七大材料結構分析方法二——X射線衍射分析
X射衍射線( XRD) 又稱X 射線物相分析法，X射線是一種具有衍射本領的高能電磁波。X射線衍射法是目前測定晶體結構的重要手段，應用極其廣泛。在實際的應用中將該分析方法分為多晶粉末法和單晶衍射法。多晶粉末法常用來測定立方晶系的晶體結構點陣形式、晶胞參數及簡單結構的原子坐標，還可以對固體式樣進行物相分析等。 常用儀器：X射線衍射儀（XRD） 分析原理：讓一束單色X 射線轟擊樣品的部分，X 射線被樣品內的晶面反射，一部分則直接透過標本，反射的X射線會形成一種與樣品的物質內晶體構造密切相關的衍射圖形。即在X 射線對樣品的輻射下，X射線通過晶體會引發各種元素X 射線的發生，各散亂線間相互干涉，發生衍射現象。通過對衍射現象進行分析，就可以獲得有關構成物質的原子的排列、化合物的形態、結晶物質的物相的信息資料。XRD立角測量儀 應用實例： （1）物相鑒定 物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析......閱讀全文
臺式X射線衍射（XRD）儀
MiniFlex2012年最新添加了MiniFlex系列的臺式X射線衍射（XRD）分析儀。第5代MiniFlex可以進行多晶材料的定性分析與定量分析，是一般用途的X射線分衍射儀。本次MiniFlex提供兩種類型以供選擇，當運行600W（X射線管）時，MiniFlex600的能量比其他臺式模型高兩倍，
Xray－diffraction－,x射線衍射即XRD
X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數目的原子或離子/分子所產生的相干散射將會發生光的干涉作用，從而影響散射的X射線的強度增強或減弱。由于大量原子散射波的疊加，互相干涉而產生最大強度的光束稱為X射線的衍射線。
掠射X射線望遠鏡的分類
X射線望遠鏡光學系統一般采用沃爾特Ⅰ型──拋物面焦點與雙曲面的后焦點重合的同軸光學系統。其焦平面通過雙曲面的前焦點。按照制作工藝來劃分,X射線望遠鏡的研制已經歷三代。第一代鏡面是鋁制的,效率為1％，1963年用這種望遠鏡拍攝到分辨率為幾角分的照片,可看出太陽上存在著X射線發射區。第二代鏡面是在光
掠射X射線望遠鏡的簡介
一種使天體X輻射成像的儀器。X射線很易被介質吸收﹐且在介質中其折射率近于1。這表明﹐折射系統不可能用在X射線波段﹐而X射線在非常傾斜的掠射角下將產生全反射。掠射 X射線望遠鏡就是利用這種全反射原理設計而成的。1952年﹐沃爾特首先建議利用X射線掠射的全反射現象來進行光學聚焦﹐使用兩個同軸共焦旋轉
x射線衍射和xrd的區別
XRD即X-ray diffraction的縮寫，中文翻譯是X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。用于確定晶體結構，其中晶體結構導致入射X射線束衍射到許多特定方向。X射線是一種波長很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能
X射線粉晶衍射儀(XRD)
1.儀器設備簡介【儀器名稱】X射線衍射儀【生產公司】德國Bruker AXS D8-Focus【儀器型號】D8-FOCUS【測試條件】CuKα射線，Ni濾波，40kV，40mA，LynxEye192位陣列探測器，掃描步長0.01°2θ，掃描速度每步0.05秒，λ= ? ? ? ?1.5405
X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響
利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
晶體,準晶體,非晶體X一射線衍射實驗的區別
晶體,準晶體,非晶體這三種物質，如果僅用肉眼是難以分辨的。固體物質是否為晶體，一般用X射線衍射法予以鑒定。晶體會對X射線發生衍射，非晶體不會對X射線發生衍射。可以通過有無衍射現象來區分晶體和非晶體。至于準晶體，它是一種介于晶體和非晶體之間的固體。用X光對固體進行結構分析，它和晶體、非晶體的結構截然不
x射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer,簡寫為XRD)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解
X射線晶體定向衍射歷史介紹
射線晶體衍射是人們了解原子世界的利器，這一技術為人們解析了大量的重要生物學結構。今年是這一技術的百年誕辰，本期Nature雜志以特刊形式，介紹了X射線晶體衍射的過去、現在和將來。1914年，德國科學家Max?von?Laue因為發現晶體中的X射線衍射現象，獲得了諾貝爾物理學獎，這一發現直接催生了X射
X射線晶體衍射學的概述
X射線望遠鏡光學系統一般采用沃爾特Ⅰ型──拋物面焦點與雙曲面的后焦點重合的同軸光學系統。其焦平面通過雙曲面的前焦點。按照制作工藝來劃分,X射線望遠鏡的研制已經歷三代。第一代鏡面是鋁制的,效率為1％，1963年用這種望遠鏡拍攝到分辨率為幾角分的照片,可看出太陽上存在著X射線發射區。第二代鏡面是在光
自動X射線晶體定向儀
X射線自動定向儀是根據市場對晶體角度測量越來越高的精度要求而推出的手動定向儀的升級產品，它是利用X射線衍射原理，設計制造的光，機，電三為一體精密儀器，能快速地測定天然和人造晶體（壓電晶體、光學晶體、激光晶體、半導體晶體）的晶面，可與各種切割、研磨等加工設備配套使用。是精密加工制造晶體器件不可缺少
X射線單晶體衍射儀
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
掠射軟X射線熒光分析技術研究
掠射X射線分析是近年來迅速發展的一門分析技術，在科學研究以及分析檢測和質量控制等生產領域都有著廣泛的應用。X射線分析技術具有試樣無損分析、制樣經濟方便、操作簡單、分析結果重現性好及精度高等優點，使得這項技術在薄膜特性分析、半導體材料及磁鐵材料表面檢測方面受到特別的青睞。本文在綜述了國內外掠射X射線熒
X射線晶體學的研究步驟
①蛋白或DNA樣品純化②結晶③衍射、數據收集④確定蛋白結構衍射數據→數據處理→相位解析→建模→模型修正→模型檢驗⑤理解結構與功能的相互關系
Nature：無需結晶的X射線晶體分析
X射線晶體分析曾幫助人們揭示了DNA雙螺旋和其他無數分子的結構，而現在科學家們對這一技術進行了升級。本期Nature上發表的一項研究顯示，利用微小的分子海綿，可以進行無需結晶的X射線晶體分析。這一方法省卻了麻煩的結晶步驟，使X射線晶體分析更簡便快捷，同時也提升了靈敏度。 “你可以稱之為，無
X射線晶體譜儀研發獲進展
近期，中國科學院近代物理研究所原子物理中心科研人員自主研發了用于內殼多空穴離子X射線精細結構測量的寬帶高分辨晶體譜儀，相關成果于4月3日發表在光譜學期刊Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy上。解析內殼多空穴離子的X射線精細結構不僅是研究量子電
X射線晶體光譜儀的簡介
中文名稱X射線晶體光譜儀英文名稱X-ray crystal spectrometer定 義利用晶體作分光器的X射線光譜儀。晶體具有適當的點陣間隔，對一定波長的X射線產生衍射作用，可起到類似于光學式分析儀器中衍射光柵的作用。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜
X－射線熒光儀檢測晶體的介紹
分光晶體是具有把 X 射線熒光按波長順序分開成光譜作用的晶體。 晶體應該具備的條件：衍射強度大；應該適用于所測量的分析線；分辨率高；峰背比高；不產生附加發射和異常反射；熱膨脹系數小、溫度效應低；經受 X 射線長期照射，穩定性好；機械強度良好；容易加工等等。
X射線晶體定向儀工作原理
? 利用X射線衍射原理，精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體，光學晶體，激光晶體，半導體晶體)的切割角度，與切割機配套可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件不可缺少的儀器·該儀器廣泛應用于晶體材料的研究，加工，制造行業。? 工作原理? X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理，精密快速地測定天
多晶X射線衍射儀（XRD）的基本構造
多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成：1) X?射線發生器(產生X射線的裝置);2)?測角儀(測量角度2θ的裝置);?3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置);?4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等)
談談X射線衍射儀(XRD)的結構組成
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時，該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象，物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量
xrd原理
XRD的基本原理：X射線是原子內層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產生的光輻射，主要有連續X射線和特征X射線兩種。XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態等信息的研究手段。需知：1、晶態
非晶體xrd
判斷晶態與非晶態,如果有標準物質的話就很好辦了,經過譜圖檢索符合那種物質的幾率最大就是那種物質了,當然是不是晶態由你知道的標準物質來定.若是你合成的新的物質的話,那就應該看出的峰的情況了吧,這個不太有把握
X射線晶體衍射學的理論依據
對于X 射線衍射理論的研究, 目前有兩種理論:運動學和動力學衍射理論 [2] 。 運動學衍射理論 達爾文(Darwin)的理論稱為X 射線衍射運動學理論。該理論把衍射現象作為三維Frannhofer 衍射問題來處理, 認為晶體的每個體積元的散射與其它體積元的散射無關, 而且散射線通過晶體時不
X射線單晶體衍射儀的介紹
X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會發生衍射，由對衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規律，也即解出
x射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用,其應用面很寬,不能盡述,略談幾點如下: (一)．晶體結構的成功測定,在 晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實,使晶體的許多特性得到了解釋:如晶體能自發長成 多面體外形(
X射線單晶體衍射儀的應用
晶體結構的測定對學科的發展、物體性能的解釋、新產品的生產和研究等方面都有很大的作用，其應用面很寬，不能盡述，略談幾點如下：（一）．晶體結構的成功測定，在晶體學學科的發展上起了決定的作用。因為他將晶體具有周期性結構這一推測得到了證實，使晶體的許多特性得到了解釋：如晶體能自發長成多面體外形（自范性），如
X射線晶體衍射學的發現與歷史
1912 年在人類的科學史上是一個重要的年份、一個里程碑式的年份，因為德國科學家勞厄（Maxvon Laue, 1879-1960）在這一年發現了X 射線晶體衍射現象，并開創了X 射線衍射物理學的研究。緊接著，英國科學家小布拉格（William LawrenceBragg，1890-1971）在