多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、生產的科研機構、廠礦等單位必備的大型分析設備。儀器特點n結構先進：xd-/2/xd-3/xd-6型衍射儀均采用立式測角儀結構，放置和更換樣品更加方便、直觀，便于清理實驗后的樣品臺。xd-3型衍射儀采用獨特的θ-θ模式，其特點是樣品臺靜止不動，而x射線管和探測器圍繞著樣品運動。此方式具有以下獨特的優勢：尤其適用于大塊固體、粘稠、液體等樣品的測試：并且便于拓展多種附件裝置（結構、φ掃描、旋轉樣品臺、高低溫、各類在線分析）。目前是國際流行掃描方式。n高精度角測儀：測角重現性達0.0006度，已達到國外先進水平。......閱讀全文
多晶x射線衍射儀
主要應用于樣品的物像定性或定量分析、晶體結構分析、材料的織構分析、宏觀應力或微觀應力的測定、晶粒大小測定、結晶度測定等等，因此，在材料科學、物理學、化學、化工、冶金、礦物、藥物、塑料、建材、陶瓷。。。。。。。。。。。。。。以至考古、刑偵、商檢等眾多學科和行業中都有廣泛的應用，是理工科院校和材料研究、
多晶X射線衍射儀
多晶X射線衍射儀是一種用于材料科學領域的分析儀器，于2008年7月1日啟用。 技術指標 ● X射線高壓發生器：最大功率：3kW，最大電壓：60kV，最大電流：60mA ● 陶瓷X光管：Cu靶，最大功率：2.2kW, 最大電壓：60kV，最大電流：55mA ● q/q 掃描模式，掃描范圍：0.
多晶粉末X射線衍射儀
多晶粉末X射線衍射儀是一種用于核科學技術領域的分析儀器，于2015年12月10日啟用。 技術指標 1．工作溫度：15-25 °C 2．工作濕度：40-80 % 3．UPS電源：30 kVA（220-240 V +/– 10 %, 50-60 Hz） 4．最大輸出功率：2.2 kW （銅靶）
多晶X射線衍射儀的基本構造
多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成：1) X 射線發生器(產生X射線的裝置);2) 測角儀(測量角度2θ的裝置); 3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置); 4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等)
x射線單晶衍射儀和多晶衍射儀的區別
衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一，其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底
多晶x射線衍射的簡介
用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法，也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。
多晶x射線衍射的分類
多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法（圖 1）。相機為一金屬圓筒，內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上，通過馬達帶動使它不停地轉動；緊貼內壁放置長條形X光底片；入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上，穿透樣品后的 X射線進入射線收集器而被吸收
多晶x射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
多晶X射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
多晶X射線衍射的原理
多晶衍射儀法的原理與照相法類似，只是用射線記數器記錄衍射線的位置和強度，加上與電子計算機聯用，可使測量的準確度高、分辨能力強且迅速方便，并能自動將樣品的數據與計算機貯存的標準數據對照而鑒定樣品的物相。
多晶X射線衍射儀（XRD）的基本構造
多晶X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，通常用于測量粉末、多晶體金屬或者高聚物塊體材料等。主要由四個部分構成：1) X?射線發生器(產生X射線的裝置);2)?測角儀(測量角度2θ的裝置);?3) X射線探測器(測量X射線強度的計數裝置);?4) X射線系統控制裝置(數據采集系統和各種電氣系統、保護系統等)
多晶x射線衍射的分類及原理
分類 多晶衍射有照相法和衍射儀法兩類。常用的粉末照相法為德拜-謝樂法（圖 1）。相機為一金屬圓筒，內徑通常為57.3毫米或114.6毫米,樣品裝在圓筒的中心軸線上，通過馬達帶動使它不停地轉動；緊貼內壁放置長條形X光底片；入射的單波長X射線經準直管作用在樣品上，穿透樣品后的 X射線進入射線收集器
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的？花樣 有何特征？各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,（hkl）晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的？花樣 有何特征？各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,（hkl）晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的
電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件（布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等）和系統消光規律.但電子波是物質波,按入射電子能量的大小,電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射,而x射線衍射是x射線照射樣品.
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的？花樣 有何特征？各有何應用多晶體的電子衍射花樣是一系列不同半徑的同心圓環.多晶取向完全混亂,可看作是一個單晶體圍繞一點在三維空間內旋轉,故其倒易點是以倒易原點為圓心,（hkl）晶面間距的倒數為半徑的倒易球,與反射球相截為一個圓.所有能產生衍射的半點都擴展
多晶x射線衍射和多晶電子衍射花樣是如何形成的
電子衍射與x射線衍射一樣,遵從衍射產生的必然條件（布拉格方程+反射定律,衍射矢量方程或厄瓦爾德圖解等）和系統消光規律.但電子波是物質波,按入射電子能量的大小,電子衍射可分為高能電子衍射、低能電子衍射和反射式高能電子衍射,而x射線衍射是x射線照射樣品.
最新X射線分析著作《多晶X射線衍射技術與應用》出版
書號：978-7-122-19145-8 出版日期：2014年7月 定價：88元 開本：16 當當網鏈接：http://product.dangdang.com/23491711.html 多晶衍射技術是對晶態物質的組成、結構和存在情況進行分析測試的重要方法，已廣泛應用
X射線單晶與多晶衍射技術的區別
衍射儀的進展主要在三個方面:1、X射線發生器，2、探測器，3、衍射幾何與光路。折疊x射線發生器X射線發生器是進行X射線衍射實驗所不可缺少的、重要的設備之一，其優劣會嚴重影響X射線衍射數據的質量。折疊探測器探測器是用來記錄衍射譜的，因而是多晶體衍射設備中不可或缺的重要部件之一。早先被廣泛使用的是照相底
X射線衍射儀
產品型號:?X'Pert PRO生產廠家:荷蘭帕納科公司PANalytical B.V.（原飛利浦分析儀器）儀器介紹:X'Pert PRO X射線衍射儀采用陶瓷χ光管、DOPS直接光學定位傳感器精確定位和最優化的控制臺及新型窗口軟件。采用模塊化設計，可針對不同的要求采用最優的光學系統
X射線衍射儀
特征X射線及其衍射X射線是一種波長（0.06-20nm）很短的電磁波，能穿透一定厚度的物質，并能使熒光物質發光、照相機乳膠感光、氣體電離。用高能電子束轟擊金屬靶產生X射線，它具有靶中元素相對應的特定波長，稱為特征X射線。如銅靶對應的X射線波長為0.154056 nm。X射線衍射儀的英文名稱是X-ra
多晶體衍射儀的X射線發生器相關介紹
X射線發生器由X射線管、高壓發生器、管壓和管流穩定電路以及各種保護電路等部分組成。 現代衍射用的X射線管都屬于熱電子管，有密封式和轉靶式兩種。前者最大的功率在2.5KW以內，視靶材料的不同而異；后者是為獲得高強度X射線而設計的，一般功率在10KW以上，目前常用的有9KW、12KW和18KW幾種
X射線衍射儀應用
Olympus便攜式X 射線衍射儀BTX可能直接分析出巖石的礦物組成及相對含量，并形成了定性、定量的巖性識別方法，為錄井隨鉆巖性快速識別、建立地質剖面提供了技術保障。每種礦物都具有其特定的X 射線衍射圖譜，樣品中某種礦物含量與其衍射峰和強度成正相關關系。在混合物中，一種物質成分的衍射圖譜與其他物質成
X射線衍射儀原理
x射線的波長和晶體內部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光柵，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都產生散射波，這些波互相干涉，結果就產生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物
X射線衍射儀構造
X射線衍射儀的形式多種多樣，用途各異，但其基本構成很相似，為X射線衍射儀的基本構造原理圖，主要部件包括4部分。 （1）高穩定度X射線源 提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。 （2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統 樣品須是單晶、粉
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
X射線衍射儀法
X射線主要被原子中緊束縛的外層電子所散射。X射線的散射可以是相干的(波長不變)或非相干的(波長變)。相干散射的光子可以再進行相互干涉并依次產生一些衍射現象。衍射出現的角度(θ)可以與晶體點陣中原子面間距(d)聯系起來，因此X射線衍射花樣可以研究寶玉石的晶體結構和進行物相鑒定。一、X射線的產生及其性質
用X射線衍射精確表征硅酸三鈣多晶型
在1 500℃條件下,通過摻雜質量分數為0、0.6%及1.5%的MgO制備了T1、T3及M3型硅酸三鈣(C3S)。使用不同分辨率的X射線衍射儀對樣品進行分析。結果表明:不同晶型的C3S指紋區X射線粉末衍射特征峰存在明顯差異,衍射峰的不同可以用于判定C3S晶型;當X射線衍射儀分辨率較低(儀器半高寬
X射線衍射分析對單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系。雖然可以用光學方法等物理方法確定 單晶取向，但X 衍射法不僅可以精確地單晶定向，同時還能得到晶體內部微觀結構的信息。一般用勞埃法 單晶定向，其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系。透射
實驗室光學儀器多晶X射線衍射的方法
一、粉末法粉末法又稱粉晶法。在勞厄發現單晶體對X射線衍射后不久,德國的德拜和謝樂(Debye & Scherrer)、美國的胡爾幾乎同時發現了粉末法。它采用波長一定的X射線,樣品為研磨成粉末狀的細小晶體顆粒的集合體,通常將它們膠合,制成直徑小于0.5毫米的細圓柱,安裝在特制的粉末照相機的中心。長條形