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晶格常數變大間距增大會右移，但如果整體結構有一些破壞，峰強度會降低。峰寬主要是粒徑有關。晶面間距與XRD中峰位置有關，一般情況下是不變的，一般為幾個埃，可以查閱下文獻，熱膨脹，晶體中含有少量缺陷會使得晶面間距變大，衍射峰向低衍射角偏移。峰寬，與晶面間距沒有直接聯系，反映的是晶粒尺寸的大小，晶粒尺寸大小可以通過Scherrer方程估算，其中D為晶粒尺寸，10多個納米到幾十個納米，k為常數，接近于1，具體需根據材料查閱文獻，B為半峰寬，注意是單位是弧度。注意，晶粒不等于晶格單元，晶格單元是晶體最小單元，晶粒可以分出多個晶格單元，晶粒尺寸大于晶面間距。......閱讀全文
掃描時間太短造成信噪比不高.建議增加掃描時間~
haguruma材料內部存在的殘余應力會導致衍射峰偏移，而晶粒細化，位錯密度增加會造成衍射峰的寬化mygod8220XRD是晶面與反射角的關系XRD峰的偏移只可能與晶格指數的變化有關系引起晶格指數變化的因素可以有位錯引起的滑移、攀移等溶質元素相互的置換，第三溶質進入間隙位置，等引起的晶格畸變pete
xrd峰強度高低說明相對背地強度高低，表示晶相含量，跟面積表示晶相含量一致。峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。峰的強度低是XRD圖譜的性質，就是峰不是很尖銳，峰很鈍，學名叫做寬化，這樣反應的樣品性質就是粒徑很小，結晶度低是樣品的性質，反映在圖譜上
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
XRD峰值向左偏移通常是指向小角度偏移,意味著變大,常見是摻入了比主體大的雜原子出現“摻雜”，雜質原子會使晶胞參數變大或變小；如果左移,說明晶胞參數變大,晶面間距變大；制樣時要盡量使樣品和樣品板相平,制樣做出的數據才準確.如樣品高于樣品板參照面就會使衍射峰左移。 如果不是全譜所有峰都發生位移而
XRD圖譜峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。XRD圖譜峰高如果是相對背地強度高，表示晶相含量高，跟面積表示晶相含量一致。XRD圖譜峰高如果是A峰相對B峰高很多，兩峰的高度比“A／C”相對標準粉末衍射圖對應峰的高度比要大很多，那么這個材料是A方向擇
xrd峰強度高低說明相對背地強度高低，表示晶相含量，跟面積表示晶相含量一致。峰的面積表示晶體含量，面積越大，晶相含量越高。峰窄說明晶粒大，可以用謝樂公式算晶粒尺寸。峰的強度低是XRD圖譜的性質，就是峰不是很尖銳，峰很鈍，學名叫做寬化，這樣反應的樣品性質就是粒徑很小，結晶度低是樣品的性質，反映在圖譜上
強度只能說明結晶度的情況，峰的位置是證明晶型的標準，如果峰位置對的上證明是同一種晶型，使用不用的機器同種物質的峰強可能不一樣，并且同一臺機器如果步長不一樣也會出現不同的峰強度，所以不能證明你的強度跟標準譜圖的強度關系來判定結晶度的高低，標準譜圖一般是經過計算得到的，并不是制備的
晶格常數變大間距增大會右移，但如果整體結構有一些破壞，峰強度會降低。峰寬主要是粒徑有關。晶面間距與XRD中峰位置有關，一般情況下是不變的，一般為幾個埃，可以查閱下文獻，熱膨脹，晶體中含有少量缺陷會使得晶面間距變大，衍射峰向低衍射角偏移。峰寬，與晶面間距沒有直接聯系，反映的是晶粒尺寸的大小，晶粒尺寸大
只有一個衍射強峰，樣品有擇優取向。 （謝樂公式，打不出來） 式中B表示單純因晶粒度細化引起的寬化度，單位為弧度． B為實測寬度BM與儀器寬化Bs之差, Bs可通過測量標準物(粒徑>10-4cm)的半峰值強度處的寬度得到． Bs的測量峰位與BM的測量峰位盡可能靠近．最好是選取與被測量納米粉相同材料的粗