X射線單晶體衍射儀的回擺法的簡介
樣品的轉軸垂直于入射單色X射線，圍繞轉軸安裝園筒狀底片或在晶體后方，垂直于入射線安裝平板底片。若晶體的某一晶軸（如a或b,c）與轉軸平行，則在園筒狀底片上會出現平行直線，平板底片則出現上下對稱的雙曲線。若讓晶體在一個不大的角度范圍（如10）內做擺動，則能產生的衍射數量不多，衍射點不會重疊。使擺動范圍連續變動，一套完整的衍射數據需由一套（如幾十張）擺動照片組成，其數量與晶體的對稱性有關。 回擺法是一種早就發明的衍射方法，它的記錄介質過去用的是照相底片，很不方便，因此用得不多。二十世紀九十年代發展出一種稱為影象板（image-plate IP）的記錄介質，由于其靈敏度高，記錄的強度準確，且使用方便，實驗時間短，獲得了推廣，應用到回擺法，使回擺法獲得新生，成為測定單晶體結構的主要方法。以后又出現了新型探測器電荷偶合器件（charge-couple device CCD），其性能在一些方面更優于IP，有成為主要探測器的趨勢。......閱讀全文
X射線單晶體衍射儀的回擺法的簡介
樣品的轉軸垂直于入射單色X射線，圍繞轉軸安裝園筒狀底片或在晶體后方，垂直于入射線安裝平板底片。若晶體的某一晶軸（如a或b,c）與轉軸平行，則在園筒狀底片上會出現平行直線，平板底片則出現上下對稱的雙曲線。若讓晶體在一個不大的角度范圍（如10）內做擺動，則能產生的衍射數量不多，衍射點不會重疊。使擺動
x射線單晶體衍射儀實驗回擺法相關介紹
回擺法 回擺法的裝置樣品的轉軸垂直于入射單色X射線，圍繞轉軸安裝園筒狀底片或在晶體后方，垂直于入射線安裝平板底片。若晶體的某一晶軸（如a或b, c）與轉軸平行，則在園筒狀底片上會出現平行直線，平板底片則出現上下對稱的 雙曲線。若讓晶體在一個不大的角度范圍（如10）內做擺動，則能產生的衍射數量
x射線單晶體衍射儀的應用簡介
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
X射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
x射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer,簡寫為XRD)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解
x射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
X射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用，其應用面很寬，不能盡述，略談幾點如下：（一）．晶體結構的成功測定，在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實，使晶體的許多特性得到了解釋：如晶體能自發長成多面體外形（自范性），如
X射線單晶體衍射儀的介紹
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
x射線單晶體衍射儀對實驗的要求和實驗儀器
對實驗的基本要求 要按式（4）來求解晶體結構，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準確, 這樣所得的ρ(x,y,z)分辨率就高，求得的結構就準確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低，不易測得。如何在三維空間測得盡可能多的，盡可能
x射線單晶體衍射儀的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的 平行六面體（稱 晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或 晶胞參數,見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平
x射線單晶體衍射儀數據的積累
數據的積累 從前述的應用已經看出，晶體結構的測定及結構與性能關系的研究, 是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構,但還有許多未能測定,而且還不斷有新化合物，新晶體出現, 因此不斷的測定他們的結構,加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫，如： 1、劍橋結構
X射線單晶體衍射儀的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或晶胞參數，見圖1。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行
x射線單晶體衍射儀同步輻射
是一種大科學裝置，設備大投資高，一般都需要政府投資，不是一般實驗室所能具備的，需要 申請立項才能使用。因此，如果能發展出高強度的實驗室光源和極高靈敏度的探測器，使在一般實驗室中也能測定生物大分子結構，則絕對是有益的。 有許多生物反應的速度是相當快的, 如血紅蛋白與一氧化碳的結合，速度在納秒級（
簡介x射線單晶體衍射儀派特遜函數的定義
派特遜函數的定義 從派特遜圖上可以比較容易地得到晶體中所含重原子的位置坐標，可依此計算各衍射的相角 αHKL，將此αHKL去與實驗測得的結構振幅|FHKL|結合生成FHKL，可據此計算電子密度圖，可以定出更多原子的原子位置及修正已有的原子位置。再利用這些數據重新計算αHKL、FHKL及ρ（x
簡述X射線單晶體衍射儀的同步輻射
是一種大科學裝置，設備大投資高，一般都需要政府投資，不是一般實驗室所能具備的，需要申請立項才能使用。因此，如果能發展出高強度的實驗室光源和極高靈敏度的探測器，使在一般實驗室中也能測定生物大分子結構，則絕對是有益的。 有許多生物反應的速度是相當快的,如血紅蛋白與一氧化碳的結合，速度在納秒級（10
X射線單晶體衍射儀的發展方向
數據的積累從前述的應用已經看出，晶體結構的測定及結構與性能關系的研究，是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構，但還有許多未能測定，而且還不斷有新化合物，新晶體出現，因此不斷的測定他們的結構，加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫，如：⑴劍橋結構數據庫（CSD）。
簡述X射線單晶體衍射儀的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的平行六面體（稱晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或晶胞參數。這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平行等距
x射線單晶體衍射儀相關的基本公式
由于晶體中原子是周期排列的，其周期性可用點陣表示。而一個三維點陣可簡單地用一個由八個相鄰點構成的 平行六面體（稱 晶胞）在三維方向重復得到。一個晶胞形狀由它的三個邊（a,b,c）及它們間的夾角（γ，α，β）所規定，這六個參數稱點陣參數或 晶胞參數,這樣一個三維點陣也可以看成是許多相同的平面點陣平
x射線單晶體衍射儀四圓衍射儀法
四圓衍射儀法 常用閃爍計數器作探測器。入射光和探測器在一個平面內（稱 赤道平面）, 晶體位于入射光與探測器的軸線的交點，探測器可在此平面內繞交點旋轉，因此只有那些法線在此平面內的晶面族才可能通過樣品和探測器的旋轉在適當位置發生衍射并被記錄。如何讓那些法線不在赤道平面內的面族也會發生衍射并能被記
x射線單晶體衍射儀實驗儀器相關介紹
實驗儀器 若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數的晶面能符合布拉格公式而發生衍射。如何才能使各晶面族都發生衍射呢？最常用的方法就是轉動晶體。轉動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產生衍射。目前常用的收集
關于X射線單晶體衍射儀的實驗儀器要求
若將一束單色X射線射到一粒靜止的單晶體上，入射線與晶粒內的各晶面族都有一定的交角θ，其中只有很少數的晶面能符合布拉格公式而發生衍射。如何才能使各晶面族都發生衍射呢？最常用的方法就是轉動晶體。轉動中各晶面族時刻改變著與入射線的交角，會在某個時候符合布拉格方程而產生衍射。目前常用的收集單晶體衍射數據
x射線單晶體衍射儀可能的發展方向
數據的積累 從前述的應用已經看出，晶體結構的測定及結構與性能關系的研究, 是今后走上人類按需設計新材料的基礎。今日雖已測了許多晶體的結構,但還有許多未能測定,而且還不斷有新化合物，新晶體出現, 因此不斷的測定他們的結構,加以總結分析是十分必要的。當今已有多個晶體結構數據庫，如：（1）劍橋結構數
簡述X射線單晶體衍射儀的基本要求
要按式⑷來求解晶體結構，就要有盡可能多的衍射的FHKL，而且其值要準確，這樣所得的ρ（x,y,z）分辨率就高，求得的結構就準確。一粒小晶體衍射的X射線是射向整個空間的。具有大的HKL，也即大θ或小d值的衍射的強度一般比較低，不易測得。如何在三維空間測得盡可能多的，盡可能準確的衍射線強度成為對X射
概述X射線單晶體衍射儀的應用領域
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用，其應用面很寬，不能盡述，略談幾點如下： （一）晶體結構的成功測定，在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實，使晶體的許多特性得到了解釋：如晶體能自發長成多面體外形（自范性
X射線單晶體衍射儀的結構與性能關系
按照已知的結構和性能的關系設計制造需要的新材料是進行大量結構測定的目的。如何總結大量已測結構的規律并與其性能、功能相聯系是今后的任務之一。特別是生物結構與功能的關系。進一步如何利用這種關系設計制造人類需要的材料，藥物等，更是永不完結的任務。
關于X射線單晶體衍射儀結構的發展介紹
目前雖已有各種方法用來解決相角的問題，但要置換許多同晶化合物還是頗費時和頗昂貴的，如果能如小分子那樣用直接法來解決相角問題，將會方便許多。中國科學家范海福院士是研究直接法的世界權威人物，正在進行這方面的研究。
X射線單晶體衍射儀的實驗方法發展
目前的實驗室單晶體結構分析方法對于測定小分子的單晶體結構已經是相當完美了，但對于巨大的生物大分子就顯得軟弱無力，主要是光源強度不夠，光的平行性不良，波長又不好調。目前主要要依靠同步輻射作為X射線源。中國二個同步輻射光源之一的位于合肥的國家同步輻射實驗室（NSRL）已勝利完成用于生物大分子結構測定
x射線衍射儀的相關簡介
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。 X射線衍射儀的英文名稱是
x射線衍射儀的原理簡介
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德
x射線單晶體衍射儀衍射數據的處理一般步驟
1． 選擇大小適度，晶質良好的 單晶體作試樣, 收集衍射數據。 2． 指標化衍射圖，求出晶胞常數，依據全部衍射線的衍射指標，總結出消光規律，推斷晶體所屬的 空間群。 3． 將測得的衍射強度作吸收校正，LP校正等各種處理以得出結構振幅|F|。 4． 相角和初結構的推測。常用推測相角的方法有派