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一、質譜圖的概念Mass spectrum質譜圖 不同質荷比的離子經質量分析器分開后，到檢測器被檢測并記錄下來，經計算機處理后以質譜圖的形式表示出來。 在質譜圖中，橫坐標表示離子的質荷比（m/z）值，從左到右質荷比的值增大，對于帶有單電荷的離子，橫坐標表示的數值即為離子的質量；縱坐標表示離子流的強度，通常用相對強度來表示，即把最強的離子流強度定為100%，其它離子流的強度以其百分數表示，有時也以所有被記錄離子的總離子流強度作為100%，各種離子以其所占的百分數來表示。編輯本段二、質譜中主要離子峰 從有機化合物的質譜圖中可以看到許多離子峰.這些峰的m/z和相對強度取決于分子結構,并與儀器類型,實驗條件有關.質譜中主要的離子峰有分子離子峰,碎片離子峰,同位素離子峰,重拍離子峰及亞穩離子峰等.正是這些離子峰給出了豐富的質樸信息,為質譜分析法提供依據.下面對這些離子峰進行簡要介紹.(一)分子離子峰 分子受電子束轟擊后失去一個電......閱讀全文
質譜法是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜——質譜，利用這一性質，可以進行定性分析（包括分子質量和相關結構信息）；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。質譜儀一般由四部分組成：進
質譜法是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜——質譜，利用這一性質，可以進行定性分析（包括分子質量和相關結構信息）；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。?質譜儀一般由四部分組成：
質譜法是將被測物質離子化，按離子的質荷比分離，測量各種離子譜峰的強度而實現分析目的的一種分析方法。質量是物質的固有特征之一，不同的物質有不同的質量譜——質譜，利用這一性質，可以進行定性分析（包括分子質量和相關結構信息）；譜峰強度也與它代表的化合物含量有關，可以用于定量分析。 質譜儀一般由四部分
最先看分子離子峰。怎么判斷分子離子峰？一般是最大的明顯可見碎片。如果有已經結構就好辦，如果沒有，一般判斷出分子離子峰之后，要進行確認。確認的辦法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多數減15，也有減18或43，這樣看具體情況。如果有這樣的碎片就認為是分子離子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰
用二維方法來看.1,橫坐標代表的是分子離子峰及碎片峰,這有助于你判斷物質的分子量及可能的主要結構.2,縱坐標代表的是分子碎片的穩定程度,這有助于你判斷碎片相近的物質區分,比如可以通過質譜圖直接判斷二甲苯的三種構型,就是利用這個方法.3,結合二者的各自優勢,再多學多比較記住幾個特征峰就好辦多了,比如烯
做質譜圖是要用高能粒子轟擊待測化合物，那么出現分子被轟走一個電子時最容易（轟斷化學鍵當然難些），那么質譜儀測出質荷比m/q最大時得到的譜線對應的數值即是待測化合物的相對分子質量。
質譜圖由橫坐標、縱坐標和棒線組成。橫坐標標明離子質荷比(m/z)的數值，縱坐標標明各峰的相對強度，
最先看分子離子峰。怎么判斷分子離子峰？一般是最大的明顯可見碎片。如果有已經結構就好辦，如果沒有，一般判斷出分子離子峰之后，要進行確認。確認的辦法是看最大的碎片和第二大的碎片的差值是否合理。多數減15，也有減18或43，這樣看具體情況。如果有這樣的碎片就認為是分子離子峰的可能性很大。然后再看基峰。基峰
ICP-MS的圖譜非常簡單，容易解析和解釋。但是也不可避免地存在相應的干擾問題，主要包括質譜干擾和基體效應兩大類。9.3.3.1 質譜干擾當等離子體中離子種類與分析物離子具有相同的質荷比，即產生質譜干擾。質譜干擾主要有四種，即同量異位素干擾、多原子(或加合物)離子干擾、難熔氧化物離子干擾和雙電荷離子
1、質譜就是真空中,利用電子束轟擊待測化學物質的分子,將該分子打散,打成一個一個的帶電荷的分子離子片段,再根據質譜儀上各個分子離子片段的出峰位置和強度,最終顯示出各個離子的分子量以及相應濃度。2、看質譜圖,只要看特征峰就好了,不要每個峰都知道是什么,只有自己想要的峰。化學物質的分子中,單純依靠質譜來