電子探針顯微鏡之顯微結構分析
電子探針是利用 0.5μm－1μm 的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相 互作用產生的特征 X 射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣 品的微區內(μm 范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm 范圍內的 微區分析， 微區分析是它的一個重要特點之一, 它能將微區化學成份與顯微結構對應起來， 是一種顯微結構的分析。而一般化學分析、 X 光熒光分析及光譜分析等，是分析樣品較大 范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應, 不能對材料顯微結構與材料性能關系進 行研究。......閱讀全文
電子探針顯微鏡之顯微結構分析
電子探針是利用 0.5μm－1μm 的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相 互作用產生的特征 X 射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣 品的微區內(μm 范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm 范圍內的 微區分析， 微區分析是它的一個重要
電子探針顯微鏡之元素分析范圍廣
電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特 征 X 射線，而氫和氦原子只有 K 層電子，不能產生特征 X 射線， 所以無法進行電子探針 成分分析。鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生 X 射線，但產生的特征 X 射線波長太長，通常無法進 行檢測，少數電子探針
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的結構原理
（1）電子光學系統。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發原子發射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產生的X射線波長和強度，并以此對
電子探針分析方法
利用電子探針分析方法可以探知材料樣品的化學組成以及各元素的重量百分數。分析前要根據試驗目的制備樣品，樣品表面要清潔。用波譜儀分析樣品時要求樣品平整，否則會降低測得的X射線強度。 1 點分析用于測定樣品上某個指定點的化學成分。下圖是用能譜儀得到的某鋼定點分析結果。能譜儀中的多道分析器可使樣品中所有元素
電子探針顯微鏡之定量分析準確度高
電子探針是目前微區元素定量分析最準確的儀器。電子探針的檢測極限(能檢測到的元 素最低濃度)一般為（0.01－0.05）wt%， 不同測量條件和不同元素有不同的檢測極限，但 由于所分析的體積小，所以檢測的絕對感量極限值約為 10-14 g，定量分析的相對誤差為(1— 3)%，對原子序數大于 1
電子探針儀器的分析特點
1.微區性、微量性:幾個立方um范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、X射線熒光分析及光譜分析等，是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應，不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 2.方便快捷:制樣簡單，分析速度快。 3.分析方式多樣化:可以連續自動進
電子探針分析的基本介紹
以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特征X
電子探針的分析特點介紹
第一、微區性、 微量性：幾個立方μm范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、 X射線熒光分析及光譜分析等， 是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應, 不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 第二、方便快捷：制樣簡單，分析速度快。 第三、分析方式多樣化：
關于電子探針X射線顯微分析儀的結構特點介紹
電子探針X射線顯微分析儀(簡稱電子探針)利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方
電子探針顯微鏡之不損壞試樣探測
現在電子探針均與計算機聯機，可以連續自動進行多種方法分析，并自動進行數據處理 和數據分析，對含 10 個元素以下的樣品定性、定量分析，新型電子探針在 30min 左右可以 完成，如果用 EDS 進行定性、定量分析，幾 min 即可完成。對表面不平的大樣品進行元素 面分析時，現在可以自動聚焦分析
掃描電子顯微鏡（SEM）和電子探針顯微分析裝置（EPMA）
掃描電子顯微鏡和電子探針顯微分析儀基本原理相同，但很多人分不清其差異，實際上需要使用電子探針領域比較少，而掃描電鏡相對普遍。掃描電子顯微鏡（SEM），主要用于固體物質表面電子顯微高分辨成像，接配電子顯微分析附件，可做相應的特征信號分析。 最常用的分析信號是聚焦電子束和樣品相互作用區發射出的元素特征X
電子探針顯微分析的原理
用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征x射線。 分析特征x射線的波長(或特征能量)即可知道樣品中所含元素的種類(定性分析)。 分析x射線的強度，則可知道樣品中對應元素含量的多少(定量分析)。 電子探針儀鏡筒部分的構造大體上和掃描電子顯微鏡相同，只是在檢測器部分使用的是x射線譜儀，
原子力顯微鏡結構的分析
在原子力顯微鏡（AFM）的系統中，所要檢測的力是原子與原子之間的范德華力。所以在本系統中是使用微小懸臂（cantilever）來檢測原子之間力的變化量。微懸臂通常由一個一般100~500μm長和大約500nm~5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微懸臂頂端有一個尖銳針尖，用來檢測樣品－針尖間的相互作用力。
簡介電子探針顯微分析的特點
1.顯微結構分析 電子探針是利用0.5μm－1μm的高能電子束激發待分析的樣品，通過電子與樣品的相互作用產生的特征X射線、二次電子、吸收電子、 背散射電子及陰極熒光等信息來分析樣品的微區內(μm范圍內)成份、形貌和化學結合狀態等特征。電子探針是幾個μm范圍內的微區分析， 微區分析是它的一個重要
電子探針顯微分析的方法介紹
電子探針分析有兩種基本分析方法：定性分析和定量分析。 （1）定性分析 定性分析是對試樣某一選定點（區域） 進行定性成分分析，以確定點區域內存在的元素。 定性分析的原理：用光學顯微鏡或在熒光屏顯示的圖像上選定需要分析的點，使聚焦電子束照射在該點上，激發該點試樣元素的特征X射線。用X射線譜儀探
關于電子探針X射線微區分析的線分析
使入射電子束在樣品表面沿選定的直線掃描，譜儀固定接收某一元素的特征X射線信號，其強度在這一直線上的變化曲線可以反映被測元素在此直線上的濃度分布，線分析法較適合于分析各類界面附近的成分分布和元素擴散。 實驗時，首先在樣品上選定的區域拍照一張背散射電子像(或二次電子像)，再把線分析的位置和線分析
電子光學系統的結構及功能特點
該系統為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量，足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線的激發源。為此，一般也采用鎢絲熱發射電子槍和2-3個聚光鏡的結構。 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流（在10-9-10-7A范圍），常用的加速電壓為
電子探針分析的X射線能譜法
本文介紹了使用硅(鋰)檢測器進行定量電子探針分析的一種方法,這種方法使用了背景模擬技術及其它技術中的電荷收集不完全和電子噪聲的校正。輕元素分析的改進對硅酸鹽樣品是特別有利的,使之盡可能采用純金屬作分析標樣。這種方法已被用于各種地球化學樣品的分析中(包括用JG—1和JB—1巖石做成的玻璃)。與濕式化學
什么是電子探針顯微分析儀
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分，是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測針）照
關于電子探針的定性分析方法介紹
1. 定點分析： 將電子束固定在要分析的微區上，用波譜儀分析時，改變分光晶體和探測器的位置，即可得到分析點的X射線譜線；用能譜儀分析時，幾分鐘內即可直接從熒光屏（或計算機）上得到微區內全部元素的譜線。 鎂合金中的析出相CaMgSi的鑒別 Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元
電子探針X射線微區分析能譜儀分析特點
具有以下優點（與波譜儀相比） 能譜儀探測X射線的效率高。 在同一時間對分析點內所有元素X射線光子的能量進行測定和計數，在幾分鐘內可得到定性分析結果，而波譜儀只能逐個測量每種元素特征波長。 結構簡單，穩定性和重現性都很好（因為無機械傳動），不必聚焦，對樣品表面無特殊要求，適于粗糙表面分析。
分析電子顯微鏡的結構組成
分析電子顯微鏡是由透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針組合而成的多功能的新型儀器。
分析電子顯微鏡的結構特點
分析電子顯微鏡是由透射電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡和電子探針組合而成的多功能的新型儀器。
原子力顯微鏡原理和結構的分析
原子力顯微鏡的原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流
原子力顯微鏡原理和結構的分析
原子力顯微鏡的原理是：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，針尖與樣品表面輕輕接觸，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的排斥力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將對應于針尖與樣品表面原子間作用力的等位面而在垂直于樣品的表面方向起伏運動。利用光學檢測法或隧道電流
顯微鏡結構
光學顯微鏡由目鏡，物鏡，粗準焦螺旋，細準焦螺旋，壓片夾，通光孔，遮光器，轉換器，反光鏡；載物臺，鏡臂，鏡筒，鏡座，聚光器，光闌組成。
顯微鏡結構
光學顯微鏡由目鏡，物鏡，粗準焦螺旋，細準焦螺旋，壓片夾，通光孔，遮光器，轉換器，反光鏡，載物臺，鏡臂，鏡筒，鏡座，聚光器，光闌組成。
電子探針儀與掃描電子顯微鏡有何異同
液氮罐的日常保存 1、液氮罐的放置 液氮罐要存放在通風良好的陰涼處，不能在太陽光下直曬，且無論在使用或存放時，液氮罐均不能傾斜、橫放、倒置、堆壓、相互撞擊或與其他物件碰撞，要做到輕拿輕放，并始終保持直立。嚴禁在容器蓋上放置物體和密封頸口。用于長期貯存時，則需要定期補充液氮，補充時機一般為液氮剩余