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    X射線熒光光譜分析(XRF)

    XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 的X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內的電磁波,其特性通常用能量(單位:千電子伏特,keV)和波長(單位:nm)描述。X射線熒光是原子內產生變化所致的現象。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成。其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行,內層電子(如K層)在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛,釋放出來,電子的逐放會導致該電子殼層出現相應當電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子(如:L層)會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應當電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來,不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF)。 應用:1. X射線用于元素分析,是一種新的分析技術,但在經過二十多年的探索以后,現在已完全成熟,已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、......閱讀全文

    XRF是什么

    XRF是什么??XRF測試及XRF原理,本內容深入探討了XRF的相關內容,并做了整體的講解分析。1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線

    XRF原理-天瑞EDX 2800

    1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)   人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。   一臺典型的X射線熒光(XRF)儀器由激發源(

    XRF(X射線熒光光譜分析)各品牌介紹

      1.美國Xenemetrix(能量色散)  美國Xenemetrix在過去30年內一直是能量色散X射線熒光光譜分析方面的領先創新者,而X-Calibur更是Xenemetrix多年經驗和專業知識的頂峰設計,該儀器占地面積少、性能優越。強大的50kV,50瓦特的X-Calibur能量色散X射線熒光

    材料成分分析儀器大全

      【成分分析簡介】  成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析,通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么,幫助您對樣品進行定性定量分析,鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。  【成分分析分類】  按照對象和要求:微量樣品分析 和 痕量成分分

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      X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作

    什么是XRF?

    XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence)    人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光(X—Ray Fluorescence),而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。&nb

    如何使用X熒光光譜儀

      X熒光光譜儀的原理    當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 (10)-12-(10)-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程

    硫化礦樣品的X射線熒光光譜分析

    射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家

    X熒光光譜儀的原理及應用

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    X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀,它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。         X射線熒光(XRF)能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻

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    X熒光光譜儀(XRF)的基本原理

     X熒光光譜儀是根據X射線熒光光譜的分析方法配置的多通道X射線熒光光譜儀,它能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量。  X射線熒光(XRF)能夠測定周期表中多達83個元素所組成的各種形式和性質的導體或非導體固體材料,其中典型的樣品有玻璃、塑料、金屬、礦石、耐火材料、水泥和地質物料等。凡

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    X熒光光譜儀的原理和應用介紹

    X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射

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      單波長色散X射線熒光光譜儀應該稱作單波長激發—波長色散X射線熒光光譜儀。     單波長色散型X熒光光譜儀原理:     用全聚焦型雙曲面彎晶將微焦斑X線管(可看作點光源)發射的原級X射線的某個波長(通常選取出射譜中的特征X射

    X熒光光譜儀的技術原理

    X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X熒光(二次X射線),探測器對X熒光進行檢測。  X熒光光譜儀的技術原理:  元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷,同時發射出具有一定特殊性波長的X射線,根據莫斯萊定律,熒光X

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    X射線熒光光譜技術在重金屬檢測中的應用

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      帕納科于2010年3月15日向中國X射線分析儀器分析用戶隆重推出最新研制的一系列新產品,他們將會提供更快,更靈活的解決方案,并提高了系統運行時間。新產品包括:   Empyrean XRD system: 銳影X射線衍射儀系統:唯一可滿足當前所有4類X-射線分析要求,即粉末,薄膜,納米

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       一、IAS-3120便攜式光譜分析儀的工作原理:  1、是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器,當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時。  2、驅逐一個內層電子從而出現一個空穴。使整個原子體系處于不穩定的狀態。當較外層的電子躍遷到空穴時。產生一次光電子

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