功率計探測器的材料大致決定了功率計的整體性能，一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探測器，除此之外還有一種低偏振反映度(PDR)探測器，這種探測器是在InGaAs探測器的基礎上添加一些材料使得其對PDL非常不敏感，所以很適合用于PDL的測試。
除了材料之外，探測器面積是決定其用途的重要參數，探測器面積越大，其受光能力就越強，但靈敏度則會降低，反之亦然。所以一般用于校準的光功率計探測器面積都大于3mm2，用于探測很小的光功率如-100dBm光能量探測器面積一般為1mm2。一般來說如果光功率計采用裸光纖適配器，則要求光功率計探測器面積大于3mm2，否則光纖出射光很難充分耦合到探測器上，使測試重復性和可靠性大大降低。其實即使采用大面積探測器，裸光纖適配器中的光纖也極有可能觸及探測器，導致探測器老化，使測試精度降低，所以一般建議采用熔接的方法，這樣雖然增加了一次熔纖，但是確保了測試的長期穩定性和可靠性。
除了以上傳統的探測器類型，還有一種寬口徑積分球探測器技術。這種探測器的探測器面積相當于7mm2，由于采用積分球技術，所以它沒有傳統大口徑探測器的表面不均勻性、光纖對準和光纖頭容易觸及探測器表面的問題，測試重復性也是傳統探測器所無法相比的。