成分分析的四大神器—XRF、ICP、EDX和WDX
X射線熒光光譜儀(XRF) XRF指的是X射線熒光光譜儀，可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。從不同的角度來觀察描述X射線，可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀，縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光譜儀，可縮寫為WDXRF或WDX，但市面上用的較多的為EDX。 WDX用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如分光晶體和探測器做同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，并以此進行定性和定量分析。EDX用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線進入Si（Li）探測器，便可進行定性和定量分析。EDX體積小，價格相對較低，檢測速度比較快，但分辨率沒有WDX好。 近些年，X射線熒光光譜技術飛躍發展，在多項核心技術取得突破，例如，硅漂移探測器SDD（Sil......閱讀全文
基于X射線熒光的指紋元素成像
中國科學院高能物理研究所王萌研究員 中國科學院高能物理研究所王萌研究員發表主題為“基于X射線熒光的指紋元素成像”的精彩報告。指紋中化學元素可為科學研究和應用提供豐富信息。應用同步輻射X射線熒光儀可分析指紋元素，生成元素成像圖。課題組分析了在不同基底上的防曬霜指紋，得到了鈦和鋅的指紋成像圖
元素含量與特征X射線強度的關系
不同元素特征X射線能量各不相同，依此進行定性分析；再根據特征X射線強度大小，可進行定量分析。 可用函數關系式表示為：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...) 式中：Kn(n=1,2,3…)表示第n號元素的待定系數In(n=1,2,3…)表示第n號元素釋放的特征X射線強度。由此可知只要通
X射線熒光光譜法---痕量元素測定
在物質成分的分析方面主要包括克服基體效應的基礎研究和擴大分析應用范圍兩方面。現在，基體效應的數學校正法正在通過校正模型的更深入研究和計算機軟件的進一步開發，向更高水平的方向發展。而且,隨著制樣技術的逐步自動化,各種物理化學前處理方法的改進，對于擴大分析含量范圍，包括進一步開展痕量元素測定等工作，
X射線熒光光譜儀測量元素范圍
X射線熒光光譜儀可以對各種樣品的元素組成進行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達到了檢測限低和測量時間短的效果。輕元素的zui佳檢測也通過優激發、檢測和真空模式的結合而實現所以成本低。 X射線熒光分析儀測量元素范圍：原子序數為9～92[氟（F）到鈾（
X射線熒光光譜儀可以測哪些元素
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素周期表上11~19號元素）
X射線熒光光譜儀可以測哪些元素
一般從鈉（11）~鈾（92）之間的元素都可以測試（元素周期表上11~19號元素）
軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量
本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Ｚ箍縮Ｘ射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖Ｘ射線能量進行了測量并討論了其結果。
X射線光譜
1914年，英國物理學家莫塞萊（Henry Moseley,1887-1915）用布拉格X射線光譜儀研究不同元素的X射線，取得了重大成果。莫塞萊發現，以不同元素作為產生X射線的靶時，所產生的特征X射線的波長不同。他把各種元素按所產生的特征X射線的波長排列后，發現其次序與元素周期表中的次序一致，他稱這
X射線診斷
X射線應用于醫學診斷[6]，主要依據X射線的穿透作用、差別吸收、感光作用和熒光作用。由于X射線穿過人體時，受到不同程度的吸收，如骨骼吸收的X射線量比肌肉吸收的量要多，那么通過人體后的X射線量就不一樣，這樣便攜帶了人體各部密度分布的信息，在熒光屏上或攝影膠片上引起的熒光作用或感光作用的強弱就有較大
X射線治療
X射線應用于治療[7]，主要依據其生物效應，應用不同能量的X射線對人體病灶部分的細胞組織進行照射時，即可使被照射的細胞組織受到破壞或抑制，從而達到對某些疾病，特別是腫瘤的治療目的。