ParkSystems公司與日本電子公司簽署分銷合作伙伴協議
分析測試百科網訊 2015年10月6日，Park Systems公司宣布其在日本的子公司與日本電子公司建立合作伙伴關系，將在日本市場共同分銷Park Systems公司的原子力顯微鏡（AFM）產品。 “日本電子公司是世界領先的電子顯微鏡制造商，我們很高興通過分銷合作伙伴關系，為日本電子的客戶提供Park Systems公司的原子力顯微鏡（AFM）產品以及服務。” Park Systems公司首席執行官Sang-il博士表示。 日本電子公司是一個擁有全球領先技術的高性能電子光學分析技術儀器制造商。公司擁有近3000名員工，專門從事先進的納米成像和分析應用開發工作，日本電子的定位是為客戶提供優秀的科學儀器和服務，幫助客戶進行高端研究工作。 “與日本電子公司的合作將擴大我們在日本的銷售網絡，建立我們在學術和工業兩方面的市場優勢。” Park Systems公司總裁Noboru Terata表示。 日本電子公司經常為客戶進......閱讀全文
原子力顯微鏡與掃描電子顯微鏡
原子力顯微鏡與掃描電子顯微鏡盡管SEM 和AFM 的橫向分辨率是相似的,但每種方法又會根據觀察者對試樣表面所要了解的信息不同而提供更完美的表征。SEM 和AFM 兩種技術最基本的區別在于處理試樣深度變化時有不同的表征。極其平整的表面既可能是天然形成的,如某些礦物晶體表面,也可能是經過處理的,如拋光和
原子力顯微鏡為什么是“原子力”
原子力顯微鏡也是運用了類似的原理。如果我們用一根探針來靠近某個物體的表面，當針尖與表面距離非常小時（一般在幾個納米左右），二者之間會存在一個微弱的相互作用。從圖2我們可以看到，針尖與物體表面之間的作用力大小和它們之間的距離直接相關，距離非常近時（一般小于零點幾納米）二者之間的力是相互排斥的，如果它們
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡（atomic force microscope，簡稱AFM）是一種納米級高分辨的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。將一對微弱力極端敏感的微懸臂一端固定，另一端的微小針尖接近樣品，這時它將與其相互
原子力顯微鏡
原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope,AFM)是在1986年由掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Mi-croscope,STM)的發明者之一的Gerd Binnig博士在美國斯坦福大學與Quate C F和Gerber C等人研制成功的一種新型的顯微鏡[1
原子力顯微鏡屬于電子顯微鏡范疇嗎？
電子顯微鏡，簡稱電鏡，是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在非常高的放大倍數下成像的儀器。電子顯微鏡是利用電子束代替可見光來成像的纖維設備，由于普通光學顯微鏡受可見光波長限制，分辨率不高，而電子束的德布羅意波長遠遠低于可見光，分辨率自然更高。原子力顯微鏡(AFM
原子力顯微鏡的力譜
原子力顯微鏡的另一個主要應用(除了成像)是力譜，它直接測量作為尖端和樣品之間間隙函數的尖端-樣品相互作用力(測量的結果稱為力-距離曲線)。對于這種方法，當懸臂的偏轉被監測為壓電位移的函數時，原子力顯微鏡的尖端向表面伸出或從表面縮回。這些測量已被用于測量納米接觸、原子鍵合、范德華力和卡西米爾力、液
原子力顯微鏡比電子顯微鏡好在哪里
電子顯微鏡雖然神通廣大，卻也有許多難以克服的缺點。一個大的問題是，空氣中的分子會和電子作用，使得它們不能到達我們需要觀察的樣品。正因為如此，使用電子顯微鏡觀察樣品時，樣品必須放置于高真空環境。這大大提高了儀器的成本，因為一個好的真空系統往往造價不菲。同時，真空環境也使得我們無法準確觀察某些樣品。例如
原子力顯微鏡概述
原子力顯微鏡(AFM)概述最早掃描式顯微技術(STM)使我們能觀察表面原子級影像，但是STM 的樣品基本上要求為導體，同時表面必須非常平整， 而使STM 使用受到很大的限制。而目前的各種掃描式探針顯微技術中，以原子力顯微鏡(AFM)應用是最為廣泛，AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力，所
相原子力顯微鏡
液相原子力顯微鏡(liquid cell Force Microscope )對生物分子研究而言，對DNA 基本結構及功能的了解一直是科學家追求目標，早在1953 年 DNA 雙螺旋結構的發現后，使人了解遺傳訊息如何在這當中傳送，并且也將生物研究推展到分子生物的領域，為了解個別分子的功能，許多解析分
原子力顯微鏡簡介
原子力顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發展起來的掃描探針顯微鏡。原子力顯微鏡的出現無疑為納米科技的發展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描，從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態信息。與常規顯微鏡比