日立高新發布球差校正透射電鏡新品HF5000
分析測試百科網訊 2016年10月17日，日立高新技術有限公司與天美（中國）科學儀器有限公司聯合主辦的“球差校正透射電鏡HF5000新品發布會”在北京北大博雅國際酒店召開。來自高校、科研院所等的50余位專家、學者參加了此次發布會。 發布會現場 中科院國家納米中心測試平臺范偉民主任、中國科學院理化技術研究所公共儀器服務平臺孟祥敏主任、中科院物理所谷林教授、中科院過程所楊秀紅主任、北京電鏡學會秘書長張德添等專家出席了本次發布會。 日立高新技術公司北京分公司總經理 加藤博司 日立高新技術公司北京分公司總經理加藤博司為發布會致辭，加藤博司希望此次的發布會能與各位專家進行更多的交流，同時歡迎各位專家提出自己的意見。 天美（中國）科學儀器有限公司副總裁 趙薇 天美（中國）科學儀器有限公司副總裁趙薇為發布會致辭，對與會的各位專家表示歡迎與感謝。趙薇表示此次發布的HF5000是日立自己研發生產的200kV透射電鏡的旗艦產品，有很......閱讀全文
日立高新發布球差校正透射電鏡新品HF5000
分析測試百科網訊 2016年10月17日，日立高新技術有限公司與天美（中國）科學儀器有限公司聯合主辦的“球差校正透射電鏡HF5000新品發布會”在北京北大博雅國際酒店召開。來自高校、科研院所等的50余位專家、學者參加了此次發布會。 發布會現場 中科院國家納米中心測試平臺范偉民主任、中國科學院
球差校正透射電鏡
電子顯微鏡的分辨本領由于受到電子透鏡球差的限制，人們力圖像光學透鏡那樣來減少或消除球差。但是，早在1936年Scherzer就指出，對于常用的無空間電荷且不隨時間變化的旋轉對稱電子透鏡，球差恒為正值。在40年代由于兼顧電子物鏡的衍射和球差，電子顯微鏡的理論分辨本領約為0.5nm。校正電子透鏡的主要像
球差校正透射電鏡簡介
1，前言球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里將給大家
球差色差校正透射電鏡
球差色差校正透射電鏡：球差校正器經過多年的發展，在最新的五重球差校正器的幫助下，人類成功地將球差對分辨率的影響校正到小于色差。只有校正色差才能進一步提高分辨率，于是球差色差校正透射電鏡就誕生了。我們欣賞一下放置在德國Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO雙球差
球差校正透射電鏡簡介
1，前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。這里
球差校正透射電鏡ABC速成知識
了解球差校正透射電鏡，從這里開始前言 球差校正透射電鏡(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高的分辨率配合諸多的分析組件使ACTEM成為深入研究納
透射電鏡廠商大揭秘（三）：－無所不能的HITACHI——日立
今天主要來談一下三家主要的透射電鏡供應商的最后一家——日立HITACHI。如果說JEOL和FEI算是比較專一型的企業的話，那么Hitachi就是比較博愛了。 HITACHI 日立是日本的一家超級大國企，可以說它本身就是一個完整的工業體系，涉及的產業從核電站，鐵路，軍工，到家電，醫療，物流，通
了解球差校正透射電鏡，從這里開始
前言：球差校正透射電鏡(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)隨著納米材料的興起而進入普通研究者的視野。超高分辨率配合諸多分析組件使ACTEM成為深入研究納米世界不可或缺的利器。本期我們將給大家介
新品發布丨Iliad，開啟球差校正透射電鏡新篇章
在2024中國電鏡年會上，賽默飛隆重發布了最新一代球差校正透射電鏡——Thermo ScientificTM Iliad?（掃描）透射電鏡。在大會晚宴上，賽默飛舉辦了盛大的新品發布儀式。發布會現場1 liad?實現了在電子顯微鏡領域的革命性突破，是一款完全集成的分析型（掃描）透射電鏡，其配備了
球差校正電鏡的優勢：
球差校正電鏡的優勢：ACTEM或者ACSTEM的最大優勢在于球差校正削減了像差，從而提高了分辨率。傳統的TEM或者STEM的分辨率在納米級、亞納米級，而ACTEM的分辨率能達到埃級，甚至亞埃級別。分辨率的提高意味著能夠更“深入”的了解材料。例如：最近單原子催化很火，我們公眾號也介紹了大量相關工作。為
日本電子最新球差校正透射電鏡觀察到氫(H)原子
日本東京大學IKUHARA教授使用JEOL的球差校正透射電鏡上的最新ABF技術，觀察到氫(H)原子。該論文上周五2010年11月5日發表在APEX上并引起轟動。論文資料將于近日上傳，敬請期待。
楊光：氧化物及納米材料的球差校正透射電鏡分析
2014年8月26日，第十三屆全國青年分析測試學術報告會在陜西西安南洋大酒店隆重開幕。本屆全國青年分析測試學術報告會由中國分析測試協會青年學術委員會舉辦，西安交通大學電子材料研究所承辦，來自全國各地的分析測試學界代表近200人參加了此次報告會。來自西安交通大學電子材料研究所的楊光教授為大家帶來題
5500萬！浙江工業大學采購球差校正透射電鏡系統
分析測試百科網訊 近日，浙江省政府采購中心關于浙江工業大學精準和原位成像球差校正透射電鏡系統項目的公開招標公告（招標編號：ZZCG2019H-GK-124 ）發布，總計預算金額：5500萬元（人民幣）。據統計，此次采購雙球差校正透射電子顯微鏡的信息分辨率 (非線性)≤60 pm；STEM分辨率≤
一文讀懂球差透射電鏡
01——球差電鏡的原理及分類球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法會聚到一
賽默飛近2000萬中標天津理工物鏡球差校正透射電鏡項目
分析測試百科網訊 近日，天津理工大學物鏡球差校正透射電鏡項目采購招標工作已完成，此次采購物鏡球差校正透射電鏡，中標型號為賽默飛 Themis Z/ORION70-4M，中標總金額：1,985.28975萬元。中標詳情如下： 項目名稱：物鏡球差校正透射電鏡項目 項目編號：JG2018-072 中
何時才需要用球差校正電鏡呢？
何時才需要用球差校正電鏡呢？雖然現在ACTEM和ACSTEM正在“大眾化”，但是并非一定要用這么高大上的裝備。如果你想觀察你的樣品的原子級結構并希望知道原子的元素種類（例如納米晶體催化劑等），ACSTEM將會是比較好的選擇。如果你想觀察樣品的形貌和電子衍射圖案或者樣品在TEM中的原位反應，那么物鏡校
TEM球差
球差不完美透鏡導致的直接結果就是引入了讓顯微學者最頭疼的球差。電子的聚焦是靠洛倫茲力來實現的，在洛倫茲力的作用下，電子以旋進的方式聚焦。在TEM里有一條光軸，就和光學顯微鏡中的光軸一樣，偏離光軸時，透鏡對光的聚焦能力和靠近光軸的聚焦能力是不同的。當然了，原則上是希望穿過透鏡的光都能聚焦到焦點上。這點
第9次華北五省市電鏡會在呼倫貝爾召開－新技術層出不窮
分析測試百科網訊 2016年7月23日，由華北五省電子顯微鏡學會和北京理化分析測試技術學會組織的“第九次華北五省市電子顯微學研討會及2016年全國實驗室協作服務交流會”在內蒙古呼倫貝爾市召開。會議囊括了透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、微束分析、掃描探針顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等在材料、生命科學、
日立電鏡TM1000銷量突破千臺
近日，日立高新技術公司(Hitachi High-Technologies Corporation)宣布，日立臺式電鏡TM-1000，自2005年4月推出以來，已在世界范圍銷售超過一千臺。 日立高新技術公司創立于1947年，是日立公司(全稱為株式會社日立制作所)的全資子公司，負責電
球差電鏡分析
1 球差電鏡的原理 球差是像差的一種，是影響TEM分辨率的主要原因之一。由于像差（球差、像散、彗形像差和色差）的存在，無論是光學透鏡還是電磁透鏡，其透鏡系統都無法做到完美。光學透鏡中，可通過將凸透鏡和凹透鏡組合使用來減少由凸透鏡邊緣匯聚能力強中心匯聚能力弱所致的所有的光線(電子)無法匯聚到
天美公司和日立高新延長聯盟協議
2011年4月25日，行業領先的科技及實驗室設備制造和經銷商天美控股集團有限公司(以下簡稱“天美公司”)宣布 ,公司已與日立高新技術股份有限公司(以下簡稱“日立高新”)續簽了為期5年的新合約，使雙方已合作多年的關系又翻開了新的一頁。 根據新協議的內容，天美公司將繼續負責日立高新分析產
日立高新將全資收購TSL－天美日立打造跨國合作新模式
分析測試百科網訊 從事表面科學、分析儀器、生命科學設備及實驗室儀器的設計、開發和制造及分銷商天美集團剛剛發布消息稱，日立高新將收購天美集團旗下，在中國及東南亞地區經營日立高新產品業務為主的天美科儀有限公司（Techcomp Scientific Limited）（簡稱“TSL”）及其子公司全部股
軸向球差的概念
在共軸球面系統中 ，軸上點和軸外點有不同的像差，軸上點因處于軸對稱位置，具有最簡單的像差形式。當軸上物點的物距L確定，并以寬光束孔徑成像時，其像方截距隨孔徑角U（或孔徑高度h）的變化而變化，因此軸上物點發出的具有一定孔徑的同心光束，經光學系統成像后不復為同心光束。在孔徑角很小的近軸區域可以得到物點成
專家用戶春日共慶－日立科學儀器喬遷新址
2023年3月28日，日立科學儀器（北京）有限公司喬遷典禮在京隆重舉行。與日立科學儀器多年合作的數十位專家學者、學會領導受邀出席與日立來自各地的員工歡聚一堂，共同慶祝日立科學儀器遷址新地。日立科學儀器（北京）有限公司喬遷典禮日立科學儀器電鏡市場部部長高敞主持喬遷典禮 喬遷典禮由日立科學儀器電鏡
透射電鏡江湖紛爭（一）：日本電子JEOL
如今的透射電子顯微鏡市場，可謂是呈三足鼎立之勢：日本電子，日立和FEI。 今天主要介紹一下老大哥日本電子株式會社JEOL。 提起日本電子，大家都不陌生，目前在我國各大科研院所都不難看到JEOL電鏡的影子。日本電子株式會社，是一家世界頂級的科學儀器生產制造商。在這么多的儀器制造商中說它頂級，其
Qiagen和日立高新合作開發分子檢測產品
分析測試百科網訊 2015年6月18日，Qiagen和日立高新宣布，兩家公司已經成為長期戰略合作伙伴關系。根據協議，日立將貢獻專業的工業儀器開發和制造，Qiagen能借助在生命科學和臨床診斷領域的分子檢測能力。 最初的項目包括開發基于PCR和下一代測序技術的新自動化系統，合作將擴展到涉及在特定
日立高新推出最新離子銑削系統ArBlade－5000
分析測試百科網訊 近日，日立高新股份有限公司宣布推出日立ArBlade 5000離子銑削系統。該產品能夠實現高產量，并制備廣域橫截面樣品。 離子銑削系統使用通過在表面上照射氬離子束引起的濺射效應來拋光樣品的表面。樣品預處理系統可以用于電子和先進材料等各個領域的研發和質量控制等。 與機械拋光不
只需3分鐘，2018年電鏡重點大事了然于胸
500萬以上電鏡中標匯總及分析 #abcd2 td{border:1px solid #666666} 采購單位
天美攜手日立在京發布新產品－推出Regulus、HT7800、ArBlade5000
分析測試百科網訊 2017年6月27日，天美（中國）科學儀器有限公司攜手日立高新科技有限公司在北京舉行日立新產品發布會。本次會議在中國大陸第一次發布日立最新冷場發射掃描電鏡Regulus系列、日立120KV透射電鏡HT7800、日立掃描電鏡制樣制備ArBlade5000三款產品。來自北京及周邊地
了解幾種電鏡
大型透射電鏡????????大型透射電鏡（conventional TEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號對應不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關，可達0.2-0.1nm，高端機型可實現原子級分辨。低壓透射電鏡????????低壓小型透射電鏡（Low-Voltage