中文名稱紫外光電子能譜法英文名稱ultraviolet photoelectron spectroscopy定 義用紫外光激發試樣的光電子能譜法。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理(三級學科)......閱讀全文
中文名稱紫外光電子能譜法英文名稱ultraviolet photoelectron spectroscopy定 義用紫外光激發試樣的光電子能譜法。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理(三級學科)
中文名稱光電子能譜法英文名稱photoelectron spectroscopy定 義以光作激發源的電子能譜分析方法。常用激發源有X射線和紫外光。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理(三級學科)
中文名稱紫外光電子能譜儀英文名稱ultraviolet photoelectron spectrometer定 義用紫外光激發試樣光電子的能譜儀。適用于表面狀態分析,能獲得能帶結構,振蕩能級信息。應用學科機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件(
中文名稱X射線光電子能譜法英文名稱X-ray photoelectron spectroscopy,XPS定 義以單色X射線為光源,測量并研究光電離過程發射出的光電子能量及相關特征的方法。能夠給出原子內殼層及價帶中各占據軌道電子結合能和電離能的精確數值。應用學科材料科學技術(一級學科),材料科學技
光電子能譜儀(photoelectron spectrograph)是利用光電效應測出光電子的動能及其數量的關系,由此來判斷樣品表面各種元素含量的儀器。可分析固、液、氣樣品中除氫以外的一切元素。 用途 光電子能譜儀可研究原子的狀態、原子周圍的狀況及分子結構,在表面化學分析、分子結構
XPS是重要的表面分析技術之一,是由瑞典Kai M. Siegbahn教授領導的研究小組創立的,并于1954年研制出世界上第一臺光電子能譜儀,1981 年,研制出高分辨率電子能譜儀。他在1981年獲得了諾貝爾物理學獎。
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),根據B.E=hv-K.E-W.F,進而得到激發電子的結合能(
介紹了現代 X 光電子能譜儀的激發源、能量分析器、傳輸透鏡、電子檢測器、荷電中和器等主要部件的結構特點。在此基礎上介紹了儀器的主要性能指標靈敏度、能量分辨率等,簡單介紹了考察一臺能譜儀的方法。最后討論了電子能譜儀發展。?
紫外-可見分光光度法是在190~800nm波長范圍內測定物質的吸光度,用于鑒別、雜質檢查和定量測定的方法。當光穿過被測物質溶液時,物質對光的吸收程度隨光的波長不同而變化。因此,通過測定物質在不同波長處的吸光度,并繪制其吸光度與波長的關系圖即得被測物質的吸收光譜。從吸收光譜中,可以確定最大吸收波長
紫外光電子能譜學(UltravioletPhotoelectronSpectroscopy,UPS)是指通過測量紫外光照射樣品分子時所激發的光電子的能量分布,來確定分子能級的有關信息的譜學方法。