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biaomian fenxi 表面分析 surface analysis 對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進行組分、結構和能態等分析的 材料物理試驗。表面分析方法有數十種，常用的有離子 探針、 俄歇電子能譜分析和 X射線光電子能譜分析,其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能 電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及 場離子顯微鏡分析等。這些表面分析方法的基本原理，大多是以一定能量的電子、離子、光子等與固體表面 相互作用，然后分析固體表面所放射出的電子、離子、光子等，從而得到有關的各種信息。 離子探針分析 又稱離子探針顯微分析。它是利用電子光學方法將某些惰性氣體或氧的離子加速并聚焦成細小的高能離子束來轟擊 試樣表面，使之激發和濺射出二次離子，用 質譜儀對具有不同質荷比(質量／電荷)的離子進行分離，以檢測在幾個原子深度、數微米范圍內的微區的全部元素，并可確定同位素。它的檢測靈敏度高于 電子探針(見電子探......閱讀全文
分析測試百科網訊 2016年4月22-26日，2016全國表面分析應用技術學術交流會在古都西安召開。交流會由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、中國科學院化學研究所、北京師范大學、北京化工大學、廣東省表面分析專業
一、質譜成像技術簡介 成像質譜(IMS)是一種非常靈敏的分子成像技術，可提供組合的分子信息和空間分辨率。它允許從組織切片、單細胞或其他物質表面直接鑒定和定位化合物分子。成像質譜研究的核心特點是質譜儀的高靈敏度、技術的無標簽性、對肽和蛋白質的成像能力，以及從個體水平(幾百微米)到細胞水平(幾十納
蕙質蘭心 勤思敏行 ——記國家大型科學儀器中心—北京電子能譜中心副主任姚文清 “景昃鳴禽集，水木湛清華。”美麗的清華園作為中國乃至亞洲最著名的高等學府之一，在長達百年的辦學歷史中，培育出了眾多精英，為我國的建設發展做出了不可磨滅的貢獻。筆者眼前這位優雅從容、學識淵博的女性高級工程師姚文清，正
固體表面附近的幾個原子層內具有許多與體內不同的性質（如化學組成、原子排列、電子狀態等等）。 在表面附近，由于垂直于表面方向的晶體周期性發生中斷，相應的電子密度分布也將發生變化，從而形成一空間突變的二維區域。材料的許多重要物理化學過程首先發生在這一區域，材料的許多破壞和失效也起源于表面和界面，例
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。中文名 二次離子
最近幾十年隨著納米材料研究的興起與發展,材料表面與其所處的環境相互作用所導致的表面性質越來越吸引研究者的目光。一大批專門表征材料表面的分析手段被發明,而對這些表面分析手段的進一步研究,逐漸成為物理領域中的一個重要分支-表面分析科學。在表面分析領域的種種表征手段中,表面電子能譜分析技術應用相當廣泛。表
材料表面分析技術是通過分析探束或探針與材料表面發生作用產生的許多信息而研究表面的。主要分為表面形貌分析、表面組分分析和表面結構分析等幾大部分,其中表面形貌分析技術有掃描電鏡、透射電鏡、掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡等;表面組分分析技術主要有俄歇電子能譜、光電子能譜、二次離子質譜、電子探針顯微分析、離子
成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
編者按：本文原文發表于《質譜學報》2017年第1月（第38卷第一期），分析測試百科網獲授權轉載該文。在轉載時，為方便互聯網讀者對文章的閱讀，文章去掉了英文摘要、引用文獻等內容。如果您希望獲得原始完整文章，可聯系本網站（郵箱：news@antpedia.net）。 作者：黃鑫，劉文龍，張勇，長春
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以
拉曼光譜的原理及應用 拉曼光譜由于近幾年來以下幾項技術的集中發展而有了更廣泛的應用。這些技術是：CCD檢測系統在近紅外區域的高靈敏性，體積小而功率大的二極管激光器，與激發激光及信號過濾整合的光纖探頭。這些產品連同高口徑短焦距的分光光度計，提供了低熒光本底而高質量的拉曼光譜以及體積小、容易使用的
2014年5月13日，《液滴萃取表面分析：新穎的質譜分析工具》技術研討會在中國醫學科學院藥物研究所舉辦，中國醫學科學院藥物研究所的賀玖明副研究員主持了本次會議，來自美國Advion公司的產品經理Daniel Eikel博士在會上介紹了質譜分析的新工具——液體萃取表面分析（LE
應用領域結合特異性、抗體選擇、抗體質控、疾病機制、藥物發明、生物治療、生物處理、生物標記物、配體垂釣、基因調控、細胞信號傳導、親和層析、結構-功能關系、小分子間相互作用等檢測原理表面等離子共振（SPR）是一種光學現象，可被用來實時跟蹤在天然狀態下生物分子間的相互作用。這種方法對生物分子無任何損傷，且
表面分析是對固體表面或界面上只有幾個原子層厚的薄層進行組分、結構和能態等分析的材料物理試驗。也是一種利用分析手段，揭示材料及其制品的表面形貌、成分、結構或狀態的技術。中文名：表面分析外文名：surface analysis分析內容：表面化學組成、表面原子態等方 法：離子探針、AES、XP
紅外光譜的原理及應用 (一)紅外吸收光譜的定義及產生 分子的振動能量比轉動能量大，當發生振動能級躍遷時，不可避免地伴隨有轉動能級的躍遷，所以無法測量純粹的振動光譜，而只能得到分子的振動-轉動光譜，這種光譜稱為紅外吸收光譜 紅外吸收光譜也是一種分子吸收光譜。當樣品受到頻率連續變化的紅外光照射
屏顯摩擦磨損試驗機進行試驗的時候，由于摩擦現象發生在表面層，表層組織結構的變化是研究摩擦磨損規律和機理的關鍵，現代表面測試技術已先后用來研究摩擦表面的各種現象。小編首先和大家了解一下*種分析方法——摩擦磨損表面形貌的分析 摩擦過程中表面形貌的變化可以采用表面輪廓儀和電子顯微鏡來進行分析。 表面
⒉敞開式離子化質譜技術在中草藥研究中的應用建立一種新的方法,能夠對中草藥中的藥效成分和雜質進行分析,這對于中草藥的質量評價和質量控制有重要意義。敞開式離子化質譜技術的發展為中草藥分析提供了一種快速、直接的手段。本文綜述了不同類型敞開式離子化質譜在中草藥分析中的應用,并對典型分析案例加以討論。⑴直接電
二次離子質譜是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分析吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子，通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。它利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚
2013年8月20-21日，“2013全國表面分析科學與技術應用學術會議暨表面分析國家標準宣貫及X射線光電子能譜（XPS）高端研修班”在北京西郊賓館召開，由高校分析測試中心研究會、全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會主辦，國家大型科學儀器中心-北京電子能譜中心、北京師范大學
基于芯片多通道納噴質譜的液滴萃取表面分析（LESA） 華質泰科生物技術（北京）有限公司首席技術官劉春勝博士為大家作了題為《基于芯片多通道納噴質譜的液滴萃取表面分析（LESA）》的報告，主要介紹了芯片多通道納噴離子源（TriVersa NanoMa
SL150系列為入門級光學接觸角儀，具有非常高的性價比，可用于測試接觸角儀以及界面張力值，是美國科諾長期經驗總結的基礎上研制的基于標準影像分析法原理的界面化學測試系統。模塊化的設計理念，可為客戶提供多達幾萬種不同的組合形式，是您進行界面化學研究并對控制精度有較高要求時的首選儀器。儀器整機由精密光學機
SL150系列為入門級接觸角儀，具有非常高的性價比，可用于測試接觸角儀以及界面張力值，是美國科諾長期經驗總結的基礎上研制的基于標準影像分析法原理的界面化學測試系統。模塊化的設計理念，可為客戶提供多達幾萬種不同的組合形式，是您進行界面化學研究并對控制精度有較高要求時的首選儀器。儀器整機由精密光學機械結
(三)X射線光電子能譜法的應用 (1)元素定性分析 各種元素都有它的特征的電子結合能，因此，在能譜圖中就出現特征譜線，可以根據這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除H和He以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描，在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素。 (2)元
二次離子質譜Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)1 引言:離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加
在許多材料的研究與應用中，需要用到一些特殊的儀器來對各種材料從成分和結構等方面進行分析研究。 其中，X射線能譜儀(XPS)就是常用儀器之一。下面詳細介紹一下X射線能譜儀的基本原理、結構、優缺點及應用。 X射線光電子能譜(XPS)也被稱作化學分析用電子能譜(ESCA)。該方法