X射線熒光探針儀的基本信息介紹
技術指標 微聚焦X光管最大功率40kV,1.0mA；試樣上X光聚焦點直徑300um,100um,40um；10x黑白，100x(200x)彩色CCD攝像頭；樣品室尺寸330x250x330mm；自動樣品臺行程100x100x100mm。 [1] 主要功能 探頭指標高，性能好，壽命長。；全新32位軟硬件系統，工作可靠，效率高。；具有操作引導的集成式界面，使用直觀方便。；具有多種專有技術軟件，分析精度高。；軟件種類及功能豐富，且具有報告生成系統。......閱讀全文
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
x射線熒光和x射線衍射的區別在于前者是對材料進行成份分析的儀器，而后者則主要是對材料進行微觀結構分析以便確定其物理性狀的設備。
X射線衍射儀與X射線熒光光譜儀的區別
X射線衍射儀（XRD）是礦物學研究領域內的主要儀器,用于對結晶物質的定性和定量分析。X射線熒光光譜儀（XRF）是通過測定二次熒光的能量來分辨元素的，可做定量或定性分析。兩種儀器構造與使用對象不同，XRD要復雜，XRF通常比較小。
X射線熒光光譜儀的詳細介紹
X射線熒光光譜(XRF)是一種應用十分廣泛的元素分析方法,利用X射線熒光光譜儀可以直接分析固體、粉末和液體樣品,具有制樣簡單、測試效率高、可以進行非破壞性分析等特點。秒中對樣品進行快速合金分析，秒即可進行實驗室精度的測量。具有合金分析軟件，內嵌數百種常見合金號，中英文界面自由切換、操作簡易，即使
X射線熒光光譜儀的優點介紹
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與
X射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與測
關于X－射線熒光儀檢測晶體的清洗介紹
晶體的清洗：LiF、Ge 使用二甲苯清洗；PET、TAP 使用丙酮清洗，但是二者表面鍍有 C，以防止晶體潮解，使用的時候不要擦掉，洗后如果失去 C，晶體就容易損壞。另外，清洗時應該將晶體在容器洗液中來回晃動，一般不要擦拭。 晶體有很大的溫度系數，所以，反射角很大的元素將很容易受溫度影響。A
X射線熒光光譜儀的分類介紹
根據X射線熒光的產生原理，一臺X射線熒光光譜儀在結構上主要由激發源、色散系統、探測系統等3部分組成。按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。下面主要介紹波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）的儀器結構
關于X－射線熒光儀探測器的介紹
流（充）氣正比計數器和閃爍計數器用于探測不同的元素，其中充氣正比計數器一般是填充 Ar、Kr 等惰性氣體；一定要注意此類計數器頭部玻璃很容易破碎，不能碰撞；長期使用后，充氣正比計數器頭部容易吸附灰塵影響計數，應該定期清理。流氣正比計數器是讓探測器氣體流動，一般是用1 μm~6 μm 厚的聚丙烯
X射線熒光（XRF）：理解特征X射線
什么是XRF？ X射線熒光定義：由高能X射線或伽馬射線轟擊激發材料所發出次級（或熒光）X射線。這種現象廣泛應用于元素分析。 XRF如何工作？ 當高能光子（X射線或伽馬射線）被原子吸收，內層電子被激發出來，變成“光電子”，形成空穴，原子處于激發態。外層電子向內層躍遷，發射出能量等于兩級能
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀特點對比
X射線熒光光譜儀和X射線熒光能譜儀各有優缺點。前者分辨率高，對輕、重元素測定的適應性廣。對高低含量的元素測定靈敏度均能滿足要求。后者的X射線探測的幾何效率可提高2～3數量級，靈敏度高。可以對能量范圍很寬的X射線同時進行能量分辨(定性分析)和定量測定。對于能量小于2萬電子伏特左右的能譜的分辨率差。
X射線熒光光譜儀X射線光管結構
常規X射線光管主要采用端窗和側窗兩種設計。普通X射線光管一般由真空玻璃管、陰極燈絲、陽極靶、鈹窗以及聚焦柵極組成，并利用高壓電纜與高壓發生器相接，同時高功率光管還需要配有冷卻系統。側窗和端窗X射線光管結構如圖6和圖7所示。 當電流流經X射線光管燈絲線圈時，引起陰極燈絲發熱發光，并向四周發射電子
X射線熒光光譜儀熒光光譜的相關介紹
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的 半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍
x射線測厚儀的基本信息介紹
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。 適用范圍：生產鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產品的企業，可以與軋
關于X射線的基本信息介紹
X射線，是一種頻率極高，波長極短、能量很大的電磁波。 X射線的頻率和能量僅次于伽馬射線，頻率范圍30PHz~300EHz，對應波長為0.01nm~10nm [12] ，能量為124eV~1.24MeV。X射線具有穿透性，但人體組織間有密度和厚度的差異，當X射線透過人體不同組織時，被吸收的程度不
X－射線熒光光譜儀
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
X射線熒光分析技術相關介紹
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級X射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。 X射線是一種電磁輻射，按傳統的說法，其波長介于紫外線和γ射線之間，但隨著高能電子加速器的發展，電子軔致輻射所產生的X射線的
X射線熒光光譜儀相關知識介紹
X射線熒光光譜儀是一種常用的光譜儀產品，可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜儀具有靈明度強、度高、檢測范圍廣、自動快速等特點，廣泛應用于地質、冶金、有色金屬加工、建材、考古等領域，在主、次量和痕量元素分析中發揮的作用日趨重要
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光分析儀的缺點
關于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品里含有C、H、O等元素，會出現誤差。 不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。 對于鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪制，分析結果的精確性是建立在標樣
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光光譜儀的粒度效應介紹
在熒光強度的推導公式中，假設的樣品都是均勻且表面光滑的。但是實際上只有液體樣品或經過充分拋光的純金屬或某些合金樣品才能滿足這些條件。對于其他固體樣品特別是粉末樣品常常存在著樣品不均勻及粒度效應和表面效應。 均勻樣品，對于固體粉末樣品來說是指粉末的粒度和化學組成完全相同的樣品。實驗表明這種樣品在
X射線熒光光譜儀分類的相關介紹
按照色散方式的不同，X射線熒光光譜儀可以分為2類：波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF）。 能量色散型x射線光譜儀 現代應用X射線熒光光譜分析技術目前已在地質、冶金、材料、環境等無機分析領域得到了廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析最重要的技術手
X射線熒光光譜儀的物理原理介紹
當材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅逐內層軌道的電子，然而這使原子的電子結構不穩定，在外軌道的電子會“回補”進入低軌道，以填補遺留下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質
X射線熒光光譜儀的分析方法介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點，分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。X射線熒光光譜法有如下特點：?分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方
X射線熒光光譜儀的測量范圍介紹
儀器可以定量分析周期表中90％以上的元素，從鎂到更重的元素。這些可測定的元素覆蓋了商用發展以及合金中使用的大部分學生文化傳統元素。這種方法的x射線分析儀檢查技術能力，基于學生獲取材料主要成分的信息，可以獲得鋁合金、不銹鋼、鉻鉬合金、多管和法蘭材料，很多企業基于這些合金、青銅合金、各種社會其他一些