利用稀薄氣體中的高頻放電現象使氣體電離,一般用來產生低電荷態正離子,有時也從中引出負離子,作為負離子源使用。 在高頻電場中,自由電子與氣體中的原子(或分子)碰撞,并使之電離。帶電粒子倍增的結果,形成無極放電,產生大量等離子體。高頻離子源的放電管一般用派勒克斯玻璃或石英管制作。高頻場可由管外螺線管線圈產生,也可由套在管外的環形電極產生。前者稱為電感耦合,后者稱為電容耦合高頻振蕩器頻率為10 ~10 Hz,輸出功率在數百瓦以上。 從高頻離子源中引出離子可有兩種方式。一種是在放電管頂端插入一根鎢絲作為正極,在放電管尾端裝一帶孔負電極,并把該孔做成管形,從中引出離子流。另一種方式是把正極做成帽形,裝在引出電極附近,而放電區則在它的另一側。不管采用哪種引出方式,金屬電極都要用石英或玻璃包起來,以減少離子在金屬表面的復合。 在高頻放電區域中加有恒定磁場時,由于共振現象可提高放電區域中的離子濃度。有時,還在引出區域加非均勻磁場來改善......閱讀全文
利用稀薄氣體中的高頻放電現象使氣體電離,一般用來產生低電荷態正離子,有時也從中引出負離子,作為負離子源使用。 在高頻電場中,自由電子與氣體中的原子(或分子)碰撞,并使之電離。帶電粒子倍增的結果,形成無極放電,產生大量等離子體。高頻離子源的放電管一般用派勒克斯玻璃或石英管制作。高頻場可由管外螺線
在外磁場約束下產生反射放電的離子源,是弧放電離子源的改進。在弧放電離子源中,陽極另一端和陰極對稱的位置上,裝一與陰極等電位的對陰極,使陰極發射的電子流在中空的陽極內反射振蕩,提高了電離效率,改變了放電機制。陰極一般用鎢塊制成,由電子轟擊加熱,稱間熱陰極離子源。反射放電電壓較高時,可在冷陰極狀態下
離子源的作用是接受樣品產生離子,常用的離子化方式有: 電子轟擊離子化(electron impact ionization,EI)EI是最常用的一種離子源,有機分子被一束電子流(能量一般為70eV)轟擊,失去一個外層電子,形成帶正電荷的分子離子(M+),M+進一步碎裂成各種碎片離子、中性離子或
工頻、高頻、超高頻及微波電磁場測定儀 滿足工業場所物理因素測量標準,適用于工作場所工頻、高頻、超高頻及微波電磁場的測定,低頻(NF)主機內置三維各向同性電磁傳感器和電場傳感器,滿足工頻和高頻電磁場測定,例如用于測量電器、工業設備、感應爐、變壓器、電力系統設備等低頻領域電磁輻射。高頻(HF)主機
高溫夾具 1) 與加熱爐配套使用,用于高溫下圓形螺紋接頭試樣和板材疲勞試樣; 2) 配置M16內螺紋接頭以滿足同樣規格外螺紋試樣的使用; 3) 配置相應夾具以滿足厚度0.5~2mm板材試樣的使用; 4) 高溫試驗時,應保證試驗和設備的安全正常進行,如需要進行夾具連接件的
RJ-2型高頻近區電磁場強儀,是一種專門用于測定中短波范圍近區場的電場和磁場強度的儀器,專門用于測量高頻焊接、高頻熱合機、高頻淬火、射頻醫療設備、調頻廣播、電視發射機等高頻設備的近區場強和環境場強,以便跟據標準確定危害范圍,并采取相應的有效防護措施。可供勞動保護、環境監測、衛生防疫、科研、部隊
1、毛細管、電暈放電針 TQMS離子源探頭中不銹鋼樣品毛細管的位置相對于采樣錐孔來說,通常水平距離為4mm,垂直距離為8mm,毛細管伸出探頭的長度0.5mill。如毛細管或探頭尖出現不可回復的阻塞、有劃痕或遭到損壞時,需及時清洗或更換。 另外,當使用APCI源時如發現電暈放電針看上去被腐蝕、
① 離子摻雜與離子束改性 從20世紀60年代開始,人們將一定量的硼、磷或其他元素的離子注入到半導體材料中,形成摻雜。摻雜的深度可用改變離子的能量來控制;摻雜的濃度可通過積分離子流強度來控制。離子注入方法的重復性、可靠性比擴散法好。離子注入摻雜在半導體大規模集成電路的生產中已成為重要環節,用離子
高頻紅外碳硫分析儀是集光、機、電、計算機、分析技術等于一體的高新技術產品,具有測量范圍寬、分析結果準確可靠等特點。 由于采用了計算機技術,儀器的智能化、屏幕顯示的圖、文及數據的采集、處理等都達到了目前國內先進水平,是諸多行業測定碳、硫兩元素理想的分析設備。 主要技術參
高頻感應加熱爐 ⑴.高頻爐輸出功率:2500W;頻率:20MHz ⑵.自動檢漏,過時、過流報警 ⑶.電流/電壓/功率/選擇方式調節爐溫:適合于不同材質的樣品 ⑷.氣路:高精度流量控制器保證氣流穩定及進口氣路系統 ⑸.粉塵過濾器:0.4微米超微孔金屬過濾器,確保粉塵