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    馬赫秦特干涉儀概述

    一種分振幅雙光束干涉儀。由馬赫和秦特在1892年研制而成。這種干涉儀的原理如圖所示。D1和D2為兩塊分光板,M1和M2為兩塊平面鏡,這四個反射面接近平行,而且它們的中心分別位于一個平行四邊形的四個頂點。單色點光源S位于準直透鏡L1的前焦面上,S發出的光通過L1后成為平行光,在D1的前表面分成反射光和透射光。反射光被M2反射,透過D2,射向物鏡L2;透射光被M1和D2反射,也射向L2。兩束光在L2的后焦面P相遇,產生干涉。測量時,將M2和D2稍作傾斜,使視場內只出現幾條等距直條紋。這種干涉儀主要用來研究空洞中飛機或導彈模型周圍的氣流分布。風洞T1和補償氣室T2分別置于兩條光路中,氣流高速流過風洞中的模型,氣流的速度分布形成壓力分布,從而影響密度分布,使折射率出現變化,光線的光程也因此發生變化,使干涉條紋也出現變化。根據干涉條紋的照片,就可分析氣流的分布。與邁克耳孫干涉儀相比,馬赫-秦特干涉儀的光能利用率較高,光只通過每條路徑一......閱讀全文

    馬赫秦特干涉儀概述

      一種分振幅雙光束干涉儀。由馬赫和秦特在1892年研制而成。這種干涉儀的原理如圖所示。D1和D2為兩塊分光板,M1和M2為兩塊平面鏡,這四個反射面接近平行,而且它們的中心分別位于一個平行四邊形的四個頂點。單色點光源S位于準直透鏡L1的前焦面上,S發出的光通過L1后成為平行光,在D1的前表面分成反射

    馬赫-曾德爾干涉儀簡介

      馬赫-曾德爾干涉儀(Mach–Zehnder interferometer)是一種干涉儀,可以用來觀測從單獨光源發射的光束分裂成兩道準直光束之后,經過不同路徑與介質所產生的相對相移變化。這儀器是因德國物理學者路德維希·馬赫(恩斯特·馬赫之子)和路德維·曾德爾而命名。曾德爾首先于1891年提出這構

    馬赫曾德干涉儀相關介紹

      馬赫——曾德干涉儀(Mach-Zehnder; inter-ferometer)是用分振幅法產生雙 光束以實現干涉的儀器  1800年,托馬斯·楊發表了《在聲和光方面的實驗與問題》的論文,認為光與聲都是波,光是以太介質中傳播的縱振動,不同顏色的光與不同頻率的聲音是相類似的。他在分析了水波的疊加現

    馬赫曾德干涉儀的歷史簡介

      1802年,托馬斯·楊在英國皇家學會講演時,引用自己所做的雙孔(雙縫)干涉實驗。他說:“為使這兩部分光在屏幕上引起的效果疊加起來,需要使來自同一光源、經過不同路徑的光到達同一區域,而不使其相離散,如有離散,也能根據回折、反射或折射把光從一方或從兩方重合起來,將它們的效果疊加。但是,最簡單的辦法是

    針對馬赫曾德干涉儀實驗分析

      第一個實驗將木板套窗打開一個孔,在上面糊上一張厚紙,在厚紙上用針尖鉆個孔,為了觀察方便起見,在木板套窗外的一個適當位置放一個小鏡子,從那里反射的太陽光按水平方向射到對面的墻壁上,并且將1/30英寸細長紙片插入太陽光中觀察。映在墻壁上或放在各種不同距離上的其它厚紙的影子,除了陰影的兩側邊緣之外,那

    馬赫曾德干涉儀干涉原理簡介

      馬赫—曾德干涉儀由于不帶有纖端反射鏡,需要增加一個3dB分路器,如下圖。光源發出的相干光經3dB分路器分為光強1:1的兩束光分別進入信號臂光纖和參考臂光纖,兩束光經第二個3dB分路器匯合相干形成干涉條紋。M—Z干涉儀的優點是不帶纖端反射鏡,克服了邁克耳遜干涉儀回波干擾的缺點,因而在光纖傳感技術領

    雙光束干涉儀的長度測量和折射率測定

      長度測量  在雙光束干涉儀中,若介質折射率均勻且保持恒定,則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發生變化所造成,根據條紋的移動數可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。  折射率測定  兩光束的幾何路程保持不變,介質折射率變化也可導

    關于馬赫曾德干涉儀干涉原理簡述

      托馬斯·楊用紅光照射雙孔,觀察通過雙孔后的光在屏幕上形成的光帶。他遮住一個針孔時,屏上只有一個紅的光強均勻的光點;當兩個孔均不遮掩時,屏上兩個光點重合區出現了紅黑交替的光帶,紅帶相當明亮,其寬度相等,同時,各黑帶的寬度也相等,并且等于紅帶的寬度。  根據各種實驗比較,組成極端紅光的波長,在空氣中

    馬赫-曾德爾干涉儀的特點簡介

      準直光源會形成非局域條紋圖案;延伸光源會形成局域條紋圖案。仔細調整鏡子與分束器的取向,即可使干涉條紋形成于指定局域位置。對于大多數案例,通過調整的動作,可使干涉條紋形成的平面與檢驗物體同面,這樣,兩者可以一起成像。  馬曾干涉儀的內部工作空間相當寬廣,干涉條紋的形成位置有很多種選擇,因此,它是觀

    馬赫-曾德爾干涉儀的結構和應用

      儀器內構  一道準直光束被第一塊半鍍銀鏡分裂成兩道光束,稱為“樣品光束”與“參考光束”。這兩道光束分別被兩塊鏡子反射后,又通過同樣的第二塊半鍍銀鏡,然后進入檢測器。  除了最后一塊半鍍銀鏡以外,所有全鍍銀鏡與半鍍銀鏡的表面都是面對入射光束。最后一塊半鍍銀鏡的表面是面對透射過第一塊半鍍銀鏡的光束。

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