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    Nanotracwave納米粒度及Zeta電位分析儀特點

    技術參數:粒度分析范圍:0.8nm-6.5μm重現性:誤差≤1%Zeta電位測量范圍:-200mV~200mV電導率:0-200ms/cm濃度范圍:ppb-40%檢測角度:180°分析時間:30-120秒準確性:全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子測量精度:無需預選,依據實際測量結果,自動生成單峰/多峰分布結果理論設計溫度:0-90℃,可以進行程序升溫或降溫兼容性:兼容任何有機溶劑及大多數酸性或堿性溶液測量原理:粒度測量:動態光背散射技術和全量程米氏理論處理 Zeta電位測量:膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率 分子量測量:水力直徑或德拜曲線 專利技術:膜電極,微電場電勢測量,“Y”型光纖探針設計,異相多普勒頻移,可控參比方法,快速傅立葉轉換算法,非球形顆粒校正因子光學系統:3mW780nm半導體固定位置激光器,通過梯度步進光纖直接照射樣品,在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號,無需校......閱讀全文

    粒度儀、激光粒度儀、激光粒度分析儀簡易操作

     1. YED新款粒度儀無需預熱,開機即可測試。老式粒度儀需開機預熱15-20分鐘;  2. 運行顆粒粒徑測量分析軟件;? ? 3.點選自動測試儀器會進入自動測試模式,所有操作會自動完成。您只需按提示加入樣品即可。NKT儀器就是這么簡單,就是這么任性。? ? 以下講解一下手動測試步驟  1.向樣品池

    粒度儀、激光粒度儀、激光粒度分析儀簡易操作步驟

    1.?開機預熱15-20分鐘;2.?運行顆粒粒徑測量分析系統;3.向樣品池中倒入分散介質,分散介質液面剛好沒過進水口上側邊緣,打開排水閥,當看到排水管有液體流出時關閉排水閥(排出循環系統的氣泡),開啟循環泵,使循環系統中充滿液體,然后關掉循環泵。4.點擊“文件”“新建” 選擇合適的路徑,然后再點“文

    粒度儀

    粒度儀分為三類: 納米粒度儀,激光粒度儀和單顆粒光阻法粒度儀粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。

    粒度儀所測量的“粒度”

    粒度是指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示,立方體顆粒的粒度用邊長表示。對不規則的礦物顆粒,可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑作為該顆粒的等效直徑。有時候,在描述粉塵顆粒大小的時候也會用到。一般所說的粒度是指造粒后的二次粒子的粒度。對不規則的礦物顆粒,可將與礦物顆粒有相同行為的某一球體直徑

    用粒度儀測量粒度分布

    有時用粒度儀測量粒度分布,所謂粒度分布,就是粉體樣品中各種大小的顆粒占顆粒總數的比例。當樣品中所有顆粒的真密度相同時,顆粒的重量分布和體積分布一致。在沒有特別說明時,儀器給出的粒度分布一般指重量或體積分布。1.公式法表達粒度分布:Rosin-Rammler公式:W(x)=1-exp[-(x/De)^

    激光粒度儀測試粒度分布介紹

    ?激光粒度儀是一種常用的測量儀器,具有測試速度快、重復性好、準確性好、操作簡便等優點,在粉體加工領域中得到了廣泛的應用。激光粒度儀怎樣測試粒度分布呢?  激光粒度儀是根據顆粒能使激光產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和極強的方向性,所以在沒有阻礙的無限空間中激光將會照射到無

    粒度分析儀的粒徑粒度

    粒徑的定義當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體(或其組合)最相近時,就是把該球體的直徑(或其組合)作為被測顆粒的等效粒徑(或粒度分布)。其含義:粒度測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的;2.不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量,例如:沉

    粒度分析儀的粒徑粒度

    當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體(或其組合)最相近時,就是把該球體的直徑(或其組合)作為被測顆粒的等效粒徑(或粒度分布)。其含義: 粒度測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的; 2.不同原理的儀器選不同的物理特性或物理行為作為比較的參考量,例如:沉降儀選

    平均粒度儀

    平均粒度儀是一種利用空氣透過法來測量粉末的平均粒徑的儀器。是利用空氣泵打出一定量的氣體,通過一定的氣體流量流經粉末層所有顆粒表面,最后由U形壓力計及流量阻力系數,而在儀器上直接顯示粉料的平均粒徑來。廣泛應用于磁性材料粉末,硬質合金粉末、陶瓷建材粉末、難熔金屬粉末、熒光粉、國防工業粉末,另外測定速度快

    激光粒度儀

    激光粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器,采用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響,只要將待測樣品均勻地展現于激光束中,即可獲得準確的測試結果。

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