X射線熒光光譜法的分析
X射線熒光光譜法---能量色散 利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。 當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子內層電子重新配位，較外層的電子躍遷到內層電子空位，并同時放射出次級X射線光子，此即X射線熒光。較外層電子躍遷到內層電子空位所釋放的能量等于兩電子能級的能量差，因此，X射線熒光的波長對不同元素是特征的。 根據色散方式不同，X射線熒光分析儀相應分為X射線熒光光譜儀(波長色散)和X射線熒光能譜儀(能量色散)。 X射線熒光光譜儀主要由激發、色散、探測、記錄及數據處理等單元組成。激發單元的作用是產生初級X射線。它由高壓發生器和X光管組成。后者功率較大，用水和油同時冷卻。色散單元的作用是分出想要波長的X射線。......閱讀全文
X射線熒光光譜法的分析
X射線熒光光譜法---能量色散 利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。 當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜法
方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔
X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先，與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜，以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高，操作簡便，適合于多種類型的固態和液態物質的測定，并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞，強度測量的再現性好，以及便于
X射線熒光光譜法優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法首先，與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜，以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高，操作簡便，適合于多種類型的固態和液態物質的測定，并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞，強度測量的再現性好，以及便于
X射線熒光光譜法的應用
質成分分析 ①定性和半定量分析具有譜線簡單、不破壞樣品、基體的吸收和增強效應較易克服、操作簡便、測定迅速等優點，較適合于作野外和現場分析,而且一般使用便攜式X射線熒光分析儀，即可達到目的。如在室內使用X射線能譜儀,則可一次在熒光屏上顯示出全譜，對物質的主次成分一目了然，有其獨到之處。 ② 定量
X射線熒光光譜法的簡介
X射線熒光光譜法正是基于以上物理學原理而產生的，從X射線管產生X射線，X射線經過濾或單色化處理入射樣品，入射樣品X射線與物質相互作用，產生的元素特征X射線熒光，進入探測器記錄其強度，能量色散型探測器的各種效應。都有可以遵循的X射線熒光的物理學理論，而這些明確的物理學理論，有大量的規律可循，進而可
X射線熒光光譜法的定義
X射線熒光光譜法是照射原子核的X射線能量與原子核的內層電子的能量在同一數量級時，核的內層電子共振吸收射線的輻射能量后發生躍遷，而在內層電子軌道上留下一個空穴，處于高能態的外層電子跳回低能態的空穴，將過剩的能量以X射線的形式放出，所產生的X射線即為代表各元素特征的X射線熒光譜線。其能量等于原子內殼層電
X射線熒光光譜法的展望
X射線熒光光譜法 X射線熒光光譜法同其他分析技術一樣,不是完美無缺的。在物質成分分析中,它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟,只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的 X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（
X射線熒光光譜法的優點
X射線熒光光譜法-----原級X射線發射光譜法 首先，與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜，以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高，操作簡便，適合于多種類型的固態和液態物質的測定，并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞，強度測量的再現性好，
質子激發X射線熒光分析的X－射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬
X射線熒光光譜法在醫藥分析中的應用
藥品安全與國計民生息息相關,各種化學和儀器分析方法在解決藥品研發和質量控制中發揮著重要作用。ICH指導委員會于2009年10月批準了Q3D金屬雜質課題。這一新指導原則建議對于藥品中的金屬雜質進行定性和定量限制。藥品中的元素雜質可能有多個來源：可以在合成中有意添加，或可能作為污染物存在（例如，通過與生
X射線熒光光譜法的熒光產額介紹
當一束能量足夠大的X射線光子與一種物質的原子相互作用時，逐出一個軌道電子而出現一個空穴，所產生的的空穴并非均能產生特征X射線，還會產生俄歇電子。產生特征X射線躍遷的概率就是熒光產額，俄歇躍遷的概率成俄歇產額。
X射線熒光光譜法的未來展望
X射線熒光光譜法同其他分析技術一樣,不是完美無缺的。在物質成分分析中,它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟,只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的 X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（例如選礦流程中的自動
X射線熒光光譜法的詳細介紹
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。 當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空位，原子
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線熒光光譜法痕量元素測定
在物質成分的分析方面主要包括克服基體效應的基礎研究和擴大分析應用范圍兩方面。現在，基體效應的數學校正法正在通過校正模型的更深入研究和計算機軟件的進一步開發，向更高水平的方向發展。而且,隨著制樣技術的逐步自動化,各種物理化學前處理方法的改進，對于擴大分析含量范圍，包括進一步開展痕量元素測定等工作，
X射線熒光光譜法的物質成分分析介紹
①定性和半定量分析具有譜線簡單、不破壞樣品、基體的吸收和增強效應較易克服、操作簡便、測定迅速等優點，較適合于作野外和現場分析,而且一般使用便攜式X射線熒光分析儀，即可達到目的。如在室內使用X射線能譜儀,則可一次在熒光屏上顯示出全譜，對物質的主次成分一目了然，有其獨到之處。 ② 定量分析可分為兩
X射線熒光光譜法的定量分析相關介紹
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據上式，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試
波長色散x射線熒光光譜法的簡介
波長色散x射線熒光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光，通過晶體衍射進行空間色散，分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度，進行定性和定量分析的方法。適用于原子序數4(鈹)以上所有化學元素
X射線熒光光譜法的重要作用
隨著大功率 X射線管和同步輻射源的應用、各種高分辨率X射線分光計的出現、計算機在數據處理方面的廣泛應用，以及固體物理和量子化學理論計算方法的進步,通過X射線光譜的精細結構（包括譜線的位移、寬度和形狀的變化等）來研究物質中原子的種類及基的本質、氧化數、配位數、化合價、離子電荷、電負性和化學鍵等，已
X射線熒光光譜法的優點有哪些？
與原級X射線發射光譜法比,不存在連續X射線光譜，以散射線為主構成的本底強度小,譜峰與本底的對比度和分析靈敏度顯著提高，操作簡便，適合于多種類型的固態和液態物質的測定，并易于實現分析過程的自動化。樣品在激發過程中不受破壞，強度測量的再現性好，以及便于進行無損分析等。其次，與原子發射光譜法相比,除輕
X射線熒光光譜法XRF樣品的要求
1.粉末樣品需提供3-5g，樣品要200目以下，完全烘干； 2.輕合金（鋁鎂合金）厚度不低于5mm，其他合金不小于1mm，其他材料厚度需滿足3-5mm； 3.檢測單元表面盡量平整，且尺寸為4-4.5cm。
X射線熒光分析技術簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。 b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。 c) 根據各元素的特征X射線的強度，
X射線熒光應用及分析
a) X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。b) 每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。c) 根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各
X射線熒光應用及分析
a)?X射線用于元素分析，是一種新的分析技術，但在經過二十多年的探索以后，現在已完全成熟，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域。? ??b)?每個元素的特征X射線的強度除與激發源的能量和強度有關外，還與這種元素在樣品中的含量。????c)?根據各元素的特征X射線的強
簡述－X－射線熒光分析技術
X 射線熒光分析技術（XRF）作為一種快速分析手段，為我國的相關部門提供了一種可行的、低成本的并且及時的檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑。相對于其他分析方法（例如發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等），XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理，快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適
X射線熒光分析技術分類
X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析(WDXRF)和能量色散X射線熒光分析(EDXRF)；而能量色散型又根據探測器的類型分為(Si-PIN)型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環境科學等普遍采用的一
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其