X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的產生
高速運動的電子與物體碰撞時，發生能量轉換，電子的運動受阻失去動能，其中一小部分（1％左右）能量轉變為X射線，而絕大部分（99％左右）能量轉變成熱能使物體溫度升高。 產生X射線源有同位素放射源、X射線管、激光等離子體、同步輻射和X射線激光等。......閱讀全文
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的產生
高速運動的電子與物體碰撞時，發生能量轉換，電子的運動受阻失去動能，其中一小部分（1％左右）能量轉變為X射線，而絕大部分（99％左右）能量轉變成熱能使物體溫度升高。 產生X射線源有同位素放射源、X射線管、激光等離子體、同步輻射和X射線激光等。
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的起源
1895年德國物理學家威廉·康拉德·倫琴研究陰極射線管時，發現陰極能放出一種有穿透力的、肉眼看不見的射線。由于它的本質在當時是一個“未知數”，故稱之為X射線。 倫琴無條件地把X射線的發現奉獻給人類,沒有申請專利。 X射線和可見光一樣屬于電磁輻射，但其波長比可見光短得多，在10-6～10nm。
X射線熒光光譜儀的理論基礎X射線的本質
X射線的本質是電磁輻射，具有波粒二像性。 1）波動性 X射線的波長范圍：0.01~100 用于元素分析的X射線光譜所使用的波長范圍在0.01~11nm 2）粒子性 特征表現為以光子形式輻射和吸收時具有的一定的質量、能量和動量。 表現形式為在與物質相互作用時交換能量。如光電效應、熒光輻
概述X射線熒光光譜儀X射線的產生
根據經典電磁理論，運動的帶電粒子的運動速度發生改變時會向外輻射電磁波。實驗室中常用的X射線源便是利用這一原理產生的：利用被高壓加速的電子轟擊金屬靶，電子被金屬靶所減速，便向外輻射X射線。這些X射線中既包含了連續譜線，也包括了特征譜線。 1、連續譜線 連續光譜是由高能的帶電粒子撞擊金屬靶面時受
X射線熒光分析的理論基礎
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
產生x射線熒光的原理
處于激發態的原子，要通過電子躍遷向較低的能態轉化，同時輻射出被照物質的特征X射線，這種由入射X射線激發出的特征X射線，稱為熒光X射線，此種輻射又稱為熒光輻射。當紫外光或波長較短的可見光照射到某些物質時，這些物質會發射出各種顏色和不同強度的可見光，而當光源停止照射時，這種光線隨之消失。這種在激發光誘導
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線管中X射線的產生原理
實驗室中X射線由X射線管產生,X射線管是具有陰極和陽極的真空管,陰極用鎢絲制成,通電后可發射熱電子,陽極（就稱靶極）用高熔點金屬制成（一般用鎢,用于晶體結構分析的X射線管還可用鐵、銅、鎳等材料）.用幾萬伏至幾十萬伏的高壓加速電子,電子束轟擊靶極,X射線從靶極發出.
簡述產生x射線熒光的原理
處于激發態的原子，要通過電子躍遷向較低的能態轉化，同時輻射出被照物質的特征X射線，這種由入射X射線激發出的特征X射線，稱為熒光X射線，此種輻射又稱為熒光輻射。當紫外光或波長較短的可見光照射到某些物質時，這些物質會發射出各種顏色和不同強度的可見光，而當光源停止照射時，這種光線隨之消失。這種在激發光誘導
X射線的產生
電子的韌制輻射，用高能電子轟擊金屬，電子在打進金屬的過程中急劇減速，按照電磁學，有加速的帶電粒子會輻射電磁波，如果電子能量很大，比如上萬電子伏，就可以產生x射線，這是目前實驗室和工廠，醫院等地方用的產生x射線的方法。 原子的內層電子躍遷也可以產生x射線，量子力學的理論，電子從高能級往低能級躍遷
X射線的產生
X射線的產生?在X射線方面，情況完全不同：越高的加速電壓越有利于X射線的產生。X射線可以由能譜儀（EDS）捕獲和處理，從而對樣品的成分進行分析。?入射電子束中的電子與樣品中的原子相互作用，迫使目標樣品中的電子被打出。這樣樣品中就會有空穴生成，它由一個來自于同一原子的外層能量較高電子填充。這個過程要求
特征x射線與熒光x射線的產生機理有何異同
產生的機理不同，特征X射線是由電子撞擊金屬靶，使金屬原子中的K層L層M層等等層的核外電子被激發形成空位，外層電子躍入該空位，多余的能量產生X射線，熒光X射線則是由X射線或其他電磁波照射原子使原子核外電子激發形成空位，外層電子躍入空位產生X射線，二者都可以表示元素種類，但是產生一個是由電子引起，一個是
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光的產生相關介紹
當一束粒子如X射線光子與一種物質的原子相互作用時，在其能量大于原子某一軌道電子的結合能時，就可從中逐出一個軌道電子而出現一個“空穴”，層中的這個“空穴”可稱作空位。原子要恢復到原來的穩定狀態，這時處于較高能級的電子將依據一定的規則躍遷而填補該“空穴”，這一過程將使整個原子的能量降低，因此可以自發
關于X射線熒光分析的理論基礎的介紹
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。 從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
X射線熒光光譜儀X射線防護系統的故障分析
為了防止X射線泄漏，高壓發生器只有在射線防護系統正常的情況下才能啟動。射線防護系統正常與否，主要檢查以下二部分： 1、面板的位置是否正常。X射線熒光光譜儀是一個封閉系統，面板是最外層的射線防護裝置，如果有一塊面板不到位，儀器就有射線泄漏的可能。因此，每塊面板上都有位置接觸傳感器，面板沒有完全合
X射線熒光光譜儀中的X射線原理科普
X射線熒光光譜儀是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。x射線具有很高的穿透本領，能透過許多對可見光不透明的物質，如墨紙、木料等。這種肉眼看不見的射線可以使很多固體材料發生可見的熒光，使照相底片感光以及空氣電離等效應。X射線初用于醫學成像診斷和X射線結晶學。X射線也是游離輻射等這一類對人體有危害的
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線的產生原理
產生X射線的原理是用加速后的電子撞擊金屬靶，撞擊過程中電子突然減速，其損失的動能（以光子形式放出，形成X光光譜連續部分。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。X射線的產生途徑是電子的韌制輻射，用