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能譜儀結構及工作原理 X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常稱為X射線能譜分析法，簡稱EDS或EDX方法。它是分析電子顯微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被廣泛使用。 1。特征X射線的產生 特征X射線的產生是入射電子使內層電子激發而發生的現象。即內殼層電子被轟擊后跳到比費米能高的能級上，電子軌道內出現的空位被外殼層軌道的電子填入時，作為多余的能量放出的就是特征X射線。高能級的電子落入空位時，要遵從所謂的選擇規則(selectionrule)，只允許滿足軌道量子數l的變化 l=±1的特定躍遷。特征X射線具有元素固有的能量，所以，將它們展開成能譜后，根據它的能量值就可以確定元素的種類，而且根據譜的強度分析就可以確定其含量。另外，從空位在內殼層形成的激發狀態變到基態的過程中，除產生X射線外，還放出俄歇電子。一般來說，隨著原子序數增加，X射線產生的幾率(熒光產額)......閱讀全文
X射線譜儀簡介編輯X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性 [1] 。X射線譜儀指向月面，由16
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法
X熒光光譜儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
工作原理分析由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長，并滿足以下關系：通過探測這些不同波長的X射線來確定樣品中所含有的元素，這就是電子探針定性分析的依據。而將被測樣品與標準樣品中元素Y的衍射強度進行對比，即:就能進行電子探針的定量分析。 當然利用電子束激發的X射線進行元
軟X射線能譜測量是ICF實驗中的重要內容,測量意義重大。軟X射線能診斷通過光譜分析,可以得到X射線總的通量,輻射溫度,轉換效率以及反照率。這些都是間接驅動黑腔熱力學的重要參數。作為黑體腔特征診斷系統,軟X射線能診斷系統測量黑體腔中發射出的X射線,可得出黑腔中輻射溫度的時間變化圖。針對目前常用的譜儀往
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
諾貝爾獎是以瑞典著名的化學家 阿爾弗雷德·貝恩哈德·諾貝爾的部分遺產（3100萬瑞典克朗）作為基金在1900年創立的。該獎項授予世界上在物理、化學、生理學或醫學、文學、和平和經濟學六個領域對人類做出重大貢獻的人，于1901年首次頒發，截止2016年共授予了881位個人和23個團體。今天我們將盤點
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
3、檢測記錄系統X射線熒光光譜儀用的檢測器有流氣正比計數器和閃爍計數器。上圖是流氣正比計數器結構示意圖。它主要由金屬圓筒負極和芯線正極組成,筒內充氬（90%）和甲烷（10%）的混合氣體，X射線射入管內，使Ar原子電離,生成的Ar+在向陰極運動時，又引起其它Ar原子電離，雪崩式電離的結果，產生一脈沖信
元素分析的基礎 X射線的產生當電子射入物質后，從物質表面會發射出各種電子、光子及X射線等電磁波。如圖49所示，由于入射電子的作用，內層電子處于激發態，外層電子向內躍遷填補有空位的軌道時，會產生等同于能量差的X射線，這就是特征X射線。 由于X射線具有元素特有的能量（波長），通過對X
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
波譜儀 波譜儀全稱為波長分散譜儀(WDS)。 在電子探針中，X射線是由樣品表面以下 m數量級的作用體積中激發出來的,如果這個體積中的樣品是由多種元素組成，則可激發出各個相應元素的特征X射線。 被激發的特征X射線照射到連續轉動的分光晶體上實現分光（色散），即不同波長的X射線將在各自滿足布拉格
一,能譜儀 能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀,其關鍵部件是Si(Li)檢測器,即鋰漂移硅固態檢測器,它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點： (1)分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，
能譜儀全稱為能量分散譜儀(EDS)。 目前最常用的是Si(Li)X射線能譜儀，其關鍵部件是Si(Li)檢測器，即鋰漂移硅固態檢測器，它實際上是一個以Li為施主雜質的n-i-p型二極管。 Si(Li)能譜儀的優點 分析速度快 能譜儀可以同時接受和檢測所有不同能量的X射線光子信號，故可在幾分
眾所周知，熱分析儀器可以和很多分析類儀器聯用。比較常見的有：紅外光譜（FTIR）、氣相色譜（Gas Chromatography）、質譜（Mass Spectrometry）、顯微鏡等。通過和這些分析儀器聯用可以彌補熱分析儀器的一些局限性，更有效地分析樣品的物理、化學特性。然而，在材料分析中，X射線
能譜儀結構及工作原理 X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常稱為X射線能譜分析法，簡稱EDS或EDX方法。它是分析電子顯微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被廣泛使用。 1。特征X射線的產生 特征X射線的產生是入射電子使內層電子
Thermo Scientific QuasOr 電子背散射衍射【品牌】賽默飛【型號】Thermo Scientific QuasOr電子背散射衍射EBSD在掃描電子顯微鏡下通過對多種材料物理屬性有影響的晶體結構表征用以做微區納米結構分析，特別是當它與微區能譜和波譜配合形成一體化綜合分析時，其漸已成
Thermo Scientific QuasOr 電子背散射衍射【品牌】賽默飛【型號】Thermo Scientific QuasOr電子背散射衍射EBSD在掃描電子顯微鏡下通過對多種材料物理屬性有影響的晶體結構表征用以做微區納米結構分析，特別是當它與微區能譜和波譜配合形成一體化綜合分析時，其漸已成
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
由于各種物質受激發發出的X/γ射線不同，嫦娥一號衛星通過X/γ射線譜儀，分析月球表面的礦物組成和巖石類型，評估其鐵、鈦等14種元素含量和物質類型分布特點，初步了解月球的構成和資源。 為什么一項任務要用兩個設備來共同完成呢？γ射線譜儀分系統主任設計師常進向《科學時報》記者解釋道：“兩個設備的探測能量
紅外光譜樣品制備 紅外光譜是未知化合物結構鑒定的一種強有力的工具，尤其近幾年來各種取樣技術和聯用技術的迅速發展，使得它成為分析化學應用中最廣泛的儀器之一。 樣品要求： 1、氣體、液體（透明，糊狀）、固體（粉末、粒狀、片狀…）。 氣體樣品：采用氣體吸收池進行測試，吸收峰的強度可以通過調整氣
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
2013年12月24日， 2013年度北京市電子顯微學年會在北京天文館隆重召開，來自科研院所、高等院校、儀器耗材廠商的200余位電子顯微學專家學者、技術工程師，參加了此次電子顯微學年會。大會當日下午，來自中國地質科學院的周劍雄老師，布魯克公司的劉軍濤先生、牛津公司的孟麗君女士、北京建筑
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色
1 掃描電鏡原理 掃描電鏡(Scanning Electron Microscope,簡寫為SEM)是一個復雜的系統,濃縮了電子光學技術真空技術、精細機械結構以及現代計算機控制技術。成像是采用二次電子或背散射電子等工作方式,隨著掃描電鏡的發展和應用的拓展,相繼發展了宏觀斷口學和顯微斷口學。
一種金屬或合金的性能取決于其本身的兩個屬性：一個是它的化學成分，另一個是它內部的組織結構。所以，對金屬材料的成分和組織結構進行精確表征是金屬材料研究的基本要求，也是實現性能控制的前提。材料分析的內容主要包括形貌分析、物相分析、成分分析、熱性能分析、電性能分析等。本文就金屬材料的形貌分析、物相分析