上海交通大學尖端物質結構研究中心成立
國際先進電鏡技術研討會同時舉行 3月29日，國際先進電鏡技術研討會暨上海交通大學尖端物質結構研究中心揭牌儀式在上海交通大學閔行校區舉行。上海交通大學校長張杰院士與日本電子株式會社社長栗原権右衛門共同為尖端物質結構研究中心揭牌。 清華大學副校長薛其坤院士、清華大學朱靜院士、浙江大學張澤院士、上海交通大學潘健生院士等出席。日本東北大學櫻井利夫教授，上海交大林棟梁教授、張國定教授，晶澳太陽能控股有限公司副總裁黃新明教授，以及來自其他高校、企業代表、上海交大機關部處、上海交大材料學院領導等70余人出席會議，全校師生100余人參加研討會。開幕暨揭牌儀式由上海交大材料科學與工程學院院長孫寶德教授主持。尖端物質結構研究中心主任陳明偉教授向與會人員致了歡迎詞。 張杰院士首先代表上海交通大學致辭。他對中心的成立表示了熱烈的祝賀，他還詳細的介紹了該中心建立的目的，講述了中心建立過程中的故事，強調了中心的建立對材料學科甚至整個學校的重......閱讀全文
JEOL攜手加州大學創建超級電鏡和材料研究平臺
JEOL USA和加州大學歐文分校的材料研究所(IMRI)達成戰略合作伙伴關系，將創建超級電鏡和材料科學研究平臺。IMRI將成為新材料研發的跨學科研究平臺，將促進太陽能電池、電池、半導體、生物科學和醫療技術的進步發展。 IMRI的負責人為Dr. Xiaoqing Pan，國際知名的材料物理研
電鏡“老玩家”袁建忠：專注電鏡20年，共筑科技強國夢
分析測試百科網訊 顯微系統作為人們觀察微觀物質結構的偉大發明，已經被用于各行各業中，成為現代分析的重要工具之一。在顯微界中，有這樣一家公司，從誕生之日起不斷追求更高的顯微技術，同時也一直引領著全球顯微技術的發展潮流，她就是知名電子光學系統制造商——日本電子（中國地區稱為“捷歐路”）。
透射電鏡江湖紛爭（一）：日本電子JEOL
如今的透射電子顯微鏡市場，可謂是呈三足鼎立之勢：日本電子，日立和FEI。 今天主要介紹一下老大哥日本電子株式會社JEOL。 提起日本電子，大家都不陌生，目前在我國各大科研院所都不難看到JEOL電鏡的影子。日本電子株式會社，是一家世界頂級的科學儀器生產制造商。在這么多的儀器制造商中說它頂級，其
JEOL發布新型電子顯微鏡JEM1400Flash
分析測試百科網訊 近日，JEOL有限公司發布了新的電子顯微鏡JEM-1400Flash。 透射電子顯微鏡（TEM）用于生物學，納米技術，聚合物和先進材料等廣泛領域。在生物標本或大分子材料的觀察中，通常首先在低放大倍率下確認細胞組織或材料的整個結構，然后在高倍率下仔細研究感興趣的細小結構。為了順
透射電鏡江湖紛爭（二）：FEI
上一篇文章主要介紹了日本電子，今天，我們就一起來看看JEOL在透射電鏡領域最有力的競爭者——FEI。 FEI是一家美國的高科技公司，是為全球納米技術團體提供解決方案的創新者和領先供應商, “TOOLS FOR NANOTECH”，生產的產品主要面向半導體、數據存儲、結構生物學、材料和工業領域。
上海交通大學尖端物質結構研究中心成立
國際先進電鏡技術研討會同時舉行 3月29日，國際先進電鏡技術研討會暨上海交通大學尖端物質結構研究中心揭牌儀式在上海交通大學閔行校區舉行。上海交通大學校長張杰院士與日本電子株式會社社長栗原権右衛門共同為尖端物質結構研究中心揭牌。 清華大學副校長薛其坤院士、清華大學朱靜院士、浙江大學張澤院士
TEM球差
球差不完美透鏡導致的直接結果就是引入了讓顯微學者最頭疼的球差。電子的聚焦是靠洛倫茲力來實現的，在洛倫茲力的作用下，電子以旋進的方式聚焦。在TEM里有一條光軸，就和光學顯微鏡中的光軸一樣，偏離光軸時，透鏡對光的聚焦能力和靠近光軸的聚焦能力是不同的。當然了，原則上是希望穿過透鏡的光都能聚焦到焦點上。這點
如何選擇電鏡：不妨看看這75篇重要文獻
這是一篇有關電子顯微鏡的綜述，是根據75篇發表使用實驗的文章歸納的。可以幫助讀者找到最適合的電子顯微鏡。日立高新Hitachi High Technologies America為研究碳酸酐酶可通過spidroin蛋白末端功能域促進蜘蛛絲的形成，采用Hitachi的H7100 electr
日本電子發布截至3月31日的2020年財報：收入1172億日元
分析測試百科網訊，日本電子（JEOL）發布截止到2020年3月31日的2020年財報，銷售收入1172.43億日元，相比去年1112.89億日元增長5.4%。2019年毛利潤448.65億日元，毛利率為38.27%，運營利潤7.03億日元，相比去年增5.4%，凈利潤為5.389億日元，凈利潤率為4.
最高分辨率的球差過濾分析型透射電鏡問世
日本電子株式會社今年迎來了開業60周年慶典，隨著慶祝活動大幕的徐徐拉開，最新發布的S/TEM球差過濾一體化透射電鏡JEM-ARM200F也在本月開始全球接受訂單。JEM-ARM200F是目前全球分辨率最高的商業化透射電鏡，分辨率可達0.08nm。第一臺該型號的透射電鏡將安裝在美國的德克薩斯大學(
只需3分鐘，2018年電鏡重點大事了然于胸
500萬以上電鏡中標匯總及分析 #abcd2 td{border:1px solid #666666} 采購單位
2011年度JEOL材料科學透射電鏡舉辦用戶會
2011年度日本電子(JEOL)材料科學透射電鏡用戶會會議通知(第二輪) 感謝中國廣大用戶對日本電子株式會社(JEOL)長期以來的支持和信賴，近年來，日本電子在國內共銷售130臺六硼化鑭透射電鏡、52臺場發射透射電鏡和5臺球差校正透射電鏡JEM-ARM200F。 為了加強用戶和廠家之間的
2025年度前三季度電鏡中標盤點：最受歡迎的明星型號都有誰？
電鏡是材料科學、生命科學、半導體工業、納米技術等領域不可或缺的分析工具。電子顯微鏡主要包括：掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM），還有一種分類把聚焦離子束（FIB-SEM）單獨分出來，但在本文的統計中，FIB-SEM算到掃描電鏡中進行統計。 本文首先介紹了不同類型顯微鏡的工作原理、技術特點及
世界首臺JEMARM200F拍攝圖像堪比哈勃
2010年1月開始在University of Texas at San Antonio安裝的世界首臺JEM-ARM200F在2月初已獲得驚人結果。 能在短短3周內就能獲得至少78皮米分辨率彰顯了該儀器的超級穩定性和UTSA-JEOL出色的合作與技巧。 世界著名顯微學及納米技術學
JEOL宣布JEMARM200F獲得一項重要訂單
日本電子株式會社(JEOL)9月20日榮幸的宣布美國國家標準技術研究院(NIST)決定采購一臺原子級分辨率分析型透射電子顯微鏡JEM- ARM200F。該儀器將被安裝在科羅拉多州Boulder市美國國家標準技術研究院精確測量實驗室(NIST Precision Measurement L
JEOL發布高靈敏度多通道檢測器“4DCanvas”－可應用于多款電鏡
分析測試百科網訊 2017年7月26日，日本JEOL有限公司發布新型STEM檢測器“4DCanvas”（像素化STEM檢測器）。“4DCanvas”記錄了所有傳輸、衍射和散射電子的位置和強度，作為STEM圖像的每個像素的二維（2D）圖案。該像素化檢測器的傳感器是具有264×264像素的直接電子檢
探索物質結構之透射電子顯微鏡
眼睛是人類認識客觀世界的第一架“光學儀器”，但它的能力卻是有限的，通常認為人眼睛的分辨率為0.1 mm。17世紀初，光學顯微鏡（圖1）出現，可以把細小的物體放大到千倍以上，分辨率比人眼睛提高了500 倍以上，這也是人類認識物質世界的一次巨大突破。隨著科學技術的不斷發展，直接觀察到原子是人們一直以來的
TEM（透射電子顯微鏡）透射電子衍射圖譜解析
TEM（透射電子顯微鏡）透射電子衍射圖譜解析2017-12-04 07:00透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短
透射電子顯微鏡TEM系統組件
電子槍：發射電子，由陰極、柵極、陽極組成。陰極管發射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經陽極電壓加速后射向聚光鏡，起到對電子束加速、加壓的作用。 ● 聚光鏡：將電子束聚集，可用已控制照明強度和孔徑角。 ● 樣品室：放置待觀察的樣品，并裝有傾轉臺，用以改變試樣的角度，還有裝配加熱、冷卻等設
透射電子顯微鏡TEM成像原理
透射電子顯微鏡的成像原理 可分為三種情況： ● 吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。 ● 衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應
什么是透射電子顯微鏡－TEM？
透射電子顯微鏡是電子顯微鏡的原始類型，它的主要原理是將高壓電子束引導至樣品以照亮樣品并產生樣品的放大圖像。由于透射電鏡具有原位觀察、高分辨顯像等功能，適宜觀察光學顯微鏡觀察不到的細微結構。比如：細胞、組織分析、晶體結構等。透射電鏡顯微成像原理是：通過鎢絲電極的陰極發射電子束，再用陽極加速電子束，當電
TEM透射電子顯微鏡的簡介
TEM透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射電子顯
日本電子最新球差校正透射電鏡觀察到氫(H)原子
日本東京大學IKUHARA教授使用JEOL的球差校正透射電鏡上的最新ABF技術，觀察到氫(H)原子。該論文上周五2010年11月5日發表在APEX上并引起轟動。論文資料將于近日上傳，敬請期待。
助力半導體工業－日本電子推出高通量分析電鏡JEMACE200F
分析測試百科網訊?近日，日本電子總裁Gon-emon Kurihara對外宣布，日本電子將在2018年12月發布一款新型高通量分析電子顯微鏡—JEM-ACE200F，公司預設銷售數量為30臺/年。 產品開發背景 隨著半導體工業中元器件進一步小型化，透射電鏡已經成為元器件表征多種手段中必不可少
透射電子顯微鏡TEM的原理知識
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件
透射電子顯微鏡的TEM成像原理
透射電子顯微鏡的成像原理 可分為三種情況： 吸收像：當電子射到質量、密度大的樣品時，主要的成相作用是散射作用。樣品上質量厚度大的地方對電子的散射角大，通過的電子較少，像的亮度較暗。早期的透射電子顯微鏡都是基于這種原理。 衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不同位置的衍射波振幅分布對應于樣品中晶體各部分不
透射電子顯微鏡（TEM）的工作原理
工作原理透射電鏡和掃描電鏡一樣，利用聚焦電子束作為照明源，不同的是，透射電鏡是以透射電子為成像信號，而掃描電鏡是以二次電子、背散射電子等為成像信號（如下圖所示）。由于透射電鏡樣品需要很薄，大部分電子會穿透樣品，其強度分布與所觀察樣品的形貌、組織、結構一一對應。透過樣品后的電子束經物鏡匯聚調焦和初級放
透射電子顯微鏡(Transmission－electron－microscopy,－TEM)
透射電鏡具有很高的空間分辯能力，特別適合納米粉體材料的分析。其特點是樣品使用量少，不僅可以獲得樣品的形貌，顆粒大小，分布以還可以獲得特定區域的元素組成及物相結構信息。透射電鏡比較適合納米粉體樣品的形貌分析，但顆粒大小應小于300nm，否則電子束就不能透過了。對塊體樣品的分析，透射電鏡一般需要對樣品進
透射電子顯微鏡基礎知識（一）
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、
透射電子顯微鏡基礎知識（一）
電子顯微鏡與光學顯微鏡的成像原理基本一樣，所不同的是前者用電子束作光源，用電磁場作透鏡。另外，由于電子束的穿透力很弱，因此用于電鏡的標本須制成厚度約50nm左右的超薄切片。這種切片需要用超薄切片機（ultramicrotome）制作。電子顯微鏡的放大倍數最高可達近百萬倍、由照明系統、成像系統、