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掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢測技術、精密機械設計和加工、自動控制技術、數字信號處理技術、應用光學技術、計算機高速采集和控制及高分辨圖形處理技術等現代科技成果的光、機、電一體化的高科技產品。......閱讀全文
掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發展起來的各種新型探針顯微鏡（原子力顯微鏡AFM,激光力顯微鏡LFM，磁力顯微鏡MFM等等）的統稱，是國際上近年發展起來的表面分析儀器，是綜合運用光電子技術、激光技術、微弱信號檢
掃描探針顯微鏡和掃描探針顯微鏡的光軸調整方法。提供能夠使用配置于掃描探針顯微鏡的物鏡來自動地進行光杠桿的光軸調整的掃描探針顯微鏡和其光軸調整方法。是一種掃描探針顯微鏡（100），所述掃描探針顯微鏡（100）具備：懸臂支承部（11），以規定的安裝角（θ）安裝懸臂（4）；移動機構（21），對懸臂的位置進
掃描探針顯微鏡以其分辨率極高（原子級分辨率）、實時、實空間、原位成像，對樣品無特殊要求（不受其導電性、干燥度、形狀、硬度、純度等限制）、可在大氣、常溫環境甚至是溶液中成像、同時具備納米操縱及加工功能、系統及配套相對簡單、廉價等優點，廣泛應用于納米科技、材料科學、物理、化學和生命科學等領域，并取得
掃描探針顯微鏡和掃描方法，其能減小或避免因探針尖與樣品碰撞而造成的損害，縮短測量時間，提高生產力和測量精確度，不受粘附水層的影響收集樣品表面的觀測數據，如形貌數據。顯微鏡具有振動探針尖的振動單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時收集觀測數據的觀測單元、探針尖與樣品表面接近或接觸時檢測探針尖振動狀態變化的
p.p1 {margin: 0.0px 0.0px 0.0px 0.0px; line-height: 19.0px; font: 13.0px 'Helvetica Neue'}掃描探針顯微鏡（Scanning Probe Microscope，SPM）是掃描隧道顯微鏡及在掃描隧道顯微鏡的基礎上發
1981年，Bining，Rohrer在IBM蘇黎世實驗室發明了掃描隧道顯微鏡(STM)并為此獲得1986年諾貝爾物理獎。STM的出現使人類能夠對原子級結構和活動過程進行觀察。由于STM需要被測樣本必須為導體或半導體，其應用受到一定的局限。 1985年，原子力顯微鏡(AFM)的發明則將觀察對象由導
石英音叉是一種諧振頻率穩定、品質因數高的時基器件,其音叉臂的諧振參數(諧振振幅和諧振頻率)對微力極其敏感。利用石英音叉對外力的敏感性,與鎢探針結合,構成一種新型的表面形貌掃描測頭。該測頭與xyz壓電工作臺結合,利用測頭音叉臂諧振頻率對掃描微力的敏感性,研制基于相位反饋控制
1.掃描隧道顯徽鏡（STM）和原子力顯微鏡同其他顯微鏡相比具有分辨率高、工作環境要求低、待測樣品要求低、不需要重金屬投影等優點，所以它們觀察到的圖像更能直接反映樣品的原有特點。 2.借助于快速的計算機圖像采集系統時，STM和AFM還可以用來觀察細胞，亞細胞水平甚至是分子水平上的快速動態變化過程
掃描電子顯微鏡的原理是由最上邊電子槍發射出來的電子束，經柵極聚焦后，在加速電壓作用下，經過二至三個電磁透鏡所組成的電子光學系統，電子束會聚成一個細的電子束聚焦在樣品表面。在末級透鏡上邊裝有掃描線圈，在它的作用下使電子束在樣品表面掃描。由于高能電子束與樣品物質的交互作用，結果產生了各種信息：二次電子、
SPM作為新型的顯微工具與以往的各種顯微鏡和分析儀器相比有著其明顯的優勢： 首先，SPM具有極高的分辨率。它可以輕易的“看到”原子，這是一般顯微鏡甚至電子顯微鏡所難以達到的。 其次，SPM得到的是實時的、真實的樣品表面的高分辨率圖像。而不同于某些分析儀器是通過間接的或計算的方法來推算樣品的表