常用的X射線熒光儀檢測晶體的介紹
常用晶體有 LiF、PET（用于檢測 Si、Al）、Ge（用于檢測P）、NaCl 、TAP （用于檢測 Mg 、Na 、F），其中 TAP、PET、NaCl 等都是耐潮能力差的晶體，容易損壞，特別是 NaCl 容易潮解。TAP、PET的使用壽命一般為 5~6 年，因為太硬，容易出現裂紋，一般不影響使用，但翹起來的時候就需要修復了。這些晶體的表面經再次磨制后一般都能恢復原狀。另外，強酸或強堿的化學腐蝕對 TAP 的損害很大，使用時一定要注意。晶體是儀器內最脆弱的部件，盡量不要用手接觸衍射面，如果手或其他東西碰到了晶體的衍射面，手上的汗或其他物質滲到晶體的表面，使晶體表面的晶格間距發生變化，這樣就會污染晶體，而 X 射線熒光的衍射主要發生在晶體的表面，因此會造成 2θ 掃描的峰形不光滑。這種故障一時很難消除。......閱讀全文
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線熒光儀器的歷史介紹
X射線熒光儀器是指波長為0.01~10nm的電磁波，1895年倫琴（W. C. Roentgen）在使用放電管工作時發現了X射線，因為這一個重大發現，倫琴于1901年獲得了諾貝爾獎。1913年莫斯萊（H. G. Moseley）建立了X射線波長與原子序數的關系，奠定了X射線熒光光譜分析的基礎，第
X射線熒光儀器的基本介紹
X射線熒光儀器（X Ray Fluorescence，XRF）又稱為X射線熒光光譜法，是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它是指根據原子在原級X射線或粒子的激發下發射出的次級的特征X射線（X射線熒光）的波長和長度，對元素進行定性和定量的分析方法。
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光的物理原理介紹
X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，其特性通常用能量（單位：千電子伏特，keV）和波長（單位：nm）描述。 X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫
X射線熒光分析的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光儀器的分類介紹
X射線熒光儀器根據能量分辨的原理不同，可分為波長色散型、能量色散X射線型和非色散型。一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管作為激發源，產生入射X射線（一次X射線）用于激發被測樣品，受激發的樣品中的每一種元素都會放射出二次X射線。由于不同的元素所放射出的二次
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
X射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與測
X射線熒光光譜儀的分類介紹
根據X射線熒光的產生原理，一臺X射線熒光光譜儀在結構上主要由激發源、色散系統、探測系統等3部分組成。按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。下面主要介紹波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的儀器結構
關于X－射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射線熒光光譜儀的優點介紹
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與
X射線熒光探針儀的基本信息介紹
技術指標 微聚焦X光管最大功率40kV,1.0mA；試樣上X光聚焦點直徑300um,100um,40um；10x黑白，100x(200x)彩色CCD攝像頭；樣品室尺寸330x250x330mm；自動樣品臺行程100x100x100mm。 [1] 主要功能 探頭指標高，性能好，壽命長。；全新
X射線熒光光譜儀的詳細介紹
X射線熒光光譜(XRF)是一種應用十分廣泛的元素分析方法,利用X射線熒光光譜儀可以直接分析固體、粉末和液體樣品,具有制樣簡單、測試效率高、可以進行非破壞性分析等特點。秒中對樣品進行快速合金分析，秒即可進行實驗室精度的測量。具有合金分析軟件，內嵌數百種常見合金號，中英文界面自由切換、操作簡易，即使
X射線晶體衍射學的概述
X射線望遠鏡光學系統一般采用沃爾特Ⅰ型──拋物面焦點與雙曲面的后焦點重合的同軸光學系統。其焦平面通過雙曲面的前焦點。按照制作工藝來劃分,X射線望遠鏡的研制已經歷三代。第一代鏡面是鋁制的,效率為1％，1963年用這種望遠鏡拍攝到分辨率為幾角分的照片,可看出太陽上存在著X射線發射區。第二代鏡面是在光
x射線單晶體衍射儀的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的 平行六面體（稱 晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或 晶胞參數,見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平
X射線單晶體衍射儀的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或晶胞參數，見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行
x射線單晶體衍射儀的應用簡介
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
x射線單晶體衍射儀數據的積累
數據的積累 從前述的應用已經看出，晶體結構的測定及結構與性能關系的研究, 是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構,但還有許多未能測定,而且還不斷有新化合物，新晶體出現, 因此不斷的測定他們的結構,加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫，如： 1、劍橋結構
X射線熒光光譜分析儀檢測的相關介紹
X射線熒光光譜分析儀檢測過程制樣簡單無需復雜的化學預處理方式，是最基本的制樣方法，檢測方法快速簡便,經濟且不會造成其他污染，儀器檢測的優勢得到了充分的發揮和展現，除了礦石檢測，XRF在在土壤和環境樣品分析中的應用也愈發重要，還應用于鋼鐵、冶金、水泥、商檢等各個領域，而且還在向更細化的研究領域逐步
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
關于X射線單晶體衍射儀的數據的積累的介紹
從前述的應用已經看出，晶體結構的測定及結構與性能關系的研究，是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構，但還有許多未能測定，而且還不斷有新化合物，新晶體出現，因此不斷的測定他們的結構，加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫，如： ⑴劍橋結構數據庫（CSD）。包