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    X射線光電子能譜儀的介紹

    X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(B.E)。......閱讀全文

    X射線光電子能譜儀的介紹

    X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能

    X射線光電子能譜儀的介紹

    X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(

    X射線光電子能譜儀的介紹

    X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(

    X射線光電子能譜儀原理

    X射線光子的能量在1000~1500ev之間,不僅可使分子的價電子電離而且也可以把內層電子激發出來,內層電子的能級受分子環境的影響很小。 同一原子的內層電子結合能在不同分子中相差很小,故它是特征的。光子入射到固體表面激發出光電子,利用能量分析器對光電子進行分析的實驗技術稱為光電子能譜。?XPS的原理

    X射線光電子能譜儀的發現

      1895年11月8日晚,德國維爾茨堡大學校長兼物理研究所所長倫琴在實驗室研究陰極射線。  為了防止外界光線對放電管的影響,也為了不使管內可見光漏出管外,他把房間全部弄黑,創造伸手不見五指的環境,他還用黑色硬紙給放電管做了個封套。為了檢查封套是否漏光,他給放電管接上電源,發現沒有漏光。但他切斷電源

    X射線光電子能譜儀的簡介

      X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合

    X射線光電子能譜儀的簡介

    X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(

    X射線光電子能譜

    X射線光電子能譜(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)技術也被稱作用于化學分析的電子能譜(electron spectroscopy for chemical analysis,ESCA).XPS屬表面分析法,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類、化學組成以及有

    多功能X射線光電子能譜儀

      多功能X射線光電子能譜儀是一種用于物理學、生物學、基礎醫學、臨床醫學領域的分析儀器,于2018年1月22日啟用。  技術指標  1. 分析室真空度:5×10-10 mbar  2. 最佳能量分辨率:0.43eV  3. 最小空間分辨率:1μm  4. Ag的3d5/2峰半峰寬為1eV時電子計數率

    X射線光電子能譜儀的儀器類別

    03030707 /儀器儀表 /成份分析儀器指標信息: 主真空室:1×10-10 Torr XPS:0.5eV, AES: 分辨率:0.4%,?電子槍束斑:75nm , 靈敏度:1Mcps信噪比:大于70:1 角分辨:5°~90°. A1/Mg雙陽極靶 能量分辨率:0.5eV ,靈敏度:255KCP

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