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  • 軟X射線能譜測試Ross濾片對設計

    為獲得“陽”加速器上Z箍縮等離子體軟X射線輻射譜,設計了一套6通道的軟X射線能譜儀,譜儀范圍0.1keV-1.5keV,采用Ross濾片差分法。文中介紹了測量箍縮軟X射線能譜的Ross濾片對的設計,并從理論上計算了對應“陽”加速器上等離子溫度為20eV的黑體輻射譜時,PIN探頭的輸出電流,從計算結果來看,很好地滿足了設計要求。 ......閱讀全文

    軟X射線能譜測試Ross濾片對設計

    為獲得“陽”加速器上Z箍縮等離子體軟X射線輻射譜,設計了一套6通道的軟X射線能譜儀,譜儀范圍0.1keV-1.5keV,采用Ross濾片差分法。文中介紹了測量箍縮軟X射線能譜的Ross濾片對的設計,并從理論上計算了對應“陽”加速器上等離子溫度為20eV的黑體輻射譜時,PIN探頭的輸出電流,從計算結

    軟X射線能譜儀

    本文描述了一個用于托卡馬克雜質譜線精細測量的高分辨軟X射線譜儀。譜儀采用Johann型彎晶衍射結構,以多絲正比室作探測器件。其測量范圍為2—8keV(1—6),能量分辨為4.1eV(在6.4keV處)。多絲正比室采用陽極絲逐絲讀出法,位置讀出精度2mm。譜儀配有自動數據記錄系統。?

    軟X射線源上X射線能譜與X射線能量的測量

    本文介紹了國內首次利用針孔透射光柵譜儀對金屬等離子體Z箍縮X射線源能譜的測量結果及數據處理方法。同時用量熱計對該源的單脈沖X射線能量進行了測量并討論了其結果。

    軟X射線能譜儀數據采集系統

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    軟X射線能譜定量測量技術研究

    采用每毫米 10 0 0線的自支撐透射光柵配上背照射軟X射線CCD(charge coupleddevice)組成了透射光柵譜儀 ,利用北京同步輻射裝置 (BSRF) 3W1B光束線軟X射線實驗站上X射線源分別對透射光柵的衍射效率和軟X射線CCD的響應靈敏度進行了準確的實驗標定 ,獲得了 15 0

    多層鏡軟X射線能譜儀的研制

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    Z箍縮軟X射線連續能譜測量

    診斷Z箍縮等離子體不同時刻的空間分布及狀態是認識等離子體運動規律進而控制其箍縮過程以便加以利用的必經環節。在箍縮過程中,離子、電子和光子發生強烈的相互作用,探測出射的X光可不破壞等離子體原有狀態而獲取三者運動信息。通過測量X光能譜可以探知輻射場溫度、離子密度、輻射沖擊過程等等。受現有裝置驅動能力的限

    噴氣式Z箍縮等離子體輻射軟X射線能譜的研究

    研制了一臺五通道ROSS-FILTER-PIN軟X射線能譜儀,能譜范圍為0·28—1·56keV.它由5個連續能段組成,每個能段的起止邊由羅斯濾片對(ROSS-FILTERS)的L或K吸收邊確定.羅斯濾片對的厚度通過優化計算得到,為了使每個通道的靈敏區外響應(即所測能段外響應)與通道總響應之比最小

    腔靶軟X射線能譜結構的實驗研究

    敘述了利用雙狹縫透射光柵譜儀,在高功率激光物理聯合實驗室神光裝置上,對腔靶不同位置的能譜進行診斷,給出了腔靶源區能譜的空間分布和爆區的能譜結構,為腔靶輻射場的研究提供了重要信息。

    X-射線能譜

    X 射線能譜( Energy-dispersive X-ray spectroscopy, EDS)是微區成分分析最為常用的一種方法,其物理基礎是基于樣品的特征 X 射線。當樣品原子內層電子被入射電子激發或電離時,會在內層電子處產生一個空缺,原子處于能量較高的激發狀態,此時外層電子將向內層躍遷以填補

    HL2A裝置SDD軟X射線能譜測量結果

    用兩道獨立的硅漂移探測器(SDD)測量了HL-2A等離子體在電子回旋加熱(ECRH)期間的軟X射線能譜,給出了電子溫度。SDD軟X射線能譜測量系統所測量的結果與電子回旋輻射(ECE)所測量的電子溫度分布能較好地相互吻合。SDD軟X射線能譜測量結果表明:在軸ECRH期間,等離子體芯部(z=0)得到加熱

    EAST上軟X射線能譜診斷系統的研制

    采用多元硅漂移探測器(Silicon Drift Detector,SDD)陣列和快速處理電子學系統在EAST托卡馬克上構建了一套性能優異的軟X射線能譜診斷系統,用于測量等離子體內在軟X射線能段(1-30 keV)的輻射能譜。本系統觀測范圍覆蓋了EAST等離子體的下半空間,可在EAST上各種放電條件

    軟X射線能譜儀與透射光柵譜儀測量結果的對比

    對軟 X射線譜儀和透射光柵譜儀的測量結果進行了對比。它們的回推譜形大致符合 ,只是透射光柵譜儀的復原譜的 N帶相對于 O帶太小。其原因可能是 X射線 CCD受到靶室油沾污 ,在表面形成了碳膜 ,對 N帶吸收較多。經過對透射光柵譜進行吸收補償后 ,兩種譜儀的復原譜基本一致。?

    基于DSP的X射線能譜數據采集系統設計

    在此以X射線透射衰減規律為基礎,設計出基于DSP的X射線能譜數據采集系統。重點介紹用于能譜數據采集的硬件電路和軟件設計,其中,硬件電路主要由前置放大、濾波、主放大、峰值保持電路組成,軟件主要由TMS320F2812對經過預處理后的脈沖信號進行多道脈沖幅度分析操作,并最終繪制出X射線能譜圖。本系統具

    HT7電子加熱實驗的軟X射線能譜診斷

    介紹了HT-7裝置上軟X射線能譜診斷系統,用軟X射線能譜對HT-7托卡馬克上電子溫度進行了測量。在離子伯恩斯坦波和低雜波協同實驗中,觀察到了對等離子體的較好的加熱效果。?

    X射線能譜儀簡介

    能譜儀是利用X射線能譜分析法來對材料微區成分元素種類與含量分析的儀器,常常配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。

    X射線能譜微區分析中出射角對X射線強度的影響

    利用SEM-EDS研究了硅襯底上Au、Cu薄膜發射的不同線系特征X射線相對強度間比值隨出射角的變化規律,探討了影響其變化的原因。結果顯示:隨著出射角變大,同一元素不同線系X射線相對強度間比值具有一定變化規律。低能量譜線的強度相對高能量譜線逐漸變大,這種變化主要是受X射線被基體吸收效應的影響所致。在低

    ICF實驗軟X射線能譜儀對輻射能流時間關聯測量時標系統

    介紹了時標系統的構成、原理和數據處理方法,并對時間關聯的不確定度進行了分析.該時標系統成功將軟X射線能譜儀自身多個探測通道的信號以及三臺不同位置處的譜儀的時間信號關聯起來,關聯精度約為70ps.在神光Ⅲ原型激光裝置上進行的實驗中用軟X射線能譜儀從不同方向測得輻射源和輻射輸運管末端口輻射能流隨時間的

    X射線機重過濾X射線能譜的測量

    本文報道了用 NaI(Tl)閃爍譜儀對國產 F34-Ⅰ型 X 射線機的重過濾 X 射線能譜的測量和解譜方法,給出一組測量結果,并對測量結果進行了比較和討論。

    用于診斷磁約束等離子體的軟X射線能譜儀

    文章描述HT-6M托卡馬克裝置上的軟X射線能譜儀的組成。給出HT-6 M弦積分的軟X射線連續譜的解析表達式,計算其強度并據以進行真空準直系統的物理設計。首批實驗結果表明物理設計合理,譜儀性能良好。?

    HT7基于軟X射線能譜診斷的電子加熱實驗研究

    HT-7上軟X射線能譜診斷所使用的硅漂移探測器(SDD)采用peltier效應制冷,體積緊湊,在短的成形時間下具有高的能量分辨率,非常適合用于托卡馬克的空間多道溫度測量。在HT-7所開展的兆瓦(MW)加熱功率實驗下,作為不可或缺的重要診斷,利用它對歐姆加熱、低雜波(LHW)加熱以及離子伯恩斯坦波(I

    高能脈沖X射線能譜測量

    給出了高能脈沖X射線能譜測量的基本原理及實驗結果.采用Monte-Carlo程序計算了高能光子在能譜儀中每個靈敏單元內的能量沉積,利用能譜儀測量了"強光Ⅰ號"加速器產生的高能脈沖X射線不同衰減程度下的強度,求解得到了具有時間分辨的高能脈沖X射線能譜,時間跨度57ns,時間步長5ns,光子的最高能量3

    X射線能譜儀應用范圍

    1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分的鑒定;2、高分子、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析;3、可對固體材料的表面涂層、鍍層進行分析,如:金屬化膜表面鍍層的檢測;4、金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領域;5、進行材料表面微區成分的定性和定量分析,

    DPF脈沖X射線能譜測量

    采用濾光法對DPF脈沖X射線源裝置的X射線能譜進行了測量,取得了較好的結果,為輻射效應環境測量提供了一種手段。?

    Si(Li)X射線能譜儀

    Si(Li)x射線能譜儀于一九六八午首次應川在電子探針,成為一種x射線微分析的工具。此后,在能量分辨率、計數率和數據分析等方面作了許多改進,目前已經成為電子探針和掃描電鏡的一種受歡迎的附件,甚至在透射電子顯微鏡上也得到應用。

    X射線能譜數據處理

    本文提出運用FFT,對雙路實測能譜信息在變換域中加以濾波修正,同時完成平滑及背底扣除。文中剖析了EDAX-7EMZL程序,并與諸元素特征峰及背底的譜分析相比較,獲取濾波修正頻窗。文中編制了雙路能譜同時作濾波修正程序。試驗表明:此法實現了數據壓縮及零相位校正,增快了濾波速度,減小了相位滯移量,提高了分

    X射線能譜測量與模擬

    1895年,德國科學家倫琴發現了X射線,開辟了一個嶄新的、廣闊的物理研究領域。其中,針對電子打靶產生的韌致輻射X射線的研究,是X射線研究領域的一個重要課題。本文在國內外針對X射線能譜測量與解析的基礎上,利用高純鍺(HPGe)探測器使用直接測量法與間接測量法對鎢靶X射線與鉬靶X射線能譜進行了測量。工作

    X射線能譜定性分析

    X射線能譜定性分析快速有效,是電子探針和掃描電鏡分析必須的組成部分。用X射線能譜儀測量試樣特征X射線全譜中各譜峰的能量值,計算機釋譜得出試樣的元素組成。X射線能譜定性分析要注意背景的判別、峰的位移、峰的重疊、逃逸峰、二倍峰、和峰和其他干擾峰等問題,以免導致錯誤的分析結果。(1)背景的判別在使用X射線

    軟X射線的簡介

      波長小于0.1埃的稱超硬X射線,在0.1~1埃范圍內的稱硬X射線,1~10埃范圍內的稱軟X射線(X射線波長略大于0.5nm的被稱作軟X射線)。

    HT7上基于軟X射線能譜診斷的電子加熱實驗研究

    HT-7上軟X射線能譜診斷所使用的硅漂移探測器(SDD)采用peltier效應制冷,體積緊湊,在短的成形時間下具有高的能量分辨率,非常適合在托卡馬克上布置空間多道診斷。軟X射線能譜不僅是測量溫度的常規診斷,在HT-7所開展的兆瓦(MW)加熱功率實驗下,它同樣是不可或缺的重要診斷,利用它對歐姆加熱、低

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