Ｘ射線熒光分析儀的測量誤差，來自哪里？

　　Ｘ射線熒光分析儀是通過Ｘ射線管產生的Ｘ射線作為激發源，激發樣品產生熒光Ｘ射線。根據熒光Ｘ射線的波長和強度來確定樣品的化學組成。Ｘ射線熒光分析過程中產生誤差的原因主要有操作、儀器以及試樣本身等三方面因素。

　　（１）操作方面帶來誤差的因素

　　①粉磨時未設定好粉磨時間和壓力，達不到要求的粉磨粒度或相應的粒度分布。實驗表明當粉磨時間短于試驗設定時間，測定結果就會產生波動。同時，粉磨時未按規定加適量助磨劑或所加助磨劑中含有所要分析的元素，都會給測定結果帶來較大影響。磨頭和磨盤里留有前期樣品或被其他物質污染，結果也會產生誤差。

　　②壓片時，未設定好時間和壓力，壓力效果不好或壓片時樣品布入不均勻而產生了樣品的堆積分布不均，或壓片板（壓片頭）不潔凈（或上面粘有前期樣品）等，都會影響分析結果。

　　③制樣未保護好，制樣裝入試樣盒的位置不當，結果給分析帶來誤差。制樣未保護好有兩層含義：ａ）未保護好制樣光潔度。如用手指摸分析面，或用手指甲劃、用口吹、用濕毛巾擦分析面等；ｂ）制樣在空氣中放置太久，使分析面與空氣中物質發生了物理化學變化。 制樣裝盒位置不當，把測樣片裝倒了或測樣片表面與試樣盒表面成一傾斜角等，都會影響到射線管與分析面的距離，從而產生誤差。

　　④熒光分析中，由于分析面上的樣品灰未除掉，久之影響儀器真空度；或由于操作者粗心，分析程序選錯，如測生料時用了測熟料的分析曲線或用了測石灰石的曲線，顯然結果不正確。

　　（２）儀器方面的誤差因素

　　①壓片板（或壓片頭）不光潔，導致分析面不光滑，從而影響測量結果。

　　②光路真空度不合適，分光晶體、濾光片選擇不佳，使各種射線產生干擾，影響分析。

　　③Ｘ射線管電壓、電流不穩定，從而產生測量結果波動。

　　④隨著時間的延長，Ｘ光管內部元件尺寸位置變化引起初級Ｘ射線強度的變化，或Ｘ射線管陽極出現斑痕，靶元素在窗口沉積，給分析結果帶來誤差。

　　⑤溫度的變化，引起分光晶體晶面間距變化，從而影響分光效率。正比計數管高壓漂移，溫度變化引起管內氣體成分變化，影響放大倍數。

　　⑥電子電路的漂移，計數的統計誤差，檢測過程的時間損失引入的計數誤差等。

　　⑦氣體的壓力、氮氣、甲烷氣體的流量、溫度等輻射通道條件的變化，都會影響光路中氣體對Ｘ射線的吸收。因此，氣瓶的減壓閥一旦調好，不要隨意再動，特別是更換新氣時，一定要嘗試著多次調氣壓，否則，由于氣流、氣壓不穩，使結果產生誤差。

　　（３）試樣本身的誤差因素

　　①試樣易磨性。有的試樣易磨性較差，對測定構成影響。

　　②試樣成分。有的試樣基本組成成分與標準試樣組成成分不一致，也會影響測定結果。

　　③基體效應。基體中其他元素對分析元素的影響，包括吸收和增強效應，吸收效應直接影響對分析元素的激發和分析元素的探測強度。 增強效應使分析元素特征輻射增強。

　　④不均勻性效應。Ｘ射線強度與顆粒大小有關，大顆粒吸收大，小顆粒吸收小，這是試樣粒度的影響。

　　⑤譜線干擾。各譜線系中譜線產生重疊、干擾，還有來自不同衍射級次的衍射線之間干擾。

　　（４）避免誤差的措施

　　對于上述幾方面誤差，應具體情況具體分析，予以克服。

　　首先應將樣品磨細、壓實以減少試樣的不均勻性。其次是選擇無干擾的譜線、降低電壓至干擾元素激發電壓以下，選擇適當分光晶體、計數管、準直器或調整脈沖高度分析器、提高分辨本領，在分析晶體和探測器之間放置濾光片，濾去或減弱干擾譜線。 然后是嚴格按儀器設備管理辦法安裝，調試好儀器設備，避免儀器誤差。 最后是嚴格按照操作規程認真操作，避免人為的操作誤差。