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方法提要用Li2B2O7和NaBO2混合溶劑，將鎢精礦粉和純WO3作高倍稀釋熔融制成玻璃片，按WLα分析線X射線熒光光譜儀測定其強度值，換算成相對強度即可得出試樣中三氧化鎢的含量。此法適用于鎢精礦中w(WO3)為0.5%～80%的試樣。儀器波長色散X射線熒光光譜儀器儀，銠靶X光管(≥3kW)。高溫熔樣機(1100℃以上)。鉑金合金坩堝。試劑偏硼酸鋰(Li2B2O7)。偏硼酸鈉。硝酸鈉。碘化鉀。三氧化鎢(光譜純)。分析步驟稱取已于100℃烘干的100mg(±0.05mg)鎢精礦礦粉，用3.4gNaBO2和2.8gLi2B2O7+250mgNaNO3在瓷坩堝中混勻，置于鉑金合金坩堝中，在自動熔樣機或高溫爐中加熱至1100℃，熔融8min，取出坩堝人工搖勻。然后加入20～30mgKI作脫模劑，重熔5min，取出坩堝，趁熱搖勻至熔融物均勻，風冷或自然冷卻至室溫脫離坩堝。按同樣方法制取純的WO3熔融玻璃片3片。按下述操作條件進行測定:X光......閱讀全文
X熒光光譜儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信
X射線X射線(Xray)是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波，由德國物理學家W.K.倫琴于1895年發現，故又稱倫琴射線。其特性通常用能量(keV)或波長(nm)描述。λ(nm)=1.24E(keV)X射線是原子內層電子在高速運動電子的沖擊下產生躍遷而發射的光輻射，其波長很短約介于0.001~2
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵
關于X射線的發展歷史，早可以追溯到1895年，德國物理學家威廉·康拉德·倫琴于這一年11月發現并識別出了X射線，因此，X射線在許多國家也被稱之為倫琴射線。 隨后在1909年，英國物理學家查爾斯·格洛弗·巴克拉發現了從樣本中輻射出來的X射線與樣品原子量之間的聯系；四年之后，也即在1913年，同樣來自
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄
X射線熒光光譜儀(XRF) XRF指的是X射線熒光光譜儀，可以快速同時對多元素進行測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。從不同的角度來觀察描述X射線，可將XRF分為能量散射型X射線熒光光譜儀，縮寫為EDXRF或EDX和波長散射型X射線熒光光
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
自1895年倫琴發現X射線以來，X射線及相關技術的研究和應用取得了豐碩成果。其中，1910年特征X射線光譜的發現，為X射線光譜學的建立奠定了基礎；20世紀50年代商用X射線發射與熒光光譜儀的問世，使得X射線光譜學技術進入了實用階段；60年代能量色散型X射線光譜儀的出現，促進了X射線光譜學儀器的迅
一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述x射線熒光的分析，確定被測樣品中各組份含量的儀器就是x射線熒光分析儀。用x射線熒光分析儀測量貴金屬首飾含量是一種不接觸、非破壞的測
X熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
3、檢測記錄系統X射線熒光光譜儀用的檢測器有流氣正比計數器和閃爍計數器。上圖是流氣正比計數器結構示意圖。它主要由金屬圓筒負極和芯線正極組成,筒內充氬（90%）和甲烷（10%）的混合氣體，X射線射入管內，使Ar原子電離,生成的Ar+在向陰極運動時，又引起其它Ar原子電離，雪崩式電離的結果，產生一脈沖信
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容，并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。波長色散X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。波長色散X射線熒光光譜儀的優點是不破壞樣品，分析速度快，波長色散X射線熒光光譜儀適用于測定原子序數4以
1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（
X射線譜儀簡介編輯X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性 [1] 。X射線譜儀指向月面，由16
X射線熒光分析又稱X射線次級發射光譜分析,本法系利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X射線熒光)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一臺X射線熒光分析儀,至60
X射線熒光的激發源使用X射線而不使用電子束，因為使用X射線避免了樣品過熱的問題。幾乎所有的商品X射線熒光光譜儀均采用封閉的X射線管作為初始激發光源。某些較簡單的系統可能使用放射性同位素源，而電子激發一般不單獨使用在X射線熒光光譜儀中，它僅限于在電子顯微鏡中X射線熒光分析中使用。X射線熒光譜儀具有快速
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001- 10nm左右。X射線照射到物質上面以后，從物質上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，Atomray CX-5500產品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質中獲取元素信息
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程 稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較外層
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
X射線熒光衍射：利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同，分為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法(能量色散)。當原子受到X射線光子(原級X射線)或其他微觀粒子的激發使原子內層電子電離而出現空
X熒光光譜儀原理當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時，驅逐一個內層電子而出現一個空穴，使整個原子體系處于不穩定的激發態，激發態原子壽命約為10-12～10-14s，然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態。這個過程稱為馳豫過程。馳豫過程既可以是非輻射躍遷，也可以是輻射躍遷.當較
當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程稱為馳過程.馳豫過程既可以是非輻射躍遷,也可以是輻射躍遷.當較外層的電
1.美國Xenemetrix（能量色散） 美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者，而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計，該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 一、XRF在物質成分分析上的應用 XRF應用主要取決于儀器技術和理論方法的發展。X射線熒光分析儀器有三種主要類型：實驗室用