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    如何選購合適的白光干涉儀?

    (1)精度。精度高的白光干涉儀是較好的白光干涉儀。為什么這么說呢?這么說并非說白光干涉儀的其他功用不重要,咱們都知道任何一款電子衡器其構成結構多大同小異的,而許多產品不同只是用材的差異性,并非技能型的差異性。但精度這個不是單獨用材就能夠處理的,它是一款白光干涉儀的規范,因而也決定其價格。 (2)靈敏度。針對大部分用戶來說,選購白光干涉儀批量的用戶大多是企業的收購方;而企業要用來進行大規模的稱重作業天然要以節省時刻為主。 (3)安穩性。一個白光干涉儀能夠不把安穩性放在榜首位,那并不代表安穩性不重要,只能說先要滿足以上兩條,那么這個秤的安穩性才具有意義。一旦以上兩條都滿足了,那么安穩性也是舉足輕重的地位了。它們常常會使得稱重進程中減少了無數的煩惱,數據差錯,丈量成果也因而減少了累計差錯,然后防止了最終演變秤稱重數據過錯。......閱讀全文

    白光干涉儀該怎樣選購呢?

      白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光,分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光,并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉,在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干

    白光干涉儀該怎樣選購?

    白光干涉儀是利用光學干涉原理研制開發的超精密表面輪廓測量儀器。照明光束經半反半透分光鏡分威兩束光,分別投射到樣品表面和參考鏡表面。從兩個表面反射的兩束光再次通過分光鏡后合成一束光,并由成像系統在CCD相機感光面形成兩個疊加的像。由于兩束光相互干涉,在CCD相機感光面會觀察到明暗相間的干涉條紋。干涉條

    ElliTOP量拓:橢偏測量的開拓者

      光偏振現象的應用在日常生活中無處不在,比如液晶顯示屏、3D眼鏡等;在光伏、納米、半導體芯片等高端制造中,也常用到一種利用光偏振現象的儀器,那就是橢偏儀,它最拿手的就是測量納米級薄膜的厚度、折射率、消光系數等參數。橢偏儀為非接觸

    白光干涉儀優勢及應用領域

      白光干涉儀優勢:   價格優勢:市場上性價比的白光干涉儀。   簡單易用:只需將樣品放置于樣品臺上,即可直接進行測量;   可以測量非接觸式非平坦樣品:由于光學輪廓測量法是一種非接觸式技術,可以輕松測量彎曲和其他非平面表面。還輕松地測量曲面的表面光潔

    布魯克三維光學輪廓儀在光學領域的一些應用

       光學元件在各個領域都有廣泛應用,對光學元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測光學元件的加工精度,從而用于優化加工方法,保證最終元器件的性能指標,是光學元件加工領域的關鍵問題之一。    光學元件的加工精度包括表面質量和面型精度,這些參數會影響其對光信號的傳播,進而影響最終器件的性能。

    布魯克三維光學輪廓儀在光學領域的一些應用

        光學元件在各個領域都有廣泛應用,對光學元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測光學元件的加工精度,從而用于優化加工方法,保證最終元器件的性能指標,是光學元件加工領域的關鍵問題之一。      光學元件的加工精度包括表面質量和面型

    布魯克三維光學輪廓儀在光學領域的一些應用

       光學元件在各個領域都有廣泛應用,對光學元件的表面加工精度提出越來越高的要求。如何檢測光學元件的加工精度,從而用于優化加工方法,保證最終元器件的性能指標,是光學元件加工領域的關鍵問題之一。    光學元件的加工精度包括表面質量和面型精度,這些參數會影響其對光信號的傳播,進而影響最終器件的性能。

    表面粗糙度測量儀器介紹

    近二十年來,精密和超精密加工技術行業對表面質量和性能的評價,提出了越來越高的要求,表面測量技術因此由傳統的二維接觸式向三維光學非接觸式測量發展。接觸式測量是從1927年就開始采用的傳統粗糙度測量方法,其測量原理是:當驅動器帶動傳感器沿工件被測表面作勻速運動時,傳感器的測針隨工件表面的微觀起伏作上下運

    白光干涉儀的原理及維護

      白光干涉儀工作原理:是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此

    Control China 汽車行業用戶和測量測試行業廠商交流會

    汽車行業用戶和測量測試行業廠商交流會2012年8月15日2012國際質量檢測分析技術及測量測試儀器儀表展覽會會議邀請函Control China 2012  由中國汽車工程學會檢測專業委員會主任朱正德高工主持的交流會將于2012年8月15日在上海新國際博覽中心  CONTROL CHINA測量測試展

    鉑悅儀器攜手Bruker開展技術應用培訓

      2011年12月7日,布魯克(Buker)應用專家黃博士親臨鉑悅儀器(上海)有限公司,對鉑悅儀器同事進行全面的技術應用培訓。培訓期間,鉑悅儀器同事針對平時客戶檢測問題進行深入探討。相信此次培訓,更一步全面提高了鉑悅儀器同事對Bruker產品的深入認識,從而更好的為客戶提供解決方案。  

    鉑悅儀器參加第十四屆中國國際光電博覽會

      2012年9月6日-9日,鉑悅儀器參加了在深圳會展中心舉行的第十四屆中國國際光電博覽會,本次展會上鉑悅儀器展出了布魯克XT臺階儀、光學輪廓儀、牛津激光鉆孔機、PECVD等。   布魯克(Buker)是表面觀測和測量技術的全球領導者,服務于科研和生產領域。我們的產品包括匯聚了前十代產品經驗于一身

    共聚焦輪廓儀

    產品名稱:共聚焦輪廓儀產品型號:PZ-3010D產品簡介:使用sensofar有技術開發的Neox光學輪廓儀,集成了共聚焦計數和干涉測量技術,并具有薄膜測量能力,該系統可以用于標準的明場彩色顯微成像,共焦成像,三維共焦建模,PSI、VSI及高分辨率薄膜厚度測量。產品概述&參數產品特點:共聚焦

    德國polytec激光測振儀系列簡介

      瑞軒電子科技(上海)有限公司-------國內一線儀器儀表供應商專業提供 歡迎前來咨詢   是全國儀器儀表行業“產品研發、銷售、技術培訓、設備維修”為一體供應商   公司主要經營:   一、傳感與測量儀器 (GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,H

    布魯克推出Contour Elite 3D光學顯微鏡

    Contour Elite 3D光學顯微鏡  布魯克公司近日宣布推出新型Contour Elite 3D光學顯微鏡,這款儀器首次實現了高清顯微成像技術與3D光學計量功能的結合。  這是布魯克最新一代的干涉測量光學技術,其支持高速運行、高精度和可重復性,并擁有頂尖研發、達到生產QC要求,以及

    我國在多焦點仿生復眼光學元件設計和制備上取得進展

      隨著現今微光機電系統技術的迅猛發展,人們對光學成像系統的要求越來越高,如導航系統、微型廣角監視設備、內視鏡等領域,希望整個系統的體積小、重量輕、視場大以及靈敏度高。新型的仿生復眼成像系統,利用光電元件代替昆蟲復眼中的對應結構,將對系統的探測感知能力帶來革命性提高,從而為導航系統、微型廣角監視設備

    光學經典理論|光學色散詳解

      什么是光的色散?在光學中,將復色光分解成單色光的過程,叫光的色散。  光的色散指的是復色光分解為單色光的現象;復色光通過棱鏡分解成單色光的現象;光纖中由光源光譜成分中不同波長的不同群速度所引起的光脈沖展寬的現象。  色散也是對光纖的一個傳播參數與波長關系的描述。牛頓在1666年最先利用三棱鏡觀察

    傅里葉紅外光譜儀測試原理及常用制樣方法

      傅里葉變換紅外光譜儀由邁克耳遜干涉儀和數據處理系統組合而成,它的工作原理就是邁克耳遜干涉儀的原理。   邁克耳遜干涉儀的光路如圖所示,圖中已調到M2與M1垂直。∑是面光源(由被單色光或白光照亮的一塊毛玻璃充當),面上每一點都向各個方向射出光線,又稱擴展光源,圖中只畫出由S點射出光線中的一條來

    邁克爾遜干涉儀工作原理

      邁克爾遜干涉儀,是1883年美國物理學家邁克爾遜和莫雷合作,為研究“以太”漂移而設計制造出來的精密光學儀器。它是利用分振幅法產生雙光束以實現干涉。通過調整該干涉儀,可以產生等厚干涉條紋,也可以產生等傾干涉條紋。主要用于長度和折射率的測量,若觀察到干涉條紋移動一條,便是M2的動臂移動量為λ/2,等

    如何判斷是否是真正的三波段測油儀呢?

    測油儀實質就是根據特殊情況的需要,限定了波長范圍的紅外光譜儀。具有專業性強、穩定性好、快速、簡便等特點。因此如何認識紅外測油儀先要對紅外光譜儀有所了解。紅外光譜儀的主要原理:由于物質在紅外光照射下,只能吸收與其分子振動、轉動頻率相一致的紅外光線,因此不同物質只能吸收一定波長的入射光而形成各自特征的紅

    LUMOS全自動獨立式傅立葉變換紅外顯微鏡技術細節

    LUMOS是一款全自動的獨立式紅外顯微鏡,它將紅外光譜儀與顯微鏡的光學設計完美結合。所有部件都實現了自動化控制并配以電子編碼。LUMOS采用了自動化控制ATR晶體,該革命性的創新設計確保了用戶無需任何手動操作便可實現從透射到反射到ATR模式的自動切換,或是ATR模式下背景和樣品的自動轉換和測量

    傅里葉紅外光譜儀組成

    對干涉圖進行傅里葉變換的計算非常復雜,處理的數據量很大,在20世紀70年代以前,由于計算機的計算速度無法滿足干涉圖的傅里葉變換處理要求,因此傅里葉變換紅外光譜法無法在實際工作中得到應用。直到70年代中后期,隨著計算機技術的發展,FTIR儀才開始面世,采用專為儀器配置的計算機。直至80年代末90年代初

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