4、按發射原理可分：原子發射光譜儀。5、按吸收原理可分：原子吸收光譜儀、分子吸收光譜儀、紫外可見光譜儀、紅外光譜儀、拉
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
X射線熒光光譜法適用于對物質成分分析,可直接對固體(塊狀或粉末狀)和液體樣品中主量元素、微量元素進行多元素同時分析。當結合薄樣技術時,具有高靈敏度,用樣量少等優點。隨著分析技術的發展和科研水平的提高,分析領域愈發關注待測成分復雜和含量低等特點課題,對儀器本身提出更高要求。本課題組由田宇纮教授帶領下在
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
X射線熒光光譜儀原理 X射線熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 一、XRF在物質成分分析上的應用 XRF應用主要取決于儀器技術和理論方法的發展。X射線熒光分析儀器有三種主要類型：實驗室用
許多ROHS儀器用戶大概都不太清楚這款儀器是基于怎樣的應用原理來完成作業的，這就是今天我們要在這里為大家介紹的XRF-X射線熒光光譜儀的優缺點。X射線熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。 X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二