關于X射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯膜或聚脂膜做窗材，工作氣體是 PR氣（比例是 9：1 的氬 -甲烷混合氣），如果在沒有供應 PR 氣的情況下使用流氣正比計數器，檢測器的窗口可能會破裂。所以，在使用流氣正比計數器時一定要連續供氣。 流氣正比計數器的芯線上加有約 2 000 V 高壓，PR 氣以 40 ml/min~50 ml/min 的流量流過其周圍，長期使用后，雜質就會附著在芯線上，造成計數器芯線的污染，從而影響正比計數器的能量分辨率，芯線污染后約 1 個月就開始出現分辨率下降，3 個月就會給分析帶來誤差，這時就必須對芯線進行清洗。新型的光譜儀都設有......閱讀全文
關于X－射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
關于閃爍X射線探測器的介紹
在介紹閃爍探測器之前，必須先了解光脈沖，當閃爍物質受到放射線或其他高能粒子輻照時會激發阻止介質原子，被激發的原子由激發態退激回到基態時會形成熒光脈沖[7]。閃爍探測器正是利用某些物質在核輻射的作用下會發光的這一特性工作的。閃爍探測器主要是由被封閉在一個不透明的外殼里的閃爍體、接收光的收集系統、光
關于X－射線熒光儀真空系統的介紹
真空系統是 X射線熒光光譜儀的重要組成部分。儀器工作時，光譜室被抽成真空狀態，以減少空氣對 X 射線的干擾，提高儀器的分辨率。 真空系統容易出問題的地方主要有 3 部分：真空泵、樣品室、光譜室。分析樣品時，在快門打開之前，真空泵是與樣品室相通的。當采用壓片法進行分析時，由于抽真空會使一部分
X射線熒光光譜儀探測器簡介
X射線熒光光譜儀常用的探測器有流氣正比計數器和閃爍計數器，流氣正比計數器用于輕元素檢測，閃爍計數器用于重元素檢測。 流氣正比計數器由金屬圓筒（陰極）、金屬絲（陽極）、窗口及探測氣體（惰性氣體）構成。陽極都制成均勻光滑的細絲線，一般由鎢、鉬、鉑、金等穩定的金屬絲制成。 流氣正比計數器中一般選用
X射線衍射儀的的X射線探測器和控制裝置介紹
（1）X射線探測器 —— 測量X射線強度的計數裝置； 計數器的主要功能是將X射線光子的能量轉換成電脈沖信號。通常用于X射線衍射儀的輻射探測器有正比計數器、閃爍計數器和位敏正比探測器。 （2）X射線系統控制裝置 —— 數據采集系統和各種電氣系統、保護系統。 X射線能對人體組織造成傷害，在自己
關于X－射線熒光儀檢測晶體的清洗介紹
晶體的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面鍍有 C，以防止晶體潮解，使用的時候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶體就容易損壞。另外，清洗時應該將晶體在容器洗液中來回晃動，一般不要擦拭。 晶體有很大的溫度系數，所以，反射角很大的元素將很容易受溫度影響。A
如何選擇X射線熒光分析儀的探測器？
真正評估一款分析儀是否合適，是了解它可以為您想要檢測的元素提供怎樣的分析結果。首先要從探測器上進行選擇： X射線熒光分析儀的探測器類型：PIN還是SDD 手持式XRF分析儀有兩種類型的探測器：PIN和SDD。PIN探測器是一種較為落后的技術，與SDD(硅漂移探測器)相比，價格更便宜，不過，其
X射線熒光儀的相關介紹
X射線熒光儀一般是采用，激發樣品中的目標元素，使之產生特征X射線，通過測量特征X射線的照射量率來確定目標元素及其含量的儀器。 儀器分為室內分析、野外便攜式和X射線熒光測井儀三種類型。各種類型的儀器均由探測器和操作臺兩部分組成。由于目前使用的探測器（正比計數管及閃爍計數器）能量分辨率不高，不能區
X射線熒光光譜儀X射線吸收的介紹
當X射線穿過物質時，一方面受散射作用偏離原來的傳播方向，另一方面還會經受光電吸收。光電吸收效應會產生X射線熒光和俄歇吸收，散射則包含了彈性和非彈性散射作用過程。 當一單色X射線穿過均勻物體時，其初始強度將由I0衰減至出射強度Ix，X射線的衰減符合指數衰減定律： 式中，μ為質量衰減系數；ρ為樣
X射線熒光光譜儀X射線的衍射介紹
相干散射與干涉現象相互作用的結果可產生X射線的衍射。X射線衍射與晶格排列密切相關，可用于研究物質的結構。 其中一種用已知波長λ的X射線來照射晶體樣品，測量衍射線的角度與強度，從而推斷樣品的結構，這就是X射線衍射結構分析（XRD）。 另一種是讓樣品中發射出來的特征X射線照射晶面間距d已知的晶體
X射線熒光光譜儀X射線散射的介紹
除光電吸收外，入射光子還可與原子碰撞，在各個方向上發生散射。散射作用分為兩種，即相干散射和非相干散射。 相干散射：當X射線照射到樣品上時，X射線便與樣品中的原子相互作用，帶電的電子和原子核就跟隨著X射線電磁波的周期變化的電磁場而振動。因原子核的質量比電子大得多，原子核的振動可忽略不計，主要是原
關于X射線熒光光譜的介紹
X射線熒光光譜(XRF, X Ray Fluorescence)是通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X-Ray Fluorescence)，受激發的樣品中的每一種元素會放射出X射線熒光，并且不同的元素所放射出的X射線熒光具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來
關于X射線熒光分析的分類介紹
1、根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長
關于X射線探測器的基本信息介紹
X射線探測器主要是用于測量目標樣品發出的X射線熒光，目前市場上已經有多種不同類型的X射線熒光分析探測器可用。能量色散X射線熒光光譜分析技術通常使用的為固態探測器，例如SI-PIN探測器或者硅漂移探測器（SSD）等。每種類型的探測器在不同的應用方面都具有不同的優劣勢，因此并不存在最好與最差之分，只
X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。
X射線熒光分析儀的介紹
X射線熒光分析儀主要由激發、色散（波長和能量色散）、探測、記錄和測量以及數據處理等部分組成。X射線光譜儀與X射線能譜儀兩類分析儀器有其相似之處，但在色散和探測方法上卻完全不同。在激發源和測量裝置的要求上，兩類儀器也有顯著的區別。X射線熒光分析儀按其性能和應用范圍，可分為實驗室用的X射線熒光光譜儀
X射線熒光光譜儀的探測器應該如何選擇
X射線熒光光譜是一種常用的光譜技術，既可用于材料的組成成分分析，又可用于涂層和多層薄膜厚度的測量等。對于不同的應用用途，X射線熒光光譜儀體系中探測器的選擇也不盡相同。對于定性分析往往需要用到硅漂移探測器。硅漂移探測器（SDDs）能夠提高低能量敏感度，使得X射線熒光光譜技術可以對一些低原子序數元素進行
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
SDD探測器在X射線熒光光譜儀的應用
硅漂移探測器（SiliconDriftDetector，簡稱SDD）是半導體探測器的一種； 用來探測X射線，廣泛應用在能量色散型X射線熒光光譜儀（XRF）或者X射線能譜儀（EDS）上。 XRF合金分析儀使用了大面積的SDD探測器之后，分析速度快速的提高2倍，使得分析數據的穩定性
關于X射線熒光光譜儀的應用特點介紹
X射線熒光光譜儀（XRF）是用于元素定量分析的儀器，廣泛應用于鋼鐵、水泥、石油化工、環境保護、有色冶煉、材料、科研等各個領域，其在制樣方便、無損、快速等方面優于其它分析方法，但其在定量精度和樣品適應范圍等方面一直存在挑戰。 當前XRF廣泛應用的領域往往具備三個特點：一是樣品基體相對穩定；二是分
關于X射線熒光光譜儀的維護保養介紹
1、進樣系統的維護保養 待儀器關閉后打開儀器外蓋，卸下進樣系統上的樣品杯，卸開樣品杯用酒精紗布清理樣品杯的所有部件，用酒精紗布清理射線管底座的O環，待清理完后安裝好樣品杯和儀器外蓋開機，維護完畢。 2、循環水的維護保養 換外循環水：首先按正常程序關閉儀器包括儀器背面的主電源，關閉循環水機，
X射線探測器的結構相關介紹
CT機種的X射線探測器結構如圖所示。位于管套中的真空管為旋轉陽極式的射線管。管內設有陽極、陰極、燈絲和轉子，在真空管外部對應陽極轉子處設有定子線圈。定子線圈通入電流產生旋轉磁場，在銅質的轉子中產生。 一個典型的探測器包括：閃爍體、光電轉換陣列和電子學部分。此外還有軟件、電源等附件。目CT中常用
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光（XRF）儀的結構組成介紹
一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線探測器概述
X射線探測器（X-raydetector）是CT成像的核心，將肉眼看不到的“X射線”轉換為最終能轉變為圖像的“數字化信號”。 x射線探測器是一種將X射線能量轉換為可供記錄的 電信號的裝置。它接收到射線照射，然后產生與輻射強度成正比的電信號。 通常探測器所接受到的射線信號的強弱，取決于該部位的人
X熒光光譜儀三種X射線探測器的比較及應用
X熒光光譜儀是測定材料發光性能的基本設備。主要包括光源、激發單色器、樣品池、熒光單色器及探測器等主要部件。而探測器是很重要的一環，它的重要作用是接受和分辨信號，由于探測器性能的不同，在選用探測器時，就需要綜合考慮多種因素。 好的探測器不僅需要具有高分辨率和高計數率，還需要有較寬的元素分析范圍
關于X射線熒光分析儀的基本原理介紹
X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀和能量（energy）色散X射線熒光光譜儀； 波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關(related)電子與控制部件，相對簡單。 X射線熒光分析儀基本原理
半導體X射線探測器相關介紹
半導體探測器是以半導體材料為探測介質的輻射探測器。鍺和硅是我們最通用的半導體探測材料，其基本原理與氣體電離室相類似。晶體計數器可以認為是半導體探測器的前身，20世紀初期人們發現在核輻射下可以通過某些固體電介質產生電導現象，在這之后金剛石、氯化銀等晶體計數器又相繼被人們發明。可是我們至今無法解決晶