掃描電子顯微鏡工作原理及主要結構（一）
掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器，它是機械學、光學、電子學、熱學、材料學、真空技術等多門學科的綜合應用。1.工作原理掃描電鏡由電子槍發射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經過磁透鏡系統匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉線圈的作用下，電子束在樣品上做光柵狀掃描，電子和樣品相互作用產生信號電子。這些信號電子經探測器收集并轉換為光子，再經過電信號放大器加以放大處理，最終成像在顯示系統上。試樣可為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量為5～35keV的電子，以其交叉斑作為電子源，經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈驅動下，于試樣表面按一定時間、空間順序做柵網式掃描。聚焦電子束與試樣相互作用，產生二次電子發射(以及其他物理信號)，二次電子發射量......閱讀全文
掃描電子顯微鏡工作原理及主要結構（一）
掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器，它是機械學、光學、電子學、熱學、材料學、真空技術等多門學科的綜合應用。1.工作原理掃描電鏡由電子槍發射出電子束(直徑約50um)，在加速電壓的作用下經過磁透鏡系統匯聚，形成直徑為5 nm的電子束，聚焦在樣品表面上，在第二聚光鏡和物鏡之間偏轉線圈的作用
掃描電子顯微鏡工作原理及主要結構（二）
一.圖像顯示和記錄系統高能電子束與樣品相互作用產生各種信息，如圖24-3所示，在掃描電鏡中采用不同的探測器接收這些信號。圖24-3??? 高能電子束與樣品作用產生信號電子示意圖二次電子的探測系統如圖24-4所示，它包括靜電聚焦電極(收集極或柵極)、閃爍體探頭、光導管、光電倍增管和前置放大器。二次電子
掃描電子顯微鏡的工作原理及主要結構
一、掃描電子顯微鏡SEM工作原理掃描電子顯微鏡SEM是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像。試樣為塊狀或粉末顆粒，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。其中二次電子是最主要的成像信號。由電子槍發射的能量為5-35KeV的電子，以其交叉斑作為電子源，經二級聚光鏡及物鏡的縮小形成具有一定能量、一定
掃描電子顯微鏡的原理及結構
掃描電子顯微鏡，全稱為掃描電子顯微鏡，英文為scanning electron microscope（SEM ），是一種用于觀察物體表面結構的電子光學儀器。 1、掃描電子顯微鏡的原理 掃描電子顯微鏡的制造是依據電子與物質的相互作用。當一束高能的人射電子轟擊物質表面時，被激發的區域將產生二次電子、
掃描電子顯微鏡SEM的結構及原理
掃描電鏡主要由電子光學系統，顯示系統，真空及電源系統組成。一、電子光學系統包括電子槍，聚光鏡（*、第二聚光鏡和物鏡），物鏡光闌和掃描系統。其作用是產生直徑為幾十埃的掃描電子束，即電子探針，使其在樣品表面作光柵狀掃描電子槍與透射電鏡的電子槍基本相同，只是加速電壓較低，一般在40kV以下。磁透鏡有*、二
掃描電子顯微鏡SEM的結構及原理
一、電子光學系統包括電子槍，聚光鏡（*、第二聚光鏡和物鏡），物鏡光闌和掃描系統。其作用是產生直徑為幾十埃的掃描電子束，即電子探針，使其在樣品表面作光柵狀掃描電子槍與透射電鏡的電子槍基本相同，只是加速電壓較低，一般在40kV以下。磁透鏡有*、二聚光鏡和物鏡，其作用與透射電鏡的聚光鏡相同：縮小電子束的直
掃描電子顯微鏡的主要結構
掃描電子顯微鏡的主要結構1.電子光學系統：電子槍；聚光鏡（*、第二聚光鏡和物鏡）；物鏡光闌。2.掃描系統：掃描信號發生器；掃描放大控制器；掃描偏轉線圈。3.信號探測放大系統：探測二次電子、背散射電子等電子信號。4.圖象顯示和記錄系統：早期SEM采用顯象管、照相機等。數字式SEM采用電腦系統進行圖象顯
掃描電子顯微鏡的工作原理及應用
結構及工作原理 由于透射電鏡是TE進行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內。為此需要通過各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉變到透射電鏡可以接受的程度。 能否直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像，成為科學家追求的目標。 經過努力，這種想法已成為現實-----掃
浮球液位計主要結構及工作原理
浮球液位計主要結構及工作原理 浮球液位計是在液位測量領域中較為常見的測量儀表,因為其具有適用范圍廣、安裝靈活方便,只要配套不同的浮球和內桿的材質，便可以測量任何性質的介質的液位。 液位測量中為了更好的讓用戶能夠使用浮球液位計,提高測量的準確度,有效延長液位計產品的使用壽命。那么
掃描電子顯微鏡工作原理
掃描電子顯微鏡透射電鏡原理 目前，主流的透射電鏡鏡筒是電子槍室和由6～8 級成像透鏡以及觀察室等組成。陰極燈絲在燈絲加熱電流作用下發射電子束，該電子束在陽極加速高壓的加速下向下高速運動，經過*聚光鏡和第二聚光鏡的會聚作用使電子束聚焦在樣品上，透過樣品的電子束再經過物鏡、*中間鏡、第二中間鏡和投影鏡