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原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。 X- 射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。 X 射線是倫琴于 1895 年發現的一種電磁輻射，其波長為 0.01 ～ 10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞擊到金屬 Mo ， Cu ， Fe ， Cr ， Rh 等材料制成的陽極靶上，電子運動突然停止，電子動能部分轉變成 X 射線輻射出來，它包含有高強度的單色 X 射線——特征 X 射線外，還有連續的 X 射線。高能粒子（電子或連續 X 射線等）與靶材料......閱讀全文
X射線熒光分析作為工業分析技術經歷了幾十年的發展歷程，在水泥制造業已得到廣泛應用。我國水泥工業中X射線熒光分析技術的應用和發展，基本上是在近25 年中實現的。上個世紀七十年代末八十年代初，一方面隨著大量新型干法水泥生產線的成套引進，大型X熒光光譜儀開始出現在我國水泥工業，另一方面，隨著鈣鐵 分析
4 、誤差范圍我們要考慮熱釋光的精確度問題，對古劑量、年劑量影響的各種因素（靈敏度、非線性、飽和等），那么就不但需要精確確定天然放射性來源，而且應考慮陶器在歷史上實際接受放射性照射條件，如含水量、氫逃逸等影響的因素。只有對上述各種因素作了正確測定和較正后，才有可能使其精確達到 10%&nb
X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。 一、XRF在物質成分分析上的應用 XRF應用主要取決于儀器技術和理論方法的發展。X射線熒光分析儀器有三種主要類型：實驗室用
1）滴定法濕法化學分析測定陶瓷原料的化學成分，滴定法是其中常用的方法之一。滴定分析法的原理是，滴定試劑與被測組分在適當的酸堿pH值下反應，通過指示劑在反應達到終點時顏色突變所使用的滴定試劑的多少來計算被測物的含量。陶瓷成分測定中，三氧化二鋁、氧化鎂＞5%、氧化鈣、三氧化二鐵、氟化鈣、較高含量的二氧化
熒光分析法是指利用某些物質被紫外光照射后處于激發態，激發態分子經歷一個碰撞及發射的去激發過程所發生的能反映出該物質特性的熒光，可以進行定性或定量分析的方法。由于有些物質本身不發射熒光（或熒光很弱），這就需要把不發射熒光的物質轉化成能發射熒光的物質。例如用某些試劑（如熒光染料），使其與不發射熒光的
X射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作
光譜分析法分類及特點儀器分析中的光學分析方法可以分為光譜分析方法和非光譜分析方法。非光譜分析法是通過光的其他性質（如反射、折射、衍射、干涉等）的變化作為分析信息的分析方法，如旋光法、折射法、干涉法、散射濁度法、X射線衍射法、電子鏟衍射法等。光譜分析方法通過測定待測物質的某種光譜，根據光譜中的波長特征
射線熒光光譜分析技術(XRF)是利用X射線與物質產生的X射線熒光而進行的元素分析方法,采用探測器檢測特征X射線熒光的能量和強度,從而實現定性和定量分析。X射線熒光光譜分析具有快速、多元素分析、制樣簡單、重現性好、準確度高、非破壞性和對環境無污染等特點,被廣泛應用于多領域的樣品分析。硫化銅礦石作為國家
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
通常認可的重金屬分析方法有：紫外可見分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高。也有的采
能譜儀結構及工作原理 X射線能量色散譜分析方法是電子顯微技術最基本和一直使用的，具有成分分析功能的方法，通常稱為X射線能譜分析法，簡稱EDS或EDX方法。它是分析電子顯微方法中最基本，最可靠，最重要的分析方法，所以一直被廣泛使用。 1。特征X射線的產生 特征X射線的產生是入射電子使內層電子
(六)X射線儀器 1. X射線衍射儀 國外在X射線衍射儀方面的的技術發展很快。主要表現在新型探測器、模塊化、分析軟件的功能強化、先進的X射線光學器件等方面。 目前國外各衍射儀生產廠家紛紛研發配備新型高性能探測器，以確保高檔儀器市場中的競爭地位。有的公司每不到兩年就推出一種新儀器。
(六)X射線儀器 1. X射線衍射儀 國外在X射線衍射儀方面的的技術發展很快。主要表現在新型探測器、模塊化、分析軟件的功能強化、先進的X射線光學器件等方面。 目前國外各衍射儀生產廠家紛紛研發配備新型高性能探測器，以確保高檔儀器市場中的競爭地位。有的公司每不到兩年就推出一種新
重金屬的定量檢測技術通常認可的重金屬分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、Ｘ熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）。日本和歐盟國家有的采用電感耦合等離子質譜法（ICP-MS）分析，但對國內用戶而言，儀器成本高
重金屬檢測方法及應用 一、重金屬的危害特性 從環境污染方面所說的重金屬，實際上主要是指汞、鎘、鉛、鉻、砷等金屬或類金屬，也指具有一定毒性的一般重金屬，如銅、鋅、鎳、鈷、錫等。我們從自然性、毒性、活性和持久性、生物可分解性、生物累積性，對生物體作用的加和性等幾個方面對重金屬的危害稍
紅外光譜樣品制備 紅外光譜是未知化合物結構鑒定的一種強有力的工具，尤其近幾年來各種取樣技術和聯用技術的迅速發展，使得它成為分析化學應用中最廣泛的儀器之一。 樣品要求： 1、氣體、液體（透明，糊狀）、固體（粉末、粒狀、片狀…）。 氣體樣品：采用氣體吸收池進行測試，吸收峰的強度可以通過調整氣
成分分析： 成分分析按照分析對象和要求可以分為 微量樣品分析 和 痕量成分分析 兩種類型。 按照分析的目的不同，又分為體相元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析等方法。 體相元素成分分析是指體相元素組成及其雜質成分的分析，其方法包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線熒光與X射線衍射分析方
材料的逆向分析是現行材料研發中的重要的手段，也是實現材料研發中的最經濟、最有效的的研發手段。如何實現材料的逆向分析，從認識材料的分析儀器著手。 成分分析簡介 成分分析技術主要用于對未知物、未知成分等進行分析，通過成分分析技術可以快速確定目標樣品中的各種組成成分是什么，幫助您對樣品進行定性定量
一、重金屬的危害特性 從環境污染方面所說的重金屬，實際上主要是指汞、鎘、鉛、鉻、砷等金屬或類金屬，也指具有一定毒性的一般重金屬，如銅、鋅、鎳、鈷、錫等。我們從自然性、毒性、活性和持久性、生物可分解性、生物累積性，對生物體作用的加和性等幾個方面對重金屬的危害稍作論述。（一）自然性：長期生
儀器分析法根據被測量的物理和物理化學性質可分為以下幾類：光學分析法電化學分析法色譜分析法質譜分析法熱量分析法放射化學（又稱活化）分析法分析化學是研究物質的化學組成，測定有關成分的含量以及鑒定物質化學結構的科學。隨著科學技術的發展，分析化學分支為化學分析和儀器分析。其中化學分析是以化學反應為基礎的分析
一、光譜法與非光譜法凡是基于檢測能量作用于待測物質后產生的輻射信號或所引起的變化的分析方法均可稱為光學光譜分析法，常簡稱光分析法。根據測量的信號是否與能級的躍遷有關，光學分析法可分為光譜法和非光譜法兩大類。非光譜法測量的信號不包含能級的躍遷，它是通過測量電磁輻射某些基本性質，如折射、散射、干涉、衍射
X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。 探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。 然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種
光譜分析法是根據物質發射的電磁輻射或電磁輻射與物質相互作用而建立起來的一類分析化學方法。這些電磁輻射包括從g射線到無線電波的所有電磁波譜范圍，而不只局限于光學光譜區。電磁輻射與物質相互作用的方式有發射、吸收、反射、折射、散射、干涉、衍射、偏振等。 光譜分析法可分為光譜法和非光譜法兩大類。&
產品介紹 X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、
隨著中國汽車工業的迅猛發展，汽車產量和保有量年年上升。根據國家相關法律法規規定，為了保障人民的財產安全，汽車到了一定的使用年限必須報廢，我國2016年汽車產量為2000多萬輛，由此可見報廢汽車對帶來的環境與資源壓力日益嚴重。為了減少報廢汽車對生態環境的破壞，保護人體健康安全，提高整個汽車產業鏈的
精工電子納米科技有限公司(簡稱：SIINT，社長：川崎賢司，總公司：千葉縣千葉市)是精工電子有限公司(簡稱：SII，社長：新保雅文，總公司：千葉縣千葉市)的全資子公司，主要從事測量分析儀器的生產和銷售。本次，將于7月1日發售X射線熒光檢測儀器「SEA1300VX」，無需處理就能在數分鐘內檢測出大
金屬元素對于人類的日常生活非常的重要，它們幾乎分布在人們周圍的一切地方，可以說沒有金屬，就沒有現代生活中發達的科技，從最初殷商時代的青銅器，到現在擁有各種各樣用途的金屬制品，礦石的開采與金屬的冶煉貫穿了人類的科技發展史。隨著科技的發展，測定礦石中的金屬元素的含量也成為了冶金行業的重要工作。在礦石的金
能量色散X射線熒光(EDXRF)光譜分析技術被廣泛的應用于金屬冶煉、地質勘探、工礦開采、石油化工、生物醫療、刑偵調查、考古鑒定、污染監測等多種行業中,特別是其具有實時檢測和全譜分析的特點,并能夠同時獲取多種數據,這是目前為止其他分析手段所不能實現的。由于EDXRF光譜儀不需要使用分光晶體和角度測量系
⑴冶金分析的特點 冶金分析是指冶金生產過程中各物料的化學組成及其含量的分析。它對原料的選擇，在冶煉前的爐料計算，冶煉工藝流程的控制中，產品的檢驗，新產品的試制，以及冶金工廠中環保分析都是必不可少的。特點是：①在保證生產質量的前提下，分析速度要快，特別是分析；②冶金分析物料種類繁多，有固體