您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器？
在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。 奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器：Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器，而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。 SDD對比PIN：它們之間有什么差別？硅漂移檢測器（SDD）是一種較新的技術，其每秒鐘的X射線計數率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV。不過，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。 在確定哪種探測器更適合您的時候，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個重要的問題： 1、您是否需要測量一些輕元素，如：鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、磷（P）、硫（S）、氯（Cl）、鉀（K）或鈣（Ca）?這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分......閱讀全文
您的手持式XRF分析儀需要哪種探測器？
在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一。?奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器：Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器，而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。
手持式合金分析儀在廢料場有怎樣的應用場景？
在廢料場手持式合金分析儀有什么樣的應用場景？ 對于手持式合金分析儀而言，廢料場是最困難，最具應戰性的環境之一。 每天都有轟動，下跌，振動，下雨，塵埃和尖利物體的風險。經過一些預防措施，適當的培訓和一些知識，能夠防止許多事端，但事端的確仍然產生。 現代手持式儀器旨在在惡劣的環境下在戶外運用，
手持式XRF分析儀中的準確度和精密度有什么區別
在使用手持式X射線熒光(XRF)分析儀評估分析結果時，了解準確度和精密度之間的區別非常重要。 精密度是可重復性的一種度量，或者說一個檢測結果與另一個檢測結果的相近程度。而準確度要表明的是所獲得的結果是否準確地反映了實際情況(接近真值)。當然，我們希望任何分析技術都能提供優質的精密度和準確度。 了
手持式XRF的應用領域及特點是怎樣的
手持式XRF儀器可進行快速、無損、高精度的檢測，廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域,特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。 xrf.jpg 1、合金材料分析 目前在合金材料檢測領域，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料
為您提供土壤污染現場篩查的解決方案
隨著全球建筑業的蓬勃發展，尤其是在中國、菲律賓和英國這樣的國家，相關機構需要看他們如何去管理建筑工地現場污染物的篩查。?多年來重元素被用在許多工業，農業，及國內的應用。這有時導致它們在特定的地理區域，如舊工業或采礦地點積累。?由于其對人類健康的有害影響，世界各地許多公共衛生和環境部門已制定了土壤篩選
XRF分析儀需要具備的主要特性
1. 檢測迅速 2. 堅固耐用 在惡劣工業環境中進行的要求嚴苛的應用，需要分析儀具有堅固耐用的特性。 3. 連通性能 4. 智能軟件 類似智能手機的用戶界面，使用非常方便，初學的操作人員只需很少的培訓，即可自如操作。分析儀的屏幕上直接顯示清晰的檢測結果，其中包括牌號識別信息、規格比較信息及
值得收藏！一文了解XRF前世今生及主流產品
主要廠商及產品XRF中便攜式X射線熒光是主要類型，約占40%。本文對主要手持式 XRF產品（均為EDXRF）制造商及拳頭產品進行總結，以供讀者參考。更多XRF產品的介紹請見續篇。品牌型號特點賽默飛Niton? XL5 Plus2021年發布，重2.8磅，1~2秒牌號鑒別，可靠的元素分析（包括輕元素）
浪聲：對XRF品質的信心支撐我們主攻海外市場
分析測試百科網訊 2016年5月31日，國務院印發《土壤污染防治行動計劃》（簡稱“土十條”）（詳見本網報道：千呼萬喚始出來 《土十條》正式出臺），土十條中提到，要開展土壤污染調查，掌握土壤環境質量狀況，建設土壤環境質量監測網絡，開展污染治理與修復工作等一系列工作。這些工作中涉及到多項分析儀器，而
GENIUS XRF系列新品閃耀登場
RoHS 合金 地礦 土壤 精準檢測、10秒到位 GENIUS XRF系列新品閃耀登場 經過近一年的前瞻性研發，天瑞儀器向市場正式推出GENIUS XRF系列產品，該系列是在原有手持三代基礎上創新升級而成，故也被稱為手持四代x熒光分析儀。 手持式產品一直是天瑞傳統優勢產品之一，其便攜小巧
手持式合金分析儀簡介和基本原理
手持式合金分析儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。 基本原理 手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從