熒光X射線測厚儀的基本信息介紹
熒光X射線測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。 基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要任何手動調整或手動參數設定。可同時測定最多5層、15種元素，數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求。......閱讀全文
熒光X射線測厚儀的基本信息介紹
熒光X射線測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。 基于Windows2000中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對cmi900/950主機的全面自動化控制，分析中不需要
x射線測厚儀的基本信息介紹
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。 適用范圍：生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋
熒光X射線測厚儀的主要規格
1、X射線激發系統垂直上照式X射線光學系統空冷式微聚焦型X射線管，Be窗標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選X射線管功率可編程控制裝備有安全防射線光閘 2、濾光片程控交換系統根據靶材，標準裝備
簡述熒光X射線測厚儀的功能
1、樣品觀察系統高分辨、彩色、實時CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。50倍和100倍觀察系統任選。激光輔助光自動對焦功能可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 2、計算機系統配置IBM計算機：1.6G奔騰IV處理器，256M內存，1.44M軟驅，40G硬盤，CD-ROM，鼠標，鍵盤，17寸彩顯
X射線熒光光譜測厚儀的主要優勢介紹
1、X光測厚儀有優化的配置，性價比極高。 2、提供的控制參數。 3、測量中不會造成對金屬鍍層的表面劃傷和其他缺陷。 4、X光測厚儀，穩定，高速的無接觸測量。 5、備件充足，售后服務快速細致。
X熒光射線鍍層測厚儀技術原理
X熒光射線鍍層測厚儀原理? ? XRAY測厚儀原理是根據XRAY穿透被測物時的強度衰減來進行轉換測量厚度的，即測量被測鋼板所吸收的X射線量，根據該X射線的能量值，確定被測件的厚度。由X射線探測頭將接收到的信號轉換為電信號，經過前置放大器放大，再由專用測厚儀操作系統轉換為顯示給人們以直觀的實際厚度信號
概述熒光X射線測厚儀的應用范圍
－測厚范圍可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。請告訴牛津儀器您的具體應用，我們將列表可測定的厚度范圍－基本分析功能無標樣檢量線測厚，可采用一點或多點標準樣品自動進行基本參數方法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品。樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)可檢測元素范圍
x射線熒光光譜測厚儀的技術指標介紹
1、同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。 2、分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同） 3、任意多個可選擇的分析和識別模型。相互獨立的基體效應校正模型。 4、多變量非線性回收程序 適應范圍為15℃至30℃。 5、電源: 交流220V±5V, 建
微 X 射線熒光 (μXRF)的基本信息介紹
微 X 射線熒光 (μXRF) 是一種元素分析技術，它允許檢測非常小的樣品區域。與傳統的 XRF 儀器一樣，微 X 射線熒光通過使用直接 X 射線激發來誘導來自樣品的特性 X 射線熒光發射，以用于元素分析。與傳統 XRF 不同（其典型空間分辨率的直徑范圍從幾百微米到幾毫米），μXRF 使用 X
X射線熒光探針儀的基本信息介紹
技術指標 微聚焦X光管最大功率40kV,1.0mA；試樣上X光聚焦點直徑300um,100um,40um；10x黑白，100x(200x)彩色CCD攝像頭；樣品室尺寸330x250x330mm；自動樣品臺行程100x100x100mm。 [1] 主要功能 探頭指標高，性能好，壽命長。；全新
簡述x射線熒光光譜測厚儀特色
1.可測量0.01um-300um的鍍層。 2.可做各種鍍層（多層、合金、多層鎳）的精密測量。 3.除平板形外，還可測量圓形、棒形（細線）等各種形狀。 4.可制作非破壞性膜厚儀的標準板。 5.該電鍍膜厚檢測儀可檢查非破壞式膜厚儀的測量精度。 6.可高精度測量其他方式不易測量的三層以上的
X射線熒光測厚儀金屬表面處理
使用未經加工的金屬會很快出現許多問題。可能會腐蝕，沒有光澤，而如果做成的部件需要保持運動狀態則會馬上受到磨損乃至損壞。 要解決這些問題，我們會在金屬上應用各種金屬鍍層，以確保其良好外觀和長期使用壽命。 通常金銀鉻銅鎳錫鋅常被用作鍍厚層，它們適用于金屬也適用于非金屬。
X射線測厚儀與γ射線測厚儀比較
X射線測厚儀與γ射線測厚儀比較 (1)物理特性 X射線束能縮減為很小的一點，其結構幾何形狀不受限制，而γ射線則不能做到，因此光子強度會急驟減少以致噪音大幅度增加。 (2)信號/噪音比 X射線測厚儀：X射線的高光子輸出，能帶來比γ射線在相同時間常數下約好10倍的噪音系數。 (3)反應時間
x射線測厚儀的保養維護介紹
1）電氣連接。逐個檢查插拔式安裝的板卡、各種插頭安裝連接是否牢固 ，每個接線端子是否松動或銹蝕。包括現場接線箱和 C 型架內的接插件也要仔細檢查。 2）漂移測試。漂移量是測厚儀工作是否穩定的重要指標 ，如果測厚儀有故障可以明顯反映出來。用一塊樣板連續測量 5分鐘以上 ，觀察是否有明顯厚度變化。
X射線熒光分析法的基本信息介紹
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光分析儀的基本信息介紹
X 射線熒光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線熒光分析技術已被廣泛用于冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療、刑偵、考古等諸多部門和領域。X 射線熒光光譜分析不僅成為對其物質的化學元素、物相、化學立體結構、物證材料進行試測，對產品和材料質量進行無損檢測，對人體進行醫檢和微電路的光刻檢驗等的
X射線熒光測厚儀的原理和技術指標
原理 當原子受到原級X射線或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層空位，并同時放出次級X射線，即X射線熒光。X射線熒光的波長對不同元素是特征的，因此可以根據元素X射線熒光特征波長對元素做定性分析，根據元素釋放出來的熒光強度，來進行定量分析如
x射線測厚儀概念
X射線測厚儀工作原理、結構特性:? X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度. ? 適用范圍：生產鋁板、銅板
X射線鍍層測厚儀
提供X-ray測厚儀的操作及方法，從而了解PCB板化學鍍層（金、鎳、錫、銀）的厚度情況。2.0??范圍：適用于本公司品質部物理實驗室X-ray測厚儀。3.0??X-ray測厚儀操作要求及規范3.1測試環境：溫度22±3℃，濕度60±15%。3.2開機：打開測試主機、電腦、顯示器，打印機電源。3.3進
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
x射線測厚儀的簡介
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。
x射線測厚儀的X射線發射源及接收檢測頭介紹
采用X射線管和高壓電源。X射線管裝在一個抽真空后注滿油的全密封的油箱中保證絕緣和良好冷卻，高壓等級根據所造型號不同有所區別，加上傳感器具有的溫度自動保護與報警功能，提高了X射線管的穩定性和使用壽命。模塊化設計、免維護設計方案及規范的制造保證了設備系統高可靠性。 檢測頭采用電離室和電子前置放大器
X射線熒光光譜法基本信息介紹
X射線熒光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時，核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷，而在內層電子軌道上留下一個空穴，處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴，將過剩的能量以X射線的形式放出，所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼
x射線測厚儀的冷卻系統介紹
本系統配備有專用冷卻裝置，該裝置的關鍵部件，壓縮機組均采用進口原裝組件，具有可靠性高、噪音小、控溫精度高，經久耐用等特點。通過C型架上進出油口進行冷卻。延長了關鍵部件的使用壽命。
x射線測厚儀的用戶操作終端介紹
觸摸屏用戶操作終端包括一個專用的計算機和高分辨率的彩色顯示器。可顯示整個系統的檢測、設定、偏差值；用戶通過軟件顯示頁面可直接控制和操作測厚儀。主操作頁顯示正常操作所需的各種數據。維護頁面顯示系統正常工作時各種參數高壓反饋、管電流、燈絲電流、射線源溫度等。一些與用戶質量有關的重要數據如厚差曲線、厚
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
簡述x射線測厚儀射線管的更換
射線管損壞或使用一定年限老化后 ，測厚儀廠家通常建議將射線源返廠更換射線管 ，費用很高 ，周期也較長。實際上 ，只要細心操作 ，完全可以現場更換射線管。更換射線管應著重注意 ： 1）緊固射線管的安裝螺絲時用力要適度 ，既要安裝牢固 ，更要防止緊固過度導致管子破裂。 2）高壓線的焊接要求較高