自準直光路的實驗原理
當發光點（物）處在凸透鏡的焦平面時，它發出的光線通過透鏡后將為一束平行光，若與光軸垂直的平面鏡將此平行光反射回去，反射光再次通過透鏡后仍會聚于透鏡的焦平面上，其會聚點將在發光點相對于光軸的對稱位置上。......閱讀全文
自準直光路的實驗原理
當發光點（物）處在凸透鏡的焦平面時，它發出的光線通過透鏡后將為一束平行光，若與光軸垂直的平面鏡將此平行光反射回去，反射光再次通過透鏡后仍會聚于透鏡的焦平面上，其會聚點將在發光點相對于光軸的對稱位置上。
高斯型自準直儀的光路原理
如果反射鏡嚴格與光軸垂直，則十字線在分劃板上所成的像與原來的十字線完全重合。若反射鏡有一微小轉角α ，則十字線 的像將偏離原來的十字線，其偏離量的大小可 從測微目鏡6中讀出。高斯型1-反射鏡；2-物鏡；3-分劃板； 4-光源；5-分光鏡；6-目鏡
自準直光路的概念
光線通過位于物鏡焦平面的分劃板后，經物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來，再通過物鏡后在焦平面上形成分劃板標線像與標線重合。當反射鏡傾斜一個微小角度α角時，反射回來的光束就傾斜2α角。在測角儀上也可采用自準直法測量材料的折射率，光線在棱鏡前表面的入射角為i,如果折射光線OC剛好垂直于棱
阿貝型自準直儀的光路原理
阿貝型自準直儀1-物鏡；2-分劃板；3-棱鏡；4-光源；5-反射鏡若平面反射鏡對光軸產生微小轉角α ，則十字線像將發生偏離，偏離量可從刻度尺上讀出。
自準直光路的試驗儀器
帶有毛玻璃的白熾燈光源S物屏P：SZ-14凸透鏡L：f=190mm（f=150mm）二維調整架：SZ-07（或透鏡架SZ-08）平面反射鏡M通用底座：SZ-04二維底座：SZ-02
雙分劃板型自準直儀光路原理
雙分劃板型自準直儀光路原理雙分劃板型自準直儀1-物鏡；2-指示分劃板；3-立方直角棱鏡；4-刻度分劃板若平面反射鏡對光軸有偏轉，將引起自準直像偏離十字線，由測微機構測出其偏離量，即可得出反射鏡對光軸的偏轉角。
高斯型自準直儀的光路原理和系統特點
（一）光路原理如果反射鏡嚴格與光軸垂直，則十字線在分劃板上所成的像與原來的十字線完全重合。若反射鏡有一微小轉角α ，則十字線 的像將偏離原來的十字線，其偏離量的大小可 從測微目鏡6中讀出。高斯型1-反射鏡；2-物鏡；3-分劃板； 4-光源；5-分光鏡；6-目鏡（二）高斯型系統特點優 點：高斯型系統是
阿貝型自準直儀的光路原理和系統特點
（一）光路原理阿貝型自準直儀1-物鏡；2-分劃板；3-棱鏡；4-光源；5-反射鏡若平面反射鏡對光軸產生微小轉角α ，則十字線像將發生偏離，偏離量可從刻度尺上讀出。（二）阿貝型系統特點優 點：是光強度大，亮度損失只有10-15%缺 點：是它的視場被膠合棱鏡遮擋了一半，又因光管出射光和反射光的方向不同，
雙分劃板型自準直儀的光路原理和系統特點
（一）光路原理雙分劃板型自準直儀1-物鏡；2-指示分劃板；3-立方直角棱鏡；4-刻度分劃板若平面反射鏡對光軸有偏轉，將引起自準直像偏離十字線，由測微機構測出其偏離量，即可得出反射鏡對光軸的偏轉角。（二）雙分劃板型系統特點優 點: 是視場不被遮擋，刻線可位于視場中央；目鏡焦距短，可獲得較大的放大倍率。
關于雙分劃板型自準直儀的光路原理和特點介紹
（一）于雙分劃板型自準直儀的光路原理 1-物鏡；2-指示分劃板；3-立方直角棱鏡；4-刻度分劃板 若平面反射鏡對光軸有偏轉，將引起自準直像偏離十字線，由測微機構測出其偏離量，即可得出反射鏡對光軸的偏轉角。 （二）于雙分劃板型自準直儀的雙分劃板型系統特點 優 點: 是視場不被遮擋，刻線可位
自準直法的實驗原理
當發光點（物）處在凸透鏡的焦平面時，它發出的光線通過透鏡后將為一束平行光，若與光軸垂直的平面鏡將此平行光反射回去，反射光再次通過透鏡后仍會聚于透鏡的焦平面上，其會聚點將在發光點相對于光軸的對稱位置上。
相稱顯微鏡的光路原理
相差光路比普通光學顯微鏡多了兩個元件：環形光闌（annular diaphragm）和相位板 （annular phaseplate ） 環形光闌：位于光源和聚光器之間。不同的環狀孔形成的光闌，它們的直徑和孔寬是與不同的物鏡相匹配的。由于透明圓環所成的像恰好落在物鏡后焦點平面和相板上的共軛面重
自準直儀的工作原理
由光源? 發出的光經分劃板、半透反射鏡和物鏡后射到反射鏡上。光線通過位于物鏡焦平面的分劃板后，經物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來，再通過物鏡后在焦平面上形成分劃板標線像與標線重合。當反射鏡傾斜一個微小角度α角時，反射回來的光束就傾斜2α角。
光電自準直儀的原理
光電自準直儀，ELP光電自準直儀是依據光學自準直成像原理。
自準直儀的工作原理
由光源發出的光經分劃板、半透反射鏡和物鏡后射到反射鏡上。光線通過位于物鏡焦平面的分劃板后，經物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來，再通過物鏡后在焦平面上形成分劃板標線像與標線重合。當反射鏡傾斜一個微小角度α角時，反射回來的光束就傾斜2α角。
平直度檢查儀的光路原理
光路原理平直度檢查儀1-光源；2-濾光片；3-分劃板；4-立方直角棱鏡；5、6-反射鏡；7-物鏡；8-體外反射鏡；9-固定分劃板；10-活動分劃板； 11-目鏡； 12-測微螺桿；13-測微鼓輪
設定光路
設定光路(1)??點擊按鈕，啟動Optical path畫面。(2)??點擊[DU4]按鈕，選擇標準探測器（檢測器）。(3)??點擊[Auto]按鈕，以自動模式設定Optical Path。(4)??勾選要使用的通道。?選擇染料名，點擊各ch按鈕，進行模擬色彩的設定。*如僅拍攝透射圖像，可勾選488
簡述自準直儀的基本原理
自準直儀由光源 [2]發出的光經分劃板、半透反射鏡和物鏡后射到反射鏡上。光線通過位于物鏡焦平面的分劃板后，經物鏡形成平行光。平行光被垂直于光軸的反射鏡反射回來，再通過物鏡后在焦平面上形成分劃板標線像與標線重合。當反射鏡傾斜一個微小角度α角時，反射回來的光束就傾斜2α角。
音頻光端機的光路問題
安防監控工程中，光纜大多數都由用戶自行敷設，一般為G652單模光纖。由于系統覆蓋范圍一般都不大，用標配(≤20KM)設備光鏈路損耗都很富裕，因此，光端機對光路損耗沒有過高的要求，但是用戶常會遇到無圖像、圖像跳動、圖像質量差等問題，這時多數問題都出在光路兩端的尾纖、跳線或適配器上，而極少與主干光路
介質的折射率的測量方法介紹
介質的折射率通常由實驗測定，有多種測量方法。對固體介質，常用最小偏向角法或自準直法，或通過邁克爾遜干涉儀利用等厚干涉的原理測出；液體介質常用臨界角法（阿貝折射儀）；氣體介質則用精密度更高的干涉法（瑞利干涉儀）。測量方法如下：偏向角法(2)對于一個頂角為θ、折射率為n待測的棱鏡，將它放在空氣中(?=?
介質的折射率的測定方法
介質的折射率通常由實驗測定，有多種測量方法。對固體介質，常用最小偏向角法或自準直法，或通過邁克爾遜干涉儀利用等厚干涉的原理測出；液體介質常用臨界角法（阿貝折射儀）；氣體介質則用精密度更高的干涉法（瑞利干涉儀）。測量方法如下：偏向角法(2)對于一個頂角為θ、折射率為n待測的棱鏡，將它放在空氣中(?=?
帶參考光路的反射探頭
FCR-14xx200-2-REF是一種用于獲取被測材料的漫反射或鏡面反射的光譜信息的特殊反射探頭。?它增加了一根參考光纖，這樣可以通過光譜儀的第2個通道來校正光源本身的波動。它由12根光纖組成，通過標準的SMA905接頭可以把照射光源的光耦合到?光纖束中。這12根光纖分成2×6根，其中6根光纖一直
光端機光路問題怎么解決？
安防監控工程中，光纜大多數都由用戶自行敷設，一般為G652單模光纖。由于系統覆蓋范圍一般都不大，用標配（≤20KM）設備光鏈路損耗都很富裕，因此，光端機對光路損耗沒有過高的要求，但是用戶常會遇到無圖像、圖像跳動、圖像質量差等問題，這時多數問題都出在光路兩端的尾纖、跳線或適配器上，而極少與主干光路
波分器怎樣檢測光路有沒有通光
使用光源和光功率計進行測試。根據查詢百度愛采購網顯示，使用光源和光功率計進行測試，光源和光功率計是檢測光纖通暢性的重要工具，使用這些工具可以測量光的送入和送出功率，從而判斷波分器光纖傳輸是否正常，光路有沒有通光。
實驗室氣路系統結構及原理
一. 結構特點氣壓系統主要由以下組成：壓縮空氣氣源、動力系統操控氣路、底盤氣路、絞車氣路、司鉆操控。?壓縮空氣氣源整車共用，底盤氣路和絞車氣路均為相對獨立管路，并彼此鎖定；分動箱的動力操作手柄在切換發動機動力時，同時切換壓縮空氣氣源。鉆機車在行進狀況接通底盤氣路，鉆修工作接通絞車氣路。當二者其一管路
自準直儀的應用
常用于測量導軌的直線度、平板的平面度(這時稱為平面度測量儀)等，也可借助于轉向棱鏡附件測量垂直度等。光電自準直儀多應用于航空航天、船舶、軍工等要求精密度極高的行業，例如機械加工工業的質量保證（平直度、平面度、垂直度、平行度等）、計量檢定行業中角度測試標準 、棱鏡角度定位及監控、光學元件的測試及安裝精
傳感器的光路形式介紹
傳感器的光路形式有兩種：一種是透射式光柵，它的柵線刻在透明材料（如工業用白玻璃、光學玻璃等）上；另一種是反射式光柵，它的柵線刻在具有強反射的金屬（不銹鋼）或玻璃鍍金屬膜（鋁膜）上。這種傳感器的優點是量程大和精度高。光柵式傳感器應用在程控、數控機床和三坐標測量機構中，可測量靜、動態的直線位移和整圓角位
帶參考光路的反射探頭參數
光纖束 14?根?200?μ?m?芯徑?光纖?,?其中?12?根照明光纖?,?2x1?根探測光纖?,?N.A.?=?0.22.?標準長???度?2?m,?分束器位于光纖中部。?波長范圍? 200-800?nm?(UV/VIS)或350-2500?nm?(VIS/NIR)?或250-2500??nm?
斐索干涉儀的光路
單色光源如氦氖激光器照明小孔H，形成一點光源。點光源射出的光束經分光鏡G反射后，射向透鏡L2，變成平行光束，然后垂直射向標準平晶P。一部分光被P上表面反射，另一部分光透過P射向被測件Q。被Q上表面反射的光束和被P上表面反射的光束進人觀測系統后，會產生等厚干涉條紋，用以測量Q上表面的面形誤差。若將
單色器光路的排列和分類
摘要：如何判斷紫外可見分光光度計雙單色器中兩個單色器的色散是相加還是相減？可用下述簡單方法：假設一路光束從第一個單色器的入射狹縫進入，另外一路光束從第二個單色器的出射狹縫進入，兩路光束聚焦成像在中間狹縫平面上，如果兩路光束形成的長波光線及短波光線位置都相同，則為色散相減系統；如果所形成的長波光線及短