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功率計探測器的材料大致決定了功率計的整體性能，一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探測器，除此之外還有一種低偏振反映度(PDR)探測器，這種探測器是在InGaAs探測器的基礎上添加一些材料使得其對PDL非常不敏感，所以很適合用于PDL的測試。 除了材料之外，探測器面積是決定其用途的重要參數，探測器面積越大，其受光能力就越強，但靈敏度則會降低，反之亦然。所以一般用于校準的光功率計探測器面積都大于3mm2，用于探測很小的光功率如-100dBm光能量探測器面積一般為1mm2。一般來說如果光功率計采用裸光纖適配器，則要求光功率計探測器面積大于3mm2，否則光纖出射光很難充分耦合到探測器上，使測試重復性和可靠性大大降低。其實即使采用大面積探測器，裸光纖適配器中的光纖也極有可能觸及探測器，導致探測器老化，使測試精度降低，所以一般建議采用熔接的方法，這樣雖然增加了一次熔纖，但是確保了測試的長期穩定性和可靠性。 除了以上傳統的探測器類......閱讀全文
光無源器件測試是光無源器件生產工藝的重要組成部分，無論是測試設備的選型還是測試平臺的搭建其實都反映了器件廠商的測試理念，或者說是器件廠商對精密儀器以及精密測試的認識。不同測試設備、不同測試系統搭建方法都會對測試的精度、可靠性和可操作性產生影響。本文簡要介紹光無源器件的測試，并討論不同測試系統對精