關于X射線熒光分析的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組成盡可能相同或相似，否則試樣的基體效應或共存元素的影響，會給測定結果造成很大的偏差。所謂基體效應是指樣品的基本化學組成和物理化學狀態的變化對X射線熒光強度所造成的影響。化學組成的變化，會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收，也會改變熒光增強效應。例如，在測定不銹鋼中Fe和Ni等元素時，由于一次X射線的激發會產生NiKα熒光X射線，NiKα在樣品中可能被Fe吸收，使Fe激發產生FeKα，測定Ni時，因為Fe的吸收效應使結果偏低，測定Fe時，由于熒光增強效應使結果偏高。但是，配置相同的基體又幾乎是不可能的。為克服這個問題，目前X射熒光光......閱讀全文
關于X射線熒光分析的定量分析
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比: Ii=IsWi (10.2) 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些方法都要使標準樣品的組成與試樣的組
關于X射線熒光分析的定量分析的介紹
X射線熒光光譜法進行定量分析的依據是元素的熒光X射線強度I1與試樣中該元素的含量Wi成正比： Ii=IsWi（10.2） X射線熒光分析 X射線熒光分析 式中，Is為Wi=100%時，該元素的熒光X射線的強度。根據式(10.2)，可以采用標準曲線法，增量法，內標法等進行定量分析。但是這些
關于X射線熒光分析的簡介
X光熒光分析又稱X射線熒光分析(XRF)技術，即是利用初級x射線光子或其他微觀粒子激發待測樣品中的原子，使之產生熒光(次級x射線)而進行物質成分分析和化學形態研究的方法。
X射線熒光光譜定性定量分析方法
樣品制備 進行X射線熒光光譜分析的樣品，可以是固態，也可以是水溶液。無論什么樣品，樣品制備的情況對測定誤差影響很大。對金屬樣品要注意成份偏析產生的誤差；化學組成相同，熱處理過程不同的樣品，得到的計數率也不同；成份不均勻的金屬試樣要重熔，快速冷卻后車成圓片；對表面不平的樣品要打磨拋光；對于粉末樣品，要
關于熒光X射線的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
關于X射線熒光分析的分類介紹
1、根據分光方式的不同，X射線熒光分析可分為能量色散和波長色散兩類，也就是通常所說的能譜儀和波譜儀，縮寫為EDXRF和WDXRF。 通過測定熒光X射線的能量實現對被測樣品的分析的方式稱之為能量色散X射線熒光分析，相應的儀器稱之為能譜儀，通過測定熒光X射線的波長實現對被測樣品分析的方式稱之為波長
關于X射線熒光分析的定性分析
不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。如果是波長色散型光譜儀，對于一定晶面間距的晶體，由檢測器轉動的2θ角可以求出X射線的波長λ，從而確定元素成分。事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干
X射線熒光光譜的定量分析的方法介紹
1、傳統定量分析：通過建立工作曲線，進行定量分析（精確定量）； 2、半定量分析：對于未知試樣或者化學元素組成較為復雜的試樣，無法或者難以選擇合適的基體用以建立工作曲線，而通過建立數學模型、利用數學方法來進行半定量分析，這種分析由于不需要使用標樣或者使用較少的標樣用以校準，分析結果基于某種假設和
關于X射線熒光分析技術應用的誤區
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
質子激發X射線熒光分析的X 射線譜
在質子X 射線熒光分析中所測得的X 射線譜是由連續本底譜和特征X 射線譜合成的疊加譜。樣品中一般含有多種元素，各元素都發射一組特征X 射線譜，能量相同或相近的譜峰疊加在一起，直觀辨認譜峰相當困難，需要通過復雜的數學處理來分解X 射線譜。解譜包括本底的扣除、譜的平滑處理、找峰和定峰位、求峰的半高寬