X射線熒光分析法與其它分析方法比較的優點介紹
（a）分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 （b）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定。 （c）非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。 （d） X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。可分析的元素范圍從(F到((U。EDX4500H型的元素分析范圍是((Na到((U，含量范圍為1PPm～99.9％。因此該法已用于銅合金、鎳合金中高含量Cu、Ni的分析. （e）分析精密度高。EDX4500H型的分析精度達0.1％，檢出限可達10Ppm。 （......閱讀全文
X射線熒光分析法與其它分析方法比較的優點介紹
（a）分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。 （b）X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。
X射線熒光分析方法的優點介紹
①分析的元素范圍廣，除少數輕元素外，周期表中幾乎其他所有的元素都能進行分析。隨著儀器的改進，分析元素已經擴展到F，O，C等輕元素。 ②熒光X射線譜簡單，譜線干擾少，對于化學性質極其相似的元素，如稀土、鋯鉿、鉑系等，不需經過復雜的分離，就能成功地完成分析工作。 ③分析的濃度范圍較寬，從常量組分
X熒光與其它方法比較
優點:? ??a)?分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。? ??b)?X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波
X射線熒光分析法
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射，其波長為?0.01?～?10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞
關于環境分析方法——X射線熒光分析法的介紹
X射線熒光分析的基本原理是以高能X射線（一次X射線）轟擊樣品，將待測元素原子內殼層的電子逐出，使原子處于受激狀態，10-12～10-15秒后，原子內的原子重新配位，內層電子的空位由較外層的電子補充，同時放射出特征X射線（二次X射線）。特征X射線波長λ和原子序數Z有一定關系：λ ∝1/Z2。測定這
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線熒光分析法的應用
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X射線熒光分析法的特點與適應范圍
(1)適應范圍廣 除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 (2)操作快速方便 在短時間內可同時完成多種元素的分析。 (3)不受試樣形狀和大小的限制，不破壞試樣，分析的試樣應該均勻。 (4)靈敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
X射線熒光分析法的特點與適應范圍
（1）適應范圍廣 除了H，He，Li，Be外，可對周期表中從5B到92U作元素的常量、微量的定性和定量分析。 （2）操作快速方便 在短時間內可同時完成多種元素的分析。 （3）不受試樣形狀和大小的限制，不破壞試樣，分析的試樣應該均勻。 （4）靈敏度偏低 一般只能分析含量大于0.01%的
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的優點
對于已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。 測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。 分析速度較快。 對于純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。 不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析法的基本信息介紹
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
激發X射線熒光分析法的概念
當α 、β、γ或X射線作用于樣品時，由于庫侖散射，軌道電子吸收其部分動能，使原子處于激發狀態。由激發態返回基態時發射特征X射線，根據此特征X射線的能量和強度來分析元素的種類和含量。其靈敏度很高，用途很廣。
X射線熒光分析法的應用特點
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用于原
X射線熒光分析法的未來展望
X射線熒光分析法同其他分析技術一樣，不是完美無缺的。在物質成分分析中，它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟，只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（例如選礦流程中的自動控
X射線熒光儀器的技術優點介紹
利用XRF，元素周期表中絕大部分元素均可測量。作為一種分析手段，XRF具有其優越的地方：分析速度快、非破壞分析、分析精密度高、制樣簡單等。波長色散和能量色散XRF光譜儀對元素的檢測范圍為10-5%~100%，對水樣的分析可達10-9數量級；全反射XRF的檢測限已達到10-9~10-12g。同時也
X射線熒光光譜分析與其它分析方法的不同點介紹
①與原級X射線發射法相比，不存在連續光譜，以散射線為主構成的本底強度小，峰底比(譜線與本底強度的比值)和分析靈敏度顯著提高。 ②與光學光譜法相比，由于X射線光譜的產生來自原子內層電子的躍遷，所以，除輕元素外，x射線光譜基本上不受化學鍵的影響，定量分析中的基體吸收和元素間激發(增強)效應較易于校
X射線熒光分析的介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線(X光熒光)而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Bir
X射線測厚儀與γ射線測厚儀比較
X射線測厚儀與γ射線測厚儀比較 (1)物理特性 X射線束能縮減為很小的一點，其結構幾何形狀不受限制，而γ射線則不能做到，因此光子強度會急驟減少以致噪音大幅度增加。 (2)信號/噪音比 X射線測厚儀：X射線的高光子輸出，能帶來比γ射線在相同時間常數下約好10倍的噪音系數。 (3)反應時間
X射線熒光光譜分析法
利用原級 X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。在成分分析方面,X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。 簡史 20世紀20年代瑞典的G.C.de赫維西和R.格洛克爾曾先后試圖應用此法從事定量分析，但由于當時記錄
X射線熒光分析方法的簡介
X射線熒光分析方法是一種現代光學分析方法。X射線照射物質時，除發生散射現象和吸收現象外，還能產生次級X射線，即熒光X射線。熒光X射線的波長只取決于物質中原子的種類。因此，根據熒光X射線的波長就可確定物質的元素組分；再根據該熒光X射線的強度，還可定量分析所屬元素的含量。20世紀50年代開始發展，6
X射線熒光分析技術介紹
X射線熒光分析技術(XRF)作為常規、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發展，現在已成為物質組成分析的必備方法之一。 在我國的相關生產企業的檢測、篩選和控制有害元素含量中，X射線熒光分析技術的應用氣相液相色譜儀提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的有效途徑；與其
X射線熒光光譜儀的優點介紹
?X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與
X射線熒光光譜儀的優點介紹
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象，適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。特別是在RoHS檢測領域應用得多也廣泛。?X射線熒光光譜儀的優點：?1) 分析速度快。測定用時與測
X射線熒光光譜分析儀的優點介紹
a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在
X射線熒光分析的相關介紹
確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法。它用外界輻射激發待分析樣品中的原子，使原子發出標識X射線（熒光），通過測量這些標識X射線的能量和強度來確定物質中微量元素的種類和含量。根據激發源的不同，可分成帶電粒子激發X熒光分析，電磁輻射激發X熒光分析和電子激發X熒光分析。
X射線熒光分析的特點介紹
1.分析速度快，通常每個元素分析測量時間在2～lOOs之內即可完成。 2.非破壞性，X射線熒光分析對樣品是非破壞性測定，使得其在一些特殊測試如考古、文物等貴重物品的測試中獨顯優勢 3.分析樣品范圍廣，可以對元素周期表上的多種元素進行分析，并可直接測試各種形態的樣品。 4.分析樣品濃度范圍寬
X射線熒光分析的基本介紹
X射線熒光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法，又稱X射線次級發射光譜分析，是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生次級的特征X射線（X光熒光）而進行物質成分分析和化學態研究。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）和L.S.伯克斯（L.S.Bir
關于環境分析方法—熒光分析法的優點介紹
熒光分析法的靈敏度很高，比一般的分光光度法高2～3個數量級，能檢測10-11～10-12克的痕量物質。熒光分析法還具有實驗方法簡便、取樣容易、試樣用量少等優點，因而是一種重要的分析技術。目前用熒光分析法測定的元素已達60多種，化合物數百種。在環境污染分析中，熒光分析法已被廣泛地應用于測定致癌物和