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適配器和終端 由于每個適配器和終端都會引入不必要的插入損耗和反射，因此仔細選擇正確的組件可以防止不必要的信號降級并可能對敏感電子設備造 適配器和終端有多種形式，通常是同軸或波導，用于高功率應用。另外，適配器可能更復雜，因為適配器任一端的尺寸和類型可能不同。此外，適配器本身可能引入轉彎或彎曲。 必須仔細檢查適配器的功率和頻率范圍，特別是如果適配器是波導到同軸轉換。波導自然只能使頻帶范圍的帶寬以高信號保真度傳輸，其中同軸技術僅具有截止頻率。然而，不同的同軸連接器類型也具有不同的功率和頻率容量。如果適配器是兩種不同同軸連接器類型之間的過渡，則頻率，功率處理，PIM，插入損耗和其他參數將受到影響。 現代模擬器現在包括EM和熱模擬，用于預測濾波器或其他無源元件器件中的熱行為和應力。 終端首當其沖地耗盡設備內潛在的極端RF能量。通常，用于高功率應用的終......閱讀全文
適配器和終端 由于每個適配器和終端都會引入不必要的插入損耗和反射，因此仔細選擇正確的組件可以防止不必要的信號降級并可能對敏感電子設備造 適配器和終端有多種形式，通常是同軸或波導，用于高功率應用。另外，適配器可能更復雜，因為適配器任一端的尺寸和類型可能不同。此外，適
RF和微波無源元件承受許多設計約束和性能指標的負擔。根據應用的功率要求，對材料和設計性能的要求可以顯著提高。例如，在高功率電信和軍用雷達/干擾應用中，需要高性能水平以及極高功率水平。許多材料和技術無法承受這些應用所需的功率水平，因此必須使用專門的組件，材料和技術來滿足這些極端的應用要求。
功率計探測器的材料大致決定了功率計的整體性能，一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探測器，除此之外還有一種低偏振反映度(PDR)探測器，這種探測器是在InGaAs探測器的基礎上添加一些材料使得其對PDL非常不敏感，所以很適合用于PDL的測試。 除了材料之外，探測器面積是決定其用途的重要參數，
分立元件的局限性過去，無源元件是分立的，這意味著它們是分別制造的，并且在電路中通過印刷電路板（PCB）上的導線或電源軌相連。隨著時間的推移，它們沿著三條路徑發展演變：更小的尺寸、更低的成本和更高的性能。這些發展現在已經很成熟并經過了優化，但是占位尺寸和高度尺寸意味著分立無源元件總是限制了縮小整體解決
3.3.1 線性模型提取對于線性模型，通常可以使用n端口散射矩陣（S參數）來進行描述。S參數使用入射電壓波和反射電壓波的方式定義網絡的輸入、輸出關系，從而表征整個網絡的特性。S參數采用Touchstone文件格式，也被稱作SnP文件。使用矢量網絡分析儀，可以直接生成SnP文件。大多數無源器件都可以使
摘要 展示了一種應用于射頻微系統領域的可以集成射頻無源器件的硅基轉接板結構。該結構將電感、電容、電阻、傳輸線和 TSV 等集成在適用于微波應用的高阻硅襯底上，可實現芯片級的CMOS 、 MMIC 及 MEMS 多種不同材料器件集成。采用這種方法制備的傳輸線損耗在
光無源器件是光纖通信設備的重要組成部分，也是其它光纖應用領域不可缺少的元器件。具有高回波損耗、低插入損耗、高可靠性、穩定性、機械耐磨性和抗腐蝕性、易于操作等特點，廣泛應用于長距離通信、區域網絡及光纖到戶、視頻傳輸、光纖感測等等。
測試光源是測試系統的激勵源，由于用于測試而非用于傳輸，一般來說不需要功率太高，激光光源0dBm，寬譜源-10dBm/nm足以滿足測試要求。同樣因為是用于測試，光源的功率穩定度相當重要，除此之外還有一個相干長度的問題。其實任何激光光源都有相干長度的問題，一般FP或DFB激光光源的相干長度為1，00
使用ADI的集成無源器件（iPassives）如前所述，高質量的無源器件一直是ADI多年來眾多產品所實現的電路性能的核心。在此期間，無源器件的范圍不斷擴大并且質量不斷提高，集成無源器件產品組合現在包含大量元件。集成無源器件采用模塊化工藝，這意味著只有在需要特定元件時才需要執行生產某種類型無源器件所需
除了相干長度，激光光源信噪比是另一個關鍵參數，激光光源的信號與源自發輻射噪聲的比值(S/SSE)是限制測試動態范圍的關鍵因素。如果S/SSE只有60dB，那么當測試65dB的濾光片時由于濾光片不能濾去自發輻射噪聲，所以測試只能顯示60dB，導致測試失敗。一般而言，可調諧激光光源的S/SSE有75