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測角儀（goniometer） 通指量度角度大小的裝置，又稱測角器、測角計、角度計、量角儀等。 現指波長色散X射線熒光光譜中的測角系統。它以轉臂傳動機構進行角度測量。 精度高---測角精度可達±0.3秒 壽命長---主軸采用氣浮結構，精度保持長久，永不磨損，使用壽命長 讀數系統采用進口的高精度位相光柵編碼器及其相關技術 光柵刻線條數達16300線/圓度。 刻線寬度為0.1чm。準確度高，穩定性好。 瞄準系統采用以圖象傳感器探測信號的自準儀，精度高。 主軸精度：±0.02чm 角度傳感器絕度精度：0.3秒 單次測角精度：±1秒 多次測角精度：±0.5秒 CCD分辨率：0.03秒 CCD重復性：±0.2秒 承載重量：50kg......閱讀全文
晶體測角儀（goniometer）是測量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測角儀和反射測角儀。最普通的接觸測角儀（contact goniometer）相當于量角器加一小尺，適用于較大晶體的測量，精度較低，只達12°。反射測角儀有單圈反射測角儀和雙圈反射測角儀兩種。 單圈反射測角儀
晶體測角儀（goniometer）是測量晶體面角以研究晶體幾何形狀的儀器。常用的有接觸測角儀和反射測角儀。最普通的接觸測角儀（contact goniometer）相當于量角器加一小尺，適用于較大晶體的測量，精度較低，只達12°。反射測角儀有單圈反射測角儀和雙圈反射測角儀兩種。 單圈反射測角儀
測角儀(goniometer) 通指量度角度大小的裝置，又稱測角器、測角計、角度計、量角儀等。 現指波長色散X射線熒光光譜中的測角系統。它以轉臂傳動機構行角度測量。 接觸角測量儀 人們不僅可以生產基于濟斯曼博士設計思想的手動接觸角儀，還開發出了各種利用攝像機和軟件控制的全自動測
大家對自動側角裝置的研制非常重視，特別是測角儀。其中一個很有發展前途的儀器是基于環形激光器的測角儀。這種測角儀容易實現自校，因此可以在測量過程中確定環形激光器的比例因子，從而大大地減少了測量誤差。在測量時，當裝有環形激光器的回轉裝置的角速度比較高時，其輸出信號（即測量值）的非線性實際上不影響測角
X射線熒光光譜分析在20世紀80年代初已是一種成熟的分析方法，是實驗室、現場分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀（XRF）是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有波長色散型和能量色
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理及應用和分析方
XRD全稱X射線衍射（X-RayDiffraction）,利用X射線在晶體中的衍射現象來獲得衍射后X射線信號特征，經過處理得到衍射圖譜。利用譜圖信息不僅可以實現常規顯微鏡的確定物相，并擁有“透視眼”來看晶體內部是否存在缺陷（位錯）和晶格缺陷等，下面就讓咱們來簡要的了解下XRD的原理及應用和分析方
多晶體X射線衍射方法一般都是θ-2θ掃描。即樣品轉過θ角時，測角儀同時轉過2θ角。這個轉動的過程稱為掃描。例如，我們要對樣品進行物相鑒定時，需要測量2θ=5°-80°范圍內的衍射譜，這個測量過程就稱為“掃描”。掃描的方式一般分為兩種：連續掃描和步進掃描。1）連續掃描是指測角儀的連續轉動方式，測角儀從
單晶衍射儀在使用中的一些細節要重視起來 單晶衍射儀操作規程及注意事項 一、準備與開機 1、打開儀器的總電源開關，然后啟動循環冷卻系統。 2、開啟CCD冷卻系統，等待溫度穩定至-40℃。 3、開啟儀器的開關，儀器穩定后，開動X-RAYON開關，X-RAY指示燈亮，X
特征經濟實惠 - 新興的相機技術能以更低的材料成本獲取高分辨率圖像，低成本，高質量。使用簡單 - 系統配有PC軟件，可為接觸角測量提供簡單直觀的界面。我們還提供用戶指南和視頻，以幫助您更好地實驗研究（即將推出）。緊湊的尺寸 - 體積小巧，不占空間，即使在狹小的空間中也可
X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。 X
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用
分光計是精確測定光線偏轉角的儀器, 也稱測角儀。 它是光學實驗中常用的的實驗儀器。光學中的許多基本量如波長、折射率都可以直接或間接地用光線的偏轉角來表示, 因而這些量都可以用分光計來測量。 分光計的基本光學結構又是許多光學儀器（如棱鏡光譜儀、光柵光譜儀、分光光度計、單色儀等）的基礎。它在物理
分光計是精確測定光線偏轉角的儀器, 也稱測角儀。 它是光學實驗中常用的的實驗儀器。光學中的許多基本量如波長、折射率都可以直接或間接地用光線的偏轉角來表示, 因而這些量都可以用分光計來測量。 分光計的基本光學結構又是許多光學儀器（如棱鏡光譜儀、光柵光譜儀、分光光度計、單色儀等）的基礎。它在物理
X射線衍射儀品牌: 美國伊諾斯（Innov-X）產品型號: 便攜式XRD-TERRAII產品尺寸:300*170*470mm應用領域: 高校、考古所、研究所、地質、冶金,石油,化工,科研等所屬用途: 晶體結構分析、材料物相分析 （1）X射線發生器&nb
X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測對象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結構。基本原理：在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線(如Cu的Kα輻射)射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出晶體的結構。&nb
順序式X射線熒光光譜儀是掃描型的儀器，當儀器運行時，許多部件在動作，如測角儀、晶體轉換器、準直器等，經常動作的部件容易出現問題，另外控制和探測各個部件動作的電子線路板也可能出現問題。新型的X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，供儀器操作者和維修工
順序式X射線熒光光譜儀是掃描型的儀器，當儀器運行時，許多部件在動作，如測角儀、晶體轉換器、準直器等，經常動作的部件容易出現問題，另外控制和探測各個部件動作的電子線路板也可能出現問題。 新型的X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，
經緯儀的作用及測量方法測量時，將經緯儀安置在三腳架上，用垂球或光學對點器將儀器中心對準地面測站點上，用水準器將儀器定平，用望遠鏡瞄準測量目標，用水平度盤和豎直度盤測定水平角和豎直角。按精度分為精密經緯儀和普通經緯儀；按讀數設備可分為光學經緯儀和游標經緯儀；按軸系構造分為復測經緯儀和方向經緯儀。此外，
經緯儀的作用及測量方法測量時，將經緯儀安置在三腳架上，用垂球或光學對點器將儀器中心對準地面測站點上，用水準器將儀器定平，用望遠鏡瞄準測量目標，用水平度盤和豎直度盤測定水平角和豎直角。按精度分為精密經緯儀和普通經緯儀；按讀數設備可分為光學經緯儀和游標經緯儀；按軸系構造分為復測經緯儀和方向經緯儀。此外，
美國國家標準技術研究院（NIST）利用其開發的最新先進機器形成并精確測量了X射線頻譜。該設備開發與制造費時20年，將幫助科學家制造世界上最精確的材料，可應用在基礎設施和藥物上，同時也確保世界上不同實驗室之間材料測量的可靠性，新的專業精密儀器需要大量的機械創新和理論建模。 NIST新設備形成
準直儀是一種精密的測角儀器，由平行光管和望遠鏡兩個部分組成，如概述圖所示。隨著技術發展，根據測角原理不同，準直儀可分為光學準直儀、激光準直儀；結構上有平行光管和望遠鏡一體化的自準直儀。 使用方法 將固定在專用橋板上的平行光管放在被測平面上，調整可調支架上的望遠鏡使其瞄準線對準平行光管的十字線
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
X射線熒光（XRF）能用于測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料，其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡是能和X射線發生激烈作用的樣品都不能分析，而要分析的樣品必須經受在真空（4~5Pa）環境下測定，與其他分析技
新型的X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常，找到產生故障的部位。但是有些在測量過程中出現的問題靠診斷軟件是發現不了的，而且診斷軟件僅僅提示產生了故障，要找到產生故障的原因，要求維修人員對儀器的結構比較熟
X射線熒光光譜儀常見故障的診斷方法新型的X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常，找到產生故障的部位。但是有些在測量過程中出現的問題靠診斷軟件是發現不了的，而且診斷軟件僅僅提示產生了故障，要找到產生故障的原因
新型的X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常，找到產生故障的部位。但是有些在測量過程中出現的問題靠診斷軟件是發現不了的，而且診斷軟件僅僅提示產生了故障，要找到產生故障的原因，要求維修人員對儀器的結構比較
X射線熒光光譜儀常見的個故障 X射線熒光光譜儀都裝有故障診斷軟件，分布于儀器各個部位的傳感器將儀器的狀態信號傳輸到計算機，供儀器操作者和維修工程師判斷儀器是否正常，找到產生故障的部位。但是有些在測量過程中出現的問題靠診斷軟件是發現不了的，而且診斷軟件僅僅提示產生了故障，要找到產生故障的原因
（a）裝填樣品按下衍射儀面板上的Door按鈕，指示燈閃爍、蜂鳴器發出報警聲，緩慢的向右拉開衍射儀保護門。將樣品表面朝上安裝到樣品臺上，此時注意盡可能的將樣品置于載物臺的中心位置。向左輕拉右側門，兩門自動吸住后報警聲停止。（b）設置儀器參數點擊桌面Right Measurement System圖標，