接觸式干涉儀的功能介紹
中文名稱接觸式干涉儀英文名稱contact interferometer定 義應用干涉原理接觸測量微差尺寸的長度計量儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）......閱讀全文
接觸式干涉儀的功能介紹
中文名稱接觸式干涉儀英文名稱contact interferometer定 義應用干涉原理接觸測量微差尺寸的長度計量儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
接觸式干涉儀的功能介紹
中文名稱接觸式干涉儀英文名稱contact interferometer定 義應用干涉原理接觸測量微差尺寸的長度計量儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
接觸式干涉儀相關
接觸干涉儀包括 1：支架及底座并附有五筋平臺，輔助平臺 2：干涉管并附有照明管，測桿提升器，隔熱瓶 3：拔棒，儀器防塵罩，調壓變壓器（220V/6V，5W），平面工作臺（可調式），瑪瑙工作臺，平行平晶，高量塊移動框，低量塊移動框，小球面測帽，平面測帽（Φ8），小平面測帽（Φ2），備用燈泡（
接觸式干涉儀的結構組成
接觸干涉儀包括1：支架及底座并附有五筋平臺，輔助平臺2：干涉管并附有照明管，測桿提升器，隔熱瓶3：拔棒，儀器防塵罩，調壓變壓器（220V/6V，5W），平面工作臺（可調式），瑪瑙工作臺，平行平晶，高量塊移動框，低量塊移動框，小球面測帽，平面測帽（Φ8），小平面測帽（Φ2），備用燈泡（6V,5W），干
量塊干涉儀的功能介紹
中文名稱量塊干涉儀英文名稱gauge interferometer定 義以光波波長為長度基準，用干涉法精確測定量塊的中心長度、工作面的平面度及平行度等的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
量塊干涉儀的功能介紹
中文名稱量塊干涉儀英文名稱gauge interferometer定 義以光波波長為長度基準，用干涉法精確測定量塊的中心長度、工作面的平面度及平行度等的儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
孔徑干涉儀的功能介紹
中文名稱孔徑干涉儀英文名稱bore interferometer定 義利用光干涉原理，將量塊(或環規)與內孔尺寸相比較，測出其微差尺寸的測量儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
激光干涉儀的功能介紹
激光干涉儀，以激光波長為已知長度，利用邁克耳遜干涉系統測量位移的通用長度測量。
干涉儀的功能和應用介紹
干涉儀是很廣泛的一類實驗技術的總稱， 其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息， 從而獲得實驗所關心的物理量。干涉儀并不僅僅局限于光干涉儀。?干涉儀在天文學， 光學， 工程測量， 海洋學， 地震學， 波譜分析， 量子物理實驗， 遙感， 雷達等等精密測量領域都有廣泛應用。
干涉儀的功能及應用介紹
干涉儀是很廣泛的一類實驗技術的總稱， 其思想在于利用波的疊加性來獲取波的相位信息， 從而獲得實驗所關心的物理量。干涉儀并不僅僅局限于光干涉儀。干涉儀在天文學 ， 光學， 工程測量， 海洋學， 地震學， 波譜分析， 量子物理實驗， 遙感， 雷達等等精密測量領域都有廣泛應用?。
Z軸非接觸式測量顯微鏡的功能介紹
以裂像聚焦指示器為測量原理, 采用高精度光學聚焦點檢測方式進行非接觸高低差測量。不僅可以對準目標影像, 還能觀察測量點的表面狀態,對高度,深度,高低差等進行測量。本儀器的各種鏡筒還具有明暗場，微分干涉，金相，偏光等多種觀察功能。所以對極細微的間隙高低差，夾雜物、微米以下的突起、細微劃痕、以及金相組織
激光干涉儀的分類及功能介紹
激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發出的光束，經擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉換元件和電子線路等轉換為電脈沖信號，經整形、放大后輸入可逆計數器計算出總脈沖數，
關于容積式流量計的無接觸式密封功能
為了給我國的燃氣行業的氣體計量提供一款物美價廉的流量計量儀表，我們研制出了精密的羅茨流量計，它可以實現兩個相反方向旋轉的8自行轉子放在一個堅固的測量中，并且對于它的進出口連接管要放在兩個相反的方向中，同時我們可以講過精密的加工來進行調教齒輪是該轉子的轉動位置能夠保持正確，并且要保證轉子間殼體和端
雷達物位計接觸式和非接觸式的區別
接觸式雷達物位計： 原理：沿導波桿向下引導微波脈沖到達物料后，部分信號被反射回來，通過測量信號發射到接收的時間差得出物位。 適用于小量程儲罐，幾何形狀和內部有障礙物的復雜儲罐。 適用于帶有蒸汽，附著物，起泡，冷凝水的應用場合。 優勢：在一些特殊工況導波雷達
激光干涉儀的主要種類和功能介紹
激光干涉儀有單頻的和雙頻的兩種。單頻激光干涉儀從激光器發出的光束，經擴束準直后由分光鏡分為兩路，并分別從固定反射鏡和可動反射鏡反射回來會合在分光鏡上而產生干涉條紋。當可動反射鏡移動時，干涉條紋的光強變化由接受器中的光電轉換元件和電子線路等轉換為電脈沖信號，經整形、放大后輸入可逆計數器計算出總脈沖數，
機械接觸式與非接觸式薄膜測厚儀的區別
機械接觸式薄膜測厚儀，顧名思義，其測量方式為機械接觸式測量方法，市場上有面接觸式和點接觸式兩種測厚儀器。一般適用于測量材料的整體厚度。機械接觸式測厚儀的測試原理為：將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上，與下測量面平行且中心對齊的上測量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測量頭一體的
非接觸式分液技術介紹
非接觸式分液技術??? 探討生物傳感器表面基材和試劑間的相互作用對移液結果的影響??? 在生物傳感器表面涂上生物活性基質較為常見。但如低至微升或次微升量，則難度會有增加。如需要在一個特定形狀的傳感器上均勻分配基質而又不能超出邊界，會更加復雜。總之，這并不是件容易的工作！??? 非接觸式小容量分配的最
激光干涉儀的功能特點
1、激光干涉儀可以同時測量線性定位誤差、直線度誤差(雙軸)、偏擺角、俯仰角和滾動角等，以及測量速度、加速度、振動等參數，并評估機床動態特性等。 2、激光干涉儀的光源——激光，具有高強度、高度方向性、空間同調
接觸式測量儀表的相關介紹
1.重錘式料位計料位探測過程由控制器發出的信號來控制，當傳感器接到探測命令時，電機正轉，經蝸輪、蝸桿減速后帶動齒輪軸和繞線筒轉動，使鋼絲繩下放，帶動重錘由倉頂下降，當重錘降至料面被測面托起而失重，鋼絲繩松弛，靈敏杠桿動作使微動開關接觸，控制器得到該信號即發出電機反轉命令，重錘上升返回，直到碰頂開
混凝土非接觸式收縮變形儀介紹
非接觸式混凝土收縮變形測定儀概述：采用高精度等 的電渦流位移傳感器，性能穩定，測量 主機采用高性能嵌入式數據采集系統和 可靠的NJIOS2.1操作系統，確保無人值守條件下儀器可靠穩定的運行，配置嵌入式打印機即時打印，便于用戶保存數據，大存儲量數據文件保存非接觸式混凝土收縮變形測定儀技術參數：工作電壓
孔徑干涉儀的功能和種類
中文名稱孔徑干涉儀英文名稱bore interferometer定 義利用光干涉原理，將量塊(或環規)與內孔尺寸相比較，測出其微差尺寸的測量儀器。應用學科機械工程（一級學科），光學儀器（二級學科），光學計量儀器（三級學科）
接觸式引伸計
接觸式引伸計的設計用于材料應變和位移的測量，zui大樣品厚度高達 25 毫米。接觸式引伸計有各種尺寸，以滿足您具體的需求。我們根據您的標距需求提供多樣化的。我們通用的引伸計的設計用于測試種類繁多的材料，包括金屬、塑料、復合材料和陶瓷，可以在拉伸、壓縮和循環測試的模式中使用。?雙彎曲設計意味著它允許更
測厚儀有接觸式和非接觸式，你知道嗎
?測厚儀主要由主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發射電路、接收電路、計數顯示電路三部分;探頭由電壓、壓電晶休和同軸電纜鑄封在探頭殼體內構成。?????? 測厚儀有接觸式和非接觸式兩種， 接觸式測厚儀測量周期長，測量精度較低，測量范圍寬，用干低速、冷軋條件下軋件厚度測量。 非接觸式測厚儀由于具有反應速
激光干涉儀有什么功能
激光干涉儀產品具有測量精度高、測量速度快、最高測速下分辨率高、測量范圍大等優點。通過與不同的光學組件結合，可以實現對直線度、垂直度、角度、平面度、平行度等多種幾何精度的測量。在相關軟件的配合下，還可以對數控機床進行動態性能檢測，可以進行機床振動測試與分析，滾珠絲桿的動態特性分析，驅動系統的響應特
詳解接觸式與非接觸式熱流傳感器的分別
熱流測量能提供一些只靠溫度測量是無法得到的、非常重要而且詳盡的數據。現在熱流傳感器在各行各業研究中應用越來越廣。不僅在建筑、節能等領域，在防火，保溫等領域也用廣泛應用，例如應用熱流傳感器研究手術服材料的保溫效果。首先熱流傳感器分為接觸式與非接觸式的。接觸式熱流傳感器測量傳導熱流，對流熱流，輻射熱流；
淺談測厚儀的接觸式與非接觸式的測量方式有何不同
主要由主機和探頭兩部分組成。主機電路包括發射電路、接收電路、計數顯示電路 三部分；探頭由電壓、壓電晶休和同軸電纜鑄封在探頭殼體內構成。 測厚儀有接觸式和非接觸式兩種， 接觸式測厚儀測量周期長，測量精度較低，測量范圍 寬，用干低速、冷軋條件下軋件厚度測量。 非接觸式測厚儀由于具
干涉儀的應用介紹
干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面：?長度測量在雙光束干涉儀中，若介質折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發生變化所造成，根據條紋的移動數可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。?折射率測定兩光束的幾何路程保
干涉儀的原理介紹
具有固定相位差的兩列準單色波的疊加將導致振幅發生變化， 從而可以通過測量較容易測量的振幅來獲取波的相位信息。兩列具有同頻率波之振動在一點處可以用如下公式描述那么這兩列波疊加以后的波的振動為三角運算給出其中疊加后的振幅為可以看到， 疊加后的振幅與兩列波的初始相位差有關。 由于幅度變化依賴于相位差的余弦
干涉儀的應用介紹
干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方面：長度測量在雙光束干涉儀中，若介質折射率均勻且保持恒定，則干涉條紋的移動是由兩相干光幾何路程之差發生變化所造成，根據條紋的移動數可進行長度的精確比較或絕對測量。邁克耳孫干涉儀和法布里-珀羅干涉儀曾被用來以鎘紅譜線的波長表示國際米。折射率測定兩光束的幾何路程保持不
白光干涉儀的介紹
白光干涉儀是用于對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器，它是以白光干涉技術為原理，光源發出的光經過擴束準直后經分光棱鏡后分成兩束，一束經被測表面反射回來，另外一束光經參考鏡反射，兩束反射光最終匯聚并發生干涉，顯微鏡將被測表面的形貌特征轉化為干涉條紋信號，通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌。白光