290萬！廣東工業大學高精度原子力顯微鏡招標公告
近日，廣東工業大學發布高精度自動原子力顯微鏡等設備采購公開招標公告，詳情如下：項目編號：1371-2241GDGH1153項目名稱：高精度自動原子力顯微鏡等設備采購采購方式：公開招標預算金額：2,900,000.00元采購需求：合同包1(高精度自動原子力顯微鏡):合同包預算金額：1,650,000.00元品目號品目名稱采購標的數量（單位）技術規格、參數及要求品目預算(元)最高限價(元)1-1其他專用儀器儀表高精度自動原子力顯微鏡1(套)詳見采購文件1,650,000.00-合同包2(四通道耗散型石英晶體微天平分析儀):合同包預算金額：1,250,000.00元品目號品目名稱采購標的數量（單位）技術規格、參數及要求品目預算(元)最高限價(元)2-1其他專用儀器儀表四通道耗散型石英晶體微天平分析儀1(套)詳見采購文件1,250,000.00-獲取招標文件時間： 2022年06月13日 至 2022年06月20日 地點：廣東......閱讀全文
290萬！廣東工業大學高精度原子力顯微鏡招標公告
近日，廣東工業大學發布高精度自動原子力顯微鏡等設備采購公開招標公告，詳情如下：項目編號：1371-2241GDGH1153項目名稱：高精度自動原子力顯微鏡等設備采購采購方式：公開招標預算金額：2,900,000.00元采購需求：合同包1(高精度自動原子力顯微鏡):合同包預算金額：1,650,000.
180萬！華東理工大學原子力顯微鏡招標公告
項目編號：1639-224122240103項目名稱：華東理工大學企業信息原子力顯微鏡一、采購需求：原子力顯微鏡1臺，預算金額：180萬元。簡要技術規格：主機具備智能掃描模式和液體環境智能掃描模式。防漏液掃描器XY方向最大掃描范圍≥120μm, Z方向≥5μm。掃描器噪音RMS < 0.3 (垂直方
原子力顯微鏡為什么是“原子力”
原子力顯微鏡也是運用了類似的原理。如果我們用一根探針來靠近某個物體的表面，當針尖與表面距離非常小時（一般在幾個納米左右），二者之間會存在一個微弱的相互作用。從圖2我們可以看到，針尖與物體表面之間的作用力大小和它們之間的距離直接相關，距離非常近時（一般小于零點幾納米）二者之間的力是相互排斥的，如果它們
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
原子力顯微鏡的力譜
原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜，它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法，當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時，原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液
南京航空航天大學原子力顯微鏡采購更正公告
一、項目基本情況原公告的采購項目編號：JSHC-2022020045C2 原公告的采購項目名稱：南京航空航天大學原子力顯微鏡采購 首次公告日期：2022年03月07日 二、更正信息更正事項：采購文件更正內容：第四章項目采購需求中二、技術指標：（1）工作模式：接觸模式、輕
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
相原子力顯微鏡
液相原子力顯微鏡(liquid cell Force Microscope )對生物分子研究而言，對DNA 基本結構及功能的了解一直是科學家追求目標，早在1953 年 DNA 雙螺旋結構的發現后，使人了解遺傳訊息如何在這當中傳送，并且也將生物研究推展到分子生物的領域，為了解個別分子的功能，許多解析分
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡特點
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，簡稱AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀察導體，也可以觀察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的
原子力顯微鏡原理
?原子力顯微鏡是顯微鏡中的一種類型，應用范圍十分廣泛。原子力顯微鏡是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器，很多人對原子力顯微鏡原理不太了解，下面小編就為大家介紹一下原子力顯微鏡原理、工作模式及應用領域。?? ? ??原子力顯微鏡原理? ? ? ?將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法
原子力顯微鏡探針、原子力顯微鏡及探針的制備方法。原子力顯微鏡探針包括探針本體和設置在探針本體的針尖一側的接觸體，接觸體具有連接段和接觸段，接觸段具有接觸端面；接觸段為二維材料，且接觸端面為原子級光滑且平整的單晶界面。本發明ZL技術的原子力顯微鏡探針可精確地檢測受測樣品的各種性質。介紹隨著微米納米科學
原子力顯微鏡及其應用
????? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規
原子力顯微鏡原理概述
原子力顯微鏡原理概述AFM 是在STM 基礎上發展起來的，是通過測量樣品表面分子(原子)與AFM 微懸臂探針之間的相互作用力，來觀測樣品表面的形貌。AFM 與STM 的主要區別是以1 個一端固定而另一端裝在彈性微懸臂上的尖銳針尖代替隧道探針，以探測微懸臂受力產生的微小形變代替探測微小的隧道電流。其工
原子力顯微鏡及其應用
?原子力顯微鏡及其應用????? 原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品
原子力顯微鏡的特點
原子力顯微鏡的特點 1．高分辨力能力遠遠超過掃描電子顯微鏡（SEM），以及光學粗糙度儀。樣品表面的三維數據滿足了研究、生產、質量檢驗越來越微觀化的要求。 3．應用范圍廣，可用于表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整
原子力顯微鏡及其應用
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比較，
原子力顯微鏡工作模式
?原子力顯微鏡工作模式? ? ? ?原子力顯微鏡的工作模式是以針尖與樣品之間的作用力的形式來分類的。主要有以下3種操作模式：接觸模式、非接觸模式和敲擊模式。? ? ? ?1、接觸模式從概念上來理解，接觸模式是AFM最直接的成像模式。正如名字所描述的那樣，AFM在整個掃描成像過程之中，探針針尖始終與樣
原子力顯微鏡的原理
AFM?是在STM?基礎上發展起來的，是通過測量樣品表面分子(原子)與AFM?微懸臂探針之間的相互作用力，來觀測樣品表面的形貌。AFM?與STM?的主要區別是以1?個一端固定而另一端裝在彈性微懸臂上的尖銳針尖代替隧道探針，以探測微懸臂受力產生的微小形變代替探測微小的隧道電流。其工作原理：將一個對極微
如何選購原子力顯微鏡
1.了解原子探針顯微鏡的基本原理?? 掃描隧道顯微鏡的原理?? 掃描隧道顯微鏡是根據量子力學中的隧道效應原理，通過探測固體表面原子中電子的隧道電流來分辨固體表面形貌的新型顯微裝置。? 根據量子力學原理，由于電子的隧道效應，金屬中的電子并不完全局限于金屬表面之內，電子云密度并不是在表面邊界處突
熱離子原子力顯微鏡
熱離子原子力顯微鏡于是到了我們拍西瓜的時候。大家知道，離子運動可以由濃度梯度產生，即傳統的擴散項，也可以由電勢梯度產生，即電遷移項。此外，因為離子運動產生Vegard應變，從熱力學出發，可以預期應力也會誘導離子運動。這一理論基本框架在上世紀70年代由大材料學家John Cahn發展。老先生最著名的工
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡用一個探針在樣品表面移動，根據探針的振動在測定樣品表面的起伏。這就類似你用手觸摸感受物體表面的光滑程度，所以當然不需要樣品導電。
原子力顯微鏡探針簡介
原子力顯微鏡（AFM),是一種具有原子分辨率的表面形貌、電磁性能分析的重要儀器。首臺原子力顯微鏡在1985年研發成功，其模式可分為接觸模式和輕敲模式等多種模式。AFM探針由于應用范圍僅限于原子力顯微鏡，屬于高科技儀器的耗材，應用領域不廣，全世界的使用量也不多。主要的生產廠家分布在德國，瑞士，保加
原子力顯微鏡測量架構
原子力顯微鏡測量架構AFM 的探針一般由懸臂梁及針尖所組成，主要原理是由針尖與試片間的原子作用力，使懸臂梁產生微細位移，以測得表面結構形狀，其中最常用的距離控制方式為光束偏折技術。AFM 的主要結構可分為探針、偏移量偵測器、掃描儀、回饋電路及計算機控制系統五大部分。AFM 探針長度只有幾微米長，探針
原子力顯微鏡的原理
原子力顯微鏡：是一種利用原子,分子間的相互作用力來觀察物體表面微觀形貌的新型實驗技術.它有一根納米級的探針,被固定在可靈敏操控的微米級彈性懸臂上.當探針很靠近樣品時，其頂端的原子與樣品表面原子間的作用力會使懸臂彎曲，偏離原來的位置.根據掃描樣品時探針的偏離量或振動頻率重建三維圖像.就能間接獲得樣品表
原子力顯微鏡工作原理
原子力顯微鏡（AFM）是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。原子力顯微鏡自從問世以來在生物學研究中有其不可替代的作用，以其樣品制備簡單，可在多種環境中運作，高分辨率等優勢，成為生命科學研究中不可缺少的工具。 原子力顯微鏡工作原理： 通過檢測待測樣品表面和一個微型
原子力顯微鏡的好處
我們前面已經提到，原子力顯微鏡的測量依靠的是針尖與物體表面之間的相互作用，而這種相互作用是廣泛存在于各種分子或者原子之間的，所以原子力顯微鏡可以直接測量幾乎各種表面的結構而不需要像電子顯微鏡那樣做特殊的樣品處理，同時原子力顯微鏡也不像電子顯微鏡那樣需要一個高真空的環境。這不僅節省了大量的時間精力，而