小角X射線散射技術測定納米顆粒的介紹
小角X射線散射技術被廣泛用來測定納米粉末的粒度分布，其粒度分析結果所反映的既非晶粒亦非團粒，而是一次顆粒的尺寸。在測定中參與散射的顆粒數一般高達數億個，因此，在統計上有充分的代表性。 通過對Guinier曲線低角區域線性部分的擬合，得到試樣中氧化鋁顆粒的旋轉半徑約為6nm，表明在無機納米雜化薄膜體系中，納米顆粒未發生團聚現象。通過觀察Porod曲線發現，隨散射矢量h值的增大，曲線趨于水平直線。根據小角X射線散射理論中的Porod定律可知，該復合薄膜中納米顆粒與基體間的界面明確，說明薄膜中的PI分子鏈與無機納米顆粒間并未發生相互擴散、滲透以及纏結等現象。無機納米顆粒與有機分子鏈主要是通過化學鍵錨定在一起，此界面結構與經典的有機與無機相結合的化學鍵理論相一致。......閱讀全文
小角X射線散射技術測定納米顆粒的介紹
小角X射線散射技術被廣泛用來測定納米粉末的粒度分布，其粒度分析結果所反映的既非晶粒亦非團粒，而是一次顆粒的尺寸。在測定中參與散射的顆粒數一般高達數億個，因此，在統計上有充分的代表性。 通過對Guinier曲線低角區域線性部分的擬合，得到試樣中氧化鋁顆粒的旋轉半徑約為6nm，表明在無機納米雜化薄
小角X射線散射技術測定離聚體的介紹
離聚體是指共聚物中含有少量離子的聚合物。由于高分子鏈存在著離子化的側基，可形成離子聚合體，從而使此類聚合物具有獨特的結構和性能。小角X射線散射技術還可用于嵌段共聚物、膠體高分子溶液以及生物大分子等研究領域，用來測量分子量、粒子旋轉半徑以及形變和取向等。
小角X射線散射技術測定非晶合金的介紹
非晶合金也稱金屬玻璃，它是急冷得到的亞穩定合金，在加熱過程中會產生一系列的轉變，逐漸由亞穩態轉變到穩定態。在這個過程中會發生相分離以及晶化過程。已有許多學者利用小角X射線散射技術來研究非晶合金中的這些轉變。 用原位小角X 射線散射研究了塊體非晶合金Zr55Cu30Al10Ni5的退火行為。研究
小角X射線散射技術測定金屬的缺陷的介紹
金屬經輻照或從較高溫度淬火產生空位聚集，會引起相當強的小角散射。由于粒子體系和孔洞體系是互補體系，二者產生的散射是相同的。在306～319℃退火空洞會被部分地退火消除，旋轉半徑迅速增大；而在306℃之前，空洞則非常穩定。
小角X射線散射技術測定合金中的析出相介紹
早在1938年，Guinier就已經用小角X射線散射技術研究合金中的非均勻區（現稱作GP區），揭示了一些亞穩分解產物。如今小角X射線散射技術被越來越多地用于合金時效過程的研究，從而進行相變動力學研究等。 在形核階段，析出相半徑變化很小；在長大過程中，析出相基本滿足拋物線長大規律；在粗化階段，析
小角X射線散射的簡介
小角X射線散射（SAXS）是指當X射線透過試樣時，在靠近原光束2°～5°的小角度范圍內發生的散射現象。早在1930年，Krishnamurti就觀察到炭粉、炭黑和各種亞微觀大小的微粒在X射線透射光附近出現連續散射現象。 小角X射線散射被越來越多地應用于材料微觀結構研究，其研究趨勢逐年增長。小角
關于小角X射線散射的性質介紹
一種區別于X射線大角（2θ從5 ～165 ）衍射的結構分析方法。利用X射線照射樣品，相應的散射角2θ小（5 ～7 ），即為X射線小角散射。用于分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子（或固體物質中的超細空穴）的大小、形狀及分布。對于高分子材料，可測量高分子粒子或空隙大小
小角X射線散射技術測定結晶聚合物的介紹
所謂結晶聚合物，實際都是部分結晶，其結晶度一般在50%以下。小角X射線散射研究發現，高結晶度的線性聚乙烯、聚甲醛和聚氧化乙烯等聚合物的散射曲線尾部服從Porod定理，表明近似于理想兩相結構。但是，大多結晶度較低聚合物的散射曲線顯示出尾部迅速降低，偏離Porod定理，表明晶相與非晶相之間存在過渡層
小角X射線散射儀簡介
小角X射線散射儀是一種用于物理學、化學領域的分析儀器，于2013年1月12日啟用。 技術指標 最大功率：40kV、50mA；小角測量范圍（q）：0.07°～5°；大角測量范圍（q）：0.07°～40°。 主要功能 1)分散體系中粒子的形貌、尺寸、孔結構以及尺寸分布等； 2)高分子聚合物
關于小角X射線散射的簡介
小角X射線散射是一種區別于X射線大角（2θ從5 ～165 ）衍射的結構分析方法。一種區別于X射線大角（2θ從5 ～165 ）衍射的結構分析方法。利用X射線照射樣品，相應的散射角2θ小（5 ～7 ），即為X射線小角散射。用于分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下超細粉末粒子（或固體