三種zeta電位分析儀器表征紙漿材料的對比
紙漿是一種纖維材料，來自于化合物分解或者木材或植物纖維的機械分離。紙漿是造紙行業最重要的原材料。典型的光學顯微鏡下的植物纖維見圖1。圖1：紙漿中典型纖維的光學圖像(Courtesy to TU Graz.Prof.W.Bauer) Zeta電位測試帶電表面間的相互作用 在造紙行業，Zeta電位是了解陽離子保留液，固定劑和帶陰離子電荷的纖維表面相互作用的重要指標。被破壞的物質比如木質素磺酸鹽，會在造紙機械的水體系中和昂貴的帶陽離子固定或者保留液作用，從而產生沉淀（凝聚）。 Zeta電位的測試可以提供一個有效的分析數據，可以更好地洞悉和理解纖維加工完成后復雜的膠體機理。 表征的技術圖2：Particle Metrix顆粒表征系統 Stabino II ?是流動zeta電勢滴定系統，來自德國膠體公司（Colloild Metrix GmbH），可以提供快速電信號響應，用于研......閱讀全文
Zeta電位分析儀
zeta電位分析儀NanoPlus是麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司一款新型的、多用途分析儀，是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及FST技術來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和
Zeta電位分析儀所分析的Zeta電位的概念
今天讓我們一起來了解一下Zeta電位分析儀所分析的Zeta電位的概念是什么吧? ZETA電位(Zeta potential)是指剪切面(Shear Plane)的電位，又叫電動電位或電動電勢(ζ-電位或ζ-電勢)，是表征膠體分散系穩定性的重要指標。? 目前測量Zeta 電位的方法主要有電泳法
ZETA電位分析儀的應用
ZETA電位分析儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及新的FST技術來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。? 該儀器采用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒
納米粒度電位分析儀
納米粒度及電位分析儀是一種用于生物學、工程與技術科學基礎學科、材料科學、紡織科學技術領域的物理性能測試儀器，于2004年04月14日啟用。 技術指標 ①粒徑范圍：0.6～6000nm〔最小樣品量20微升〕②Zeta電位：電導率0～200ms/cm的樣品③靈敏度：0.1mg/ml溶菌酶單體④分
電位滴定分析儀基本結構
電位滴定儀的儀器設備，有的很簡單，有的比較復雜；可以自行組裝，也有成套的商品儀器。在商品儀器中，有手動電位滴定儀和自動電位滴定儀。自動電位滴定儀是由計算機控制的全自動化儀器。1.手動電位滴定基本儀器裝置裝置中電位滴定池是一只燒杯，杯中放攪拌子和試液，燒杯放在電磁攪拌器上，試液中插有指示電極和參比電極
Zeta電位分析儀有哪些應用
半導體 研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。 醫藥和食品行業 乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。 陶瓷和顏料工業 表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷
Zeta電位分析儀有哪些特點？
Zeta電位分析儀是一款高性能的儀器。系統包括激光粒度儀、自動干法分散系統、靜音無油空氣壓縮機、高效冷凝器等部分組成。在干法狀態下，樣品通過自動干粉進樣器均勻輸送到高壓氣流中，在高壓氣流的帶動下連續高速噴射到分散器中，在到達分散器出口處樣品已經被充分分散，穿過激光束之后樣品進入收集器中，同時電腦立刻
Zeta電位分析儀的產品應用
半導體研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。醫藥和食品行業乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究（如食品、香水、藥品和化妝品），蛋白質功能研究，核糖體分散和凝聚控制研究，表面活性劑功能研究（微囊）。陶瓷和顏料工業表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷（矽土、氧化鋁、二氧化鈦
Zeta電位分析儀有什么技術特點
Zeta電位分析儀可測定顆粒在高濃度溶液中的zeta電位 可測定固體zeta電位 寬粒徑范圍(0.6nm~10μm)，寬濃度范圍(粒徑測試：0.00001%~40% 可精確測量各種濃度的懸浮液 用戶友好的軟件 多種樣品池選擇 可選擇一次性樣品池 結合線性相關器和對數相關器相結合的技術對各種樣品進
納米粒度及Zeta電位分析儀
納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用于環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，于2012年4月5日啟用。 技術指標 1、Zeta電位部分： 1.1電泳測量適用粒度范圍：0.005-30μm；1.2電泳遷移率范圍：10 -10 -10 -7 m2 /V.s；1.3 樣品池：3ml方形
電位滴定分析儀的使用方法
電位滴定分析法是指以指示電極、參比電極、試液組成工作電池，用標準溶液進行滴定，記錄滴定過程中指示電極電位變化，并利用指示電極電位的突然變化的特點來指示滴定反應終點的電化學分析方法。在電位滴定分析法中，用來測量、記錄、顯示電極電位突變的儀器稱為電位滴定分析儀。 一、儀器基本結構 電位滴
DT310－電聲法zeta電位分析儀特點
采用電聲測量技術，無需先測量粒度即可進行電位測量超聲探頭（Zeta Probe）直接測量原始樣品的zeta電位用于懸浮液和乳液表征；可以是水相，極性和非極性溶劑Zeta電位測量范圍：無限制；低表面電荷可低至0.1mV不用稀釋，測量原濃樣品：0.1～50％(體積百分數)最小樣品量：?2ml可測量動態遷
納米粒度與Zeta電位分析儀的應用
? ? 納米粒度與Zeta電位分析儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合數個ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，可滿足濃度從0.1ppm到40%樣品的可粒
界面動態電位：Zeta電位
? ?界面動態電位即為Zeta電位。界面電位(interfacialpotential)一種電化學概念。即兩相接界面處的電位。分為靜態的動態的兩種。靜態的即“接界電位”，由于在金屬與溶液界面處產生了雙電層而形成的電位差；動態的即Zeta電位（Zeta-電位），也稱“界面動態電位”，產生于相互接觸的固
界面動態電位：Zeta電位
界面動態電位即為Zeta電位。界面電位(interfacialpotential)一種電化學概念。即兩相接界面處的電位。分為靜態的動態的兩種。靜態的即“接界電位”，由于在金屬與溶液界面處產生了雙電層而形成的電位差；動態的即Zeta電位（Zeta-電位），也稱“界面動態電位”，產生于相互接觸的固體和液
Zeta電位流動電位法
? ?用流動電位法Zeta電位測量生產中所用紙漿、填料和紙料的Zeta電位非常方便，可以隨時取樣，隨時測量，而所測樣品的組成和性質不發生任何改變，測量結果真實反映了生產中的Zeta電位，對控制紙廠生產具有很好的指導作用。在測量過程中，影響Zeta電位的因素是多方面的，并且測量樣品不同，影響因素也不同
DPSA1－微型電位溶出分析儀操作實驗
實驗步驟 儀器面版各功能鍵置于如下狀態： 1. 功能選擇鍵：置于上檔位置（彈出）。 2. “PSA-MCP”選擇開關：置于 PSA。 3. “二電極-三電極”選擇開關：置于二電極。 4. “+ - 0 ”：置于 0。 5. “陰極-陽極”置于陽極。 操作鍵盤按如下操作 1.
ORP計（氧化還原電位在線分析儀）的概述
ORP計一款全新的氧化還原電位分析儀，BRP-200A型ORP計為高智能化在線連續監測儀，由傳感器和二次表兩部分組成。可配三復合或兩復合電極，以滿足各種使用場所。配上純水和超純水電極，可適用于電導率小于3μS/cm的水質（如化學補給水、飽和蒸氣、凝結水等）的ORP值測量。可廣泛應用于電力、化工、
DT300系列高濃度Zeta電位分析儀特點
儀器簡介：??????DT300粒度和Zeta電位分析儀器采用ZL技術---多頻電聲學測量技術測量膠體體系的Zeta 電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用DT-300直接進行測量。???? 傳統方法要求
DPSA1－微型電位溶出分析儀操作實驗
儀器面版各功能鍵置于如下狀態：1. 功能選擇鍵：置于上檔位置（彈出）。2. “PSA-MCP”選擇開關：置于 PSA。3. “二電極-三電極”選擇開關：置于二電極。4. “+ - 0 ”：置于 0。5. “陰極-陽極”置于陽極。操作鍵盤按如下操作1. 開機2. 按“置數”鍵，顯示“A”，置數“0”（
Zeta電位分析儀在紙張和紙漿中的應用
? ? 紙張由木纖維紙漿、填料、顏料和絮凝添加劑制造而成。添加粘土或石灰等填料，使紙張具有不透明性。添加二氧化鈦等染料和和顏料，調整紙張的光澤度。進步這些成份的保持力在紙張制造工藝中是最重要的。 產品所有成份的物理屬性上的相互作用以及紙張制造工廠的效率題目相當復雜，但是有兩項參數可以起到幫助作用－
固體表面ZETA電位分析儀的技術指標
流動電位測量范圍 ：± 2000 mV ± (0.2% + 4 μV) 流動電流測量范圍 ：± 2 mA ± (0.2% + 1 pA) 測量單元電阻：5 ? ... 20 M? ± (2%+ 0.5) pH值 ：pH 0 ... 14 ± 0.05 電導率 ： 5x10-3 ... 2x104
固體表面ZETA電位分析儀主要功能
流動的液體會帶動因為Zeta電位現象在固體表面形成的電子（或離子）形成流動電流。測量流動壓力差和流動電位差，可以測量ZETA電位。
Nanotrac－wave納米粒度及Zeta電位分析儀簡介
納米粒度測量——最新動態光背散射技術隨著顆粒粒徑的減小，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低，使得經典動態光散射技術的自相關檢測（PCS）變得更加不確定。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術在顆粒粒度測量中的應用。作為行業的先鋒，早在1990年，超細顆粒分析儀器UPA（
ORP計（氧化還原電位在線分析儀）的簡介
ORP計也稱氧化還原電位在線分析儀（Oxidation-ReductionPotential），是一種廣泛用于工業和實驗的儀器儀表；ORP作為介質（包括土壤、天然水、培養基等）環境條件的一個綜合性指標，已沿用很久，它表征介質氧化性或還原性的相對程度。ORP的單位是mv。ORP值（氧化還原電位）是
納米粒徑與電位分析儀的工作原理分析
NICOMP 380 ZLS&S納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位
Nanotrac－wave納米粒度及Zeta電位分析儀特點
技術參數：粒度分析范圍:0.8nm-6.5μm重現性：誤差≤1%Zeta電位測量范圍：-200mV~200mV電導率：0-200ms/cm濃度范圍：ppb-40%檢測角度：180°分析時間：30-120秒準確性：全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子測量精度:無需預選，依據實際測量結果，自動生成單峰/多
Zeta電位分析儀的測量原理與注意事項
Zeta電位分析儀是基于電泳光散射原理測量納米顆粒材料Zeta電位的。電泳光散射技術是一種用于測量分散顆粒或溶液中分子電泳淌度的技術。該淌度通常轉換為Zeta電位，以便在不同實驗條件下對材料進行對比。其基本的物理原理為電泳原理。一種分散樣品被放入含有兩個電極的樣品池中。使用電極施加電場，具有凈電荷的
納米粒徑與電位分析儀的工作原理分析
NICOMP 380 ZLS&S納米粒徑與電位分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位
Zeta電位分析儀在紙張和紙漿中的應用
?? 紙張由木纖維紙漿、填料、顏料和絮凝添加劑制造而成。添加粘土或石灰等填料，使紙張具有不透明性。添加二氧化鈦等染料和和顏料，調整紙張的光澤度。進步這些成份的保持力在紙張制造工藝中是zui重要的。 Zeta電位、流變......造紙 產品所有成份的物理屬性上的相互作用以及紙張制造工廠的效