X'Pert3 Powder

新一代高性價比的多功能X射線衍射平臺

儀器簡介：

  X'Pert Powder，配置超能陣列探測器，速度與強度的理想組合，滿足各種粉末應用要求，具有無限擴展性。

超高頻X射線發生器

采用第二代陶瓷X光管專利技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換X光管后無需重新校準路

立式測角儀，采用DOPS直接光學位置編碼專利技術

技術參數：

1. 功率：3kW

2. 測角儀重現性：0.0001度

3. 設備尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)

主要特點：

靈活——無論是工業生產控制還是深入的材料研究，均可根據單獨的帶藥求進行定制。從未知物相鑒定和混合物定量，到諸如殘余應力和晶粒擇優取向的微觀結構屬性測定，系統的應用不受任何限制，在所有領域都體現出高性能。在常溫或非環境溫度條件下，均可對塊狀材料以及薄膜進行分析。

快速——得益于帕納科榮獲專利的光學部件和平臺PreFIX-即預校準光路的安裝方法，只需幾分鐘即可完成重新配置并執行不同類型的分析。

前瞻性——如果出現新的應用，只需增加必要的模塊即可。開放式硬件設計結構確保了X'Pert Powder與將來X射線衍射方面的開發兼容。

　　技術參數：

　　1，功率：3kW

　　2，測角儀重現性：0.0001度

　　3，設備尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)

參考招標參數：

第5包：X射線衍射儀

一、X射線光源

1.1 X射線發生器部分。

*1.1.1 zei大輸出功率：3kW 。

1.1.2 額定電壓：60kV。

1.1.3 額定電流：80mA。

1.2 X射線光管部分。

1.2.1 X射線光管：Cu靶，陶瓷X光管，2.2 kW，國際標準尺寸。

1.2.2焦斑大小：0.4 x 12 mm。

1.3 電流電壓穩定度：優于±0.005% (外電壓波動10%)時。

1.4 X射線防護：安全連鎖機構、劑量符合國標;防護罩外任何一點的計量1mSv/h。

二、測角儀部分

2.1 測角儀：采用光學編碼器技術與步進馬達雙重定位。

2.2 掃描方式：q/q測角儀，測角儀垂直放置。

2.3 2q轉動范圍：-10°~168°。

2.4 測角儀半徑：≥200 mm，測角圓直徑可連續改變。

2.5 可讀zei小步長：0.0001°，角度重現性：0.0001°。

三、探測器部分

*3.1 zei大計數：≥2 x 10⁶ cps。

3.2 背景：<0.1 cps。

*3.3 能量分辨率：≤8.5%,完全能夠分辨Ka,Kb射線，測量時無需在光路上使用濾波片。

3.4 提供探測器必須同時適合常規物相分析也適合薄膜反射率測量，不需要更換其他探測器。

四、光路部分

4.1 所有光學附件均采用模塊化設計，采用無工具安裝、拆卸方式。

4.2 所有光學附件智能芯片識別、自動精確定位。

4.4 采用全光路自動狹縫系統：包括自動防散射狹縫、自動發散狹縫、自動接受狹縫。

五、自動進樣裝置

*5.1 提供大于6位(含6位)的自動進樣器。

5.2 自動進樣器同時滿足反射和透射測量模式。

5.3 自動進樣器可編程自動控制。

六、儀器控制和數據采集系統

6.1 雙核主頻3..0GHz以上，2G內存，160GHD,CD-RW,19寸液晶顯示器，網卡。

6.2儀器控制和數據采集軟件。

七、其它應用軟件

7.1 物相檢索軟件：含原始數據直接檢索功能。

7.2 物相定量分析：可編程定量分析軟件。

7.3 無標樣晶粒大小分析及微觀應力分析。

7.4 粉末數據指標化、結構精修、從頭結構解析以及無標樣定量分析軟件。

*7.5 數據庫：配備正版數據庫，可在線更新。

八、循環水冷系統：

滿足相應系統連續滿功率運行（國內供貨）。

九、工作條件

9.1 電力供應：單相220V（±10%），50Hz。

9.2 工作溫度：10°C-40°C。

9.3 相對濕度：≤75％。

9.4 儀器運行的持久性：能夠滿足長時間連續工作。

十、儀器及生產商必須滿足的相關國際安全標準

10.1 質量標準：ISO9001 & EN29002認證。

10.2 歐洲安全標準：CE 認證。

10.3 射線防護標準：DIN 54113認證。

十一、售后服務

1、儀器廠家有專業完整的售后服務團隊，確保儀器故障和及時修復。

2、儀器自安裝之日起至少一年的質保期，質保期內廠家完全保證儀器的正常使用。

3、每套儀器保證安裝是現場培訓，不限人數，保證操作人員具有分析測試，日常維護和應用開發的能力。

4、生產廠家在國內設有持有證書的合法培訓機構，每套儀器保證2人或更多人次到廠家培訓。

參考招標參數：

河南師范大學 2016 化學優勢學科第一批進口設備   招標編號：豫財招標采購-2017-981  

包 B 設備二、 X 射線粉末衍射儀招標參數  

本設備已做進口產品審批 

1.設備主要用途、功能以及特點: 

功能：儀器要能夠支持化學學院對衍射儀的zei新需求，能代表目前衍射儀的zei高水平和zei新技術，儀器功能具有前瞻性。 研究對象包括：標準粉末樣品、微量粉末樣品、固體樣品、薄膜樣品，包括小角散射功能模塊，薄膜分析功能模塊，變溫分析模塊。 

2.技術參數及指標： 

2.1.  射線光源與光管 

*2.1.1 zei大輸出功率：≥3kW 

*2.1.2 zei大電壓：≥52kV 

*2.1.3 zei大電流：≥55mA 

2.1.4 安全防護： X 射線防護：安全連鎖機構、劑量優于國標，輻射量小于 1 Sv/h。提

供 2 套獨立的安全電路，符合 CE 及 DIN54113 認證。 

*2.1.5 超高頻電壓固態發生器, 高壓穩定度：0.0006%  

2.2.  金屬陶瓷 X 光管： 

2.2.1 靶材及功率：Cu 靶 2.2kW 

2.2.2 zei大電壓：60kV 

2.2.3 zei大電流：≥50mA 

2.2.4 保證壽命：二年 

*2.2.5 材料：全金屬陶瓷（可精密加工）； 更換 X 光管后無需重新校準 

2.3.  測角儀: 

2.3.1 轉動方式：Theta / Theta 模式 

2.3.2 定位方式: 光學編碼盤，直接光學定位系統。光學編碼盤直接安裝在測角儀軸上 

2.3.3 驅動方式：直流馬達驅動 

2.3.4 角度重現性：+/- 0.0001 度，zei小步長：0.0001 度 

2.3.5 測角儀半徑：≥200 mm，測角圓直徑可連續改變。 

2.4.  基本光學系統 

2.4.1 提供聚焦光路，平行光路兩套入射光路系統，用于薄膜,測試的平行光與用于粉末測試的聚焦光采用軟件控制自動切換，無需人工干預，瞬時完成，無需更換陣列探測器至 0 維探測器。重現性保證，聚焦光 theta=±0.001 度，平行光 theta=±0.0025 度，提供原版蓋章彩頁佐證。 

2.4.2 發散狹縫一套 

2.4.3 防反射狹縫一套 

2.4.4 索拉狹縫 0.04rad  

2.4.5 所有光學附件均采用模塊化設計，安裝、拆卸方便快捷。 

2.4.6 所有光學附件智能芯片識別、自動精確定位。 

2.5.樣品裝樣裝置 

2.5.1 標準粉末裝樣裝置 

2.5.2 微量粉末裝樣裝置 

2.5.3 固體樣品裝樣裝置 

2.5.4 小角散射裝樣裝置 

2.6.  探測器 

*2.6.1. 子探測器數量：必須大于 250 陣列點數， 適合高分辨率、高速度物相分析，保

證每個子通道完好，隨機帶保證書，支持固定模式掃描以及原位分析，可用于驗收，提

供原版蓋章彩頁佐證。 

2.6.2. 工作模式：電腦控制 0 維，1 維工作方式轉換，支持定點測量模式，二維模式

（面探測器）測薄膜由聚焦光路到平行光路不需要切換探測器，軟件控制實現 0 維模

式，并且保證重現性； 

2.6.3. 物相分析時測量范圍：從 0.3°起 

*2.6.4. 探測器動態響應范圍（cps）：≥1 X 10 10  

2.6.5. 線性范圍(cps/m2): ≥4 X 10 7  

2.6.6. 效率（對 Cu 靶）：94％ 

*2.6.7. zei大背景噪聲： < 0.1cps 全探測器 

*2.6.8  驗收精度：國際標準樣品 NIST 1976 剛玉標樣現場檢測，全譜范圍內所有峰的

角度偏差不超過±0.01 度（20 度到 140 度），隨機帶保證書 

2.6.9  能量色散陣列探測器：相對與常規點探測器強度提高 450 倍，比一維探測器提高

三倍，靈敏度提高一個數量級。 

2.6.10 能量分辨率：8.5% （680ev/8000ev）完全能夠分辨 Ka, K β 射線，并去銅靶測試

鐵鈷鎳樣品產生的熒光，而無需任何單色器即可達到此分辨率。可完全去除 Kbeta, 提供

原版蓋章彩頁佐證 

2.7.薄膜分析模塊： 

2.7.1 平板準直器； 

2.7.2 薄膜厚度分析軟件 

*2.8. 小角散射模塊： 

*2.8.3 小角散射分析軟件 

*2.8.4 小角散射參考樣品 

*2.8.5 小角散射樣品裝樣裝置 

*2.8.6 具備納米粒度分布測定，納米孔分布測定功能 

2.9  高溫附件 

2.9.1 對樣品進行變溫條件下的物相變化等研究工作。  

2.9.2 溫度范圍：室溫－1200 度；加熱方式：環境加熱 

2.9.3 序控制升溫，分別可以在真空、空氣、氧化和保護氣氛下使用。 

2.9.4 樣品臺高度調整計算機控制。 

2.10 中低溫附件 

2.10.1 zei低溫度為液氮溫度-180 度，zei高溫度為 450 度。 

2.10.2 液氮自動填充，溫度程序控制，精度 0.1 度。 

2.10.3 樣品臺高度調整計算機控制。 

2.11 計算機系統： 

計算機：計算機控制系統: 不低于：Windows 7 操作系統, Intel core i5-

4590CPU@3.30GHz, 8 GB RAM, 2 TB hard drive, 23“ LCD monitor, 鍵盤,鼠標,網卡。 

3.輔助設備： 

3.1.水冷系統: 分體式循環水冷系統，穩定性能好。 

工作要求：連續工作 

控溫精度：優于±1℃ 

供水流量：滿足發生器要求 

水的溫度：可調 

具有過熱保護系統。 

3.2 空氣壓縮機：無油靜音空壓機，220V；流量≥135L/min; 壓力：0.6-0.8Mpa(可

調)；儲氣罐：≥35L 

4．軟件要求： 

*4.1.軟件為 Win XP 或 Win 7 操作平臺，可進行設備控制，數據采集，授權安裝在 5 臺

計算機上 

4.2.能進行下列圖形處理方式：峰形擬合功能；合并、加減、移位任何數量的掃描數據；三種背景確定/扣除方式；能夠剝離 Kα2；快速傅立葉變換或平滑多項式平滑處理,支持多數據自動背景處理。 

4.3.掃描校正：樣品位移，溫度或壓力影響，步長內插；可以自動進行或手動進行。 

4.4.對原始數據進行自動物相鑒定及打印結果報告，RIR 參考強度法直接給出半定量結果；3 維圖形顯示功能。 

4.5.能進行全譜線形分析計算，晶粒尺寸和微應力計算 

4.6.能對多個上數據自動進行差異和歸類分析，給出分析報告，能支持其他儀器數據類型 

4.7 軟件能夠進行結構精修 

5. 其他資質要求： 

*5.1 提供國家環保部門所頒發的輻射安全豁免許可證 

*5.2 制造廠家必須提供 ISO9001 和 ISO14001 認證證明. 

5.3 在中國國內具有完善維修服務體系，提供備件供應，具有保稅庫。 

5.4 投標產品應具有在中國國內有成熟的用戶群，提供用戶清單。 

注: *指標為產品關鍵指標。