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X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001- 10nm左右。X射線照射到物質上面以后，從物質上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，Atomray CX-5500產品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質中獲取元素信息（成分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質受到X射線的照射時，發生元素所固有的X射線（固有X射線或者特征X射線）。熒光X射線裝置就是通過對該X射線的檢測而獲取元素信息。 原理：高能粒子（電子或連續X射線等）與靶材料碰撞時，將靶原子內層電子（如K，L，M等層）逐出成為光電子，原子便出現一個空穴，此時原子處于激發態，隨即較外層電子立即躍遷到能量較低的內層空軌道上，填補空穴位。若此時以X射線的形式輻射多余能量，便是特征X射線。當K層電子被逐出后，所有外層電子都可能跳回到K層空穴便形成K系特征X射線。......閱讀全文
一、X-射線熒光光譜儀（XRF) 簡介 X-射線熒光光譜儀（XRF）是一種較新型可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（即X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。 波長色散型X射線熒光光譜儀（
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
X熒光光譜儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線(即X熒光)。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X熒光光譜儀(WD-XRF)是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信
天瑞儀器參展第十四屆北京分析測試學術報告會及展覽會（BCEIA 2011） 2011年10月12日，天瑞儀器在北京展覽館2號會議室舉辦了合金分析、重金屬檢測技術交流會。來自科研院所、高等院校的30余名專家學者參加了本次交流會，共同探討XRF儀器新技術，及其在合金行
X熒光光譜儀的簡單介紹 x熒光分析已廣泛應用于材料、冶金、地質、生物醫學、環境監測、天體物理、文物考古、刑事偵察、工業生產等諸多領域，是一種快速、無損、多元素同時測定的分析技術，可為相關生產企業提供一種可行的、低成本的、及時的檢測、篩選
X熒光光譜儀主要由激發源(X射線管)和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(又叫X熒光)，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 對六種有害物質總量的定量檢測：
能測RoHS指令的儀器很多，而且這些儀器無論是國產的還是進口的，都是屬貴重儀器。如何選擇不光是費用問題，更主要的使用問題。 對六種有害物質總量的定量檢測： 一、 按日本商會歐盟分部的“依照RoHS指令的檢測方法”。 &
一．X射線熒光分析儀簡介 X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同事測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線（X-熒光）。波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）。是用晶
熒光光譜儀又稱熒光分光光度計，是一種定性、定量分析的儀器。通過熒光光譜儀的檢測，可以獲得物質的激發光譜、發射光譜、量子產率、熒光強度、熒光壽命、斯托克斯位移、熒光偏振與去偏振特性，以及熒光的淬滅方面的信息。X熒光光譜儀的工作原理： X熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理
便攜式x熒光光譜儀的現狀及其將來的發展 便攜式x熒光光譜儀被廣泛應用于多種領域，如顏色測量、化學成份的濃度測量或輻射度學分析、膜厚測量、氣體成分分析等領域。便攜式x熒光光譜儀通常采用光纖作為信號耦合器件，將被測光耦合到光譜儀中進行光譜分析。由于光纖的
隨著國內黃金交易市場的全面開放，無損驗貨接踵而來。本文從貴金屬首飾無損檢測應用x熒光分析技術的角度，提出一些避免誤區的觀點。 一、x射線熒光分析基本原理 所謂熒光，就是在光的照射下發出的光。x射線熒光就是被分析樣品在x射線照射下發出的x射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，
用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。圖
1.什么是XRF?XRF:X射線熒光光譜分析(X Ray Fluorescence) 人們通常把X射線照射在物質上而產生的次級X射線叫X射線熒光（X—Ray Fluorescence），而把用來照射的X射線叫原級X射線。所以X射線熒光仍是X射線。 一臺典型的X射線熒光（XRF）儀器由激發源（
ROHS檢測儀的優點介紹ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水
X熒光鍍層測厚儀進行有害物質的檢測 1.1樣品制備：散裝樣品均質的各種塊，板或鑄件，可以利用適當的工具有一定的樣本量樣本。照射的樣本應該是比較光滑和平整。這種分析是材料：測試樣品的電影的時候，要注意均勻的薄膜厚度和組成，我們通常膜平鋪覆蓋到一定厚度的測試儀器計數率可以達到超過1000CPS在通常特
常見的分析儀器有，原子吸收分光光度計、原子熒光光譜儀、電感藕合等離子體發射光譜儀(簡稱ICP)、火花直讀光譜儀(簡稱光譜儀)、X射線熒光光譜儀、能譜儀等。此外，還有些專屬性分析儀器，如碳硫分析儀、氧氮氫三元素連測儀等。這些儀器有生產過程中扮演著不同的角色。下面談一下各種儀器在金屬材料中扮演的不同角色
光譜儀又稱光譜分析儀，應用分類繁多，我們著重介紹手持式合金分析儀，全譜火花直讀光譜儀，X射線熒光光譜儀，拉曼光譜儀，激光誘導擊穿光譜儀。 光譜儀原理： 1，手持式光譜儀和能量色散X射線熒光光譜儀原理基本一致： X-射線熒光分析儀(XRF)是一種較新型的可以對多元素進行快
X熒光光譜儀的原理 當能量高于原子內層電子結合能的高能X射線與原子發生碰撞時,驅逐一個內層電子而出現一個空穴,使整個原子體系處于不穩定的激發態,激發態原子壽命約為 （10）-12-（10）-14s,然后自發地由能量高的狀態躍遷到能量低的狀態.這個過程
X熒光光譜儀因其自身分析速度快、精度高的優勢被廣泛應用。x熒光光譜儀是一種常用的分析儀器，主要由激發源和探測系統構成。 X熒光光譜儀的原理就是：X射線管通過產生入射X射線(一次X射線)，來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線(
原理 （XRF）儀器由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X 射線（一次射線），激勵被測樣品。樣品中的每一種元素會放射出的二次X射線，并且不同的元素所放出的二次射線具有特定的能量特性。探測系統測量這些放射出來的二次射線的能量及數量。然后，儀器軟件將控測系統所收集的信息轉換成樣
【成分分析簡介】 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量分析，鑒別、橡膠等高分子材料的材質、原材料、助劑、特定成分及含量、異物等。 【成分分析分類】 按照對象和要求：微量樣品分析 和 痕量成分分
X射線熒光光譜儀原理 X射線熒光光譜儀主要由激發源（X射線管）和探測系統構成。其原理就是：X射線管通過產生入射X射線（一次X射線），來激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線（又叫X熒光），并且不同的元素所放
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。 X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF），波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。 X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀（WDXRF）和能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF），波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源
光譜儀具體分類：1、按產生本質可分：原子光譜儀和分子光譜儀等。2、按產生方式可分：發射光譜儀、吸收光譜儀、熒光光譜儀和散射光譜儀。3、按光譜形狀可分：線光譜儀、帶光譜儀和連續光譜儀。4、按發射原理可分：原子發射光譜儀。5、按吸收原理可分：原子吸收光譜儀、分子吸收光譜儀、紫外可見光譜儀、紅外光譜儀、拉
X熒光光譜儀原理儀器是較新型X射線熒光光譜儀，具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確
X熒光鍍層測厚儀進行有害物質的檢測 1.1樣品制備：散裝樣品均質的各種塊，板或鑄件，可以利用適當的工具有一定的樣本量樣本。照射的樣本應該是比較光滑和平整。這種分析是材料：測試樣品的電影的時候，要注意均勻的薄膜厚度和組成，我們通常膜平鋪覆蓋到一定厚度的測試儀器計數率可以達到超過1000CPS在通常特
X熒光光譜儀注意事項和嚴禁事項 一、注意事項 1 觀察室溫是否為18～28℃，濕度是否為75%或更低。 2 注意外部、內部冷卻循環水的參數。 3 注意各制樣設備是否運轉正常，樣品制作出來后是否穩定分析。 二、嚴禁事項 1 嚴禁點擊儀器操作軟件PCMXF中的緊急停止按鈕“STOP” 2