球差校正透射電鏡
電子顯微鏡的分辨本領由于受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對于常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恒為正值。在40年代由于兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像差是人們長期追求的目標。經過50多年的努力，1990年Rose提出用六極校正器校正透鏡像差得到無像差電子光學系統的方法。最近在CM200ST場發射槍200kV透射電鏡上增加了這種六極校正器，研制成世界上第一臺像差校正電子顯微鏡。電鏡的高度僅提高了24cm，而并不影響其它性能。分辨本領由0.24nm提高到0.14nm。在這臺像差校正電子顯微鏡上球差系數減少至0.05mm(50μm)時拍攝到了GaAs〈110〉取向的啞鈴狀結構像，點間距為0.14nm。......閱讀全文
TEM球差
球差不完美透鏡導致的直接結果就是引入了讓顯微學者最頭疼的球差。電子的聚焦是靠洛倫茲力來實現的，在洛倫茲力的作用下，電子以旋進的方式聚焦。在TEM里有一條光軸，就和光學顯微鏡中的光軸一樣，偏離光軸時，透鏡對光的聚焦能力和靠近光軸的聚焦能力是不同的。當然了，原則上是希望穿過透鏡的光都能聚焦到焦點上。這點
球差電鏡分析
1 球差電鏡的原理 球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到
關于球差的概念介紹
在共軸球面系統中 ，軸上點和軸外點有不同的像差，軸上點因處于軸對稱位置，具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定，并以寬光束孔徑成像時，其像方截距隨孔徑角U（或孔徑高度h）的變化而變化，因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束，經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成
快速了解球差電鏡區別
相比傳統TEM，由于AC-TEM有效削減了像差，AC-TEM分辨率顯著提高。傳統TEM、STEM的分辨率在納米、亞納米級，而AC-TEM和AC-STEM的分辨率則能夠達到埃級和亞埃級別！分辨率的提高意味著能夠對材料進行更精細更準確的結構表征。
球差校正電鏡的優勢：
球差校正電鏡的優勢：ACTEM或者ACSTEM的最大優勢在于球差校正削減了像差，從而提高了分辨率。傳統的TEM或者STEM的分辨率在納米級、亞納米級，而ACTEM的分辨率能達到埃級，甚至亞埃級別。分辨率的提高意味著能夠更“深入”的了解材料。例如：最近單原子催化很火，我們公眾號也介紹了大量相關工作。為
球差校正透射電鏡
電子顯微鏡的分辨本領由于受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對于常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恒為正值。在40年代由于兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像
球差校正透射電鏡簡介
1，前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里
球差校正透射電鏡簡介
1，前言球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里將給大家
球差色差校正透射電鏡
球差色差校正透射電鏡：球差校正器經過多年的發展，在最新的五重球差校正器的幫助下，人類成功地將球差對分辨率的影響校正到小于色差。只有校正色差才能進一步提高分辨率，于是球差色差校正透射電鏡就誕生了。我們欣賞一下放置在德國Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO雙球差
球差系數與透鏡極靴的形狀
球差經軸上物點發出的電子束斜率較小者，可在理想傷平面中會聚成一個點。如果透鏡光鬧所決定的孔徑角。A1、A2一分別為像方或物方的電子柬有效孔徑角（或半張角）。因為孔徑角為噸的實心錐形電子束中包含有從o”蝎不同孔徑角的各電子束，它會聚在不同位置處，因此在理想像點與zui近透鏡的像點之間的某處．必存在一z