多層膜分析紅外光譜法
多層膜分析-紅外光譜法 多層薄膜材料，就是在一層厚度只有納米級的材料上，再鋪上一層或多層性質不同的其他薄層材料，最后形成多層固態涂層。由于各層材料的電、磁及化學性質各不相同，多層薄膜材料會擁有一些奇異的特性。目前，這種制造工藝簡單的新型材料正受到各國關注，已從實驗室研究進入商業化階段，可以廣泛應用于防腐涂層、燃料電池及生物醫學移植等領域。多層膜由于其優秀的使用性能及廉價的成本使得被企業廣泛應用。 多層膜分析是一種將切片技術與顯微紅外技術相互結合的優秀實用技術，這兩種技術是多層膜分析的關鍵點，也是難點。切得干凈漂亮，看得清晰，才可以對每層都充分分析。以某企業送來的測試樣品為例： 上圖為薄膜切片后的效果圖，紅線區域為夾具，作用為固定薄膜。圖中我們可以發現薄膜從左到右一共有4層，且分層明顯，效果達到了預期目標。分層結構越明顯越利于分析測試。然后將薄膜切到5微米后，放在鍍金玻璃鏡片上，使用反射法......閱讀全文
多層膜分析-紅外光譜法
多層膜分析-紅外光譜法?多層薄膜材料，就是在一層厚度只有納米級的材料上，再鋪上一層或多層性質不同的其他薄層材料，最后形成多層固態涂層。由于各層材料的電、磁及化學性質各不相同，多層薄膜材料會擁有一些奇異的特性。目前，這種制造工藝簡單的新型材料正受到各國關注，已從實驗室研究進入商業化階段，可以廣泛應用于
紅外光譜法的分析
紅外光譜具有鮮明的特征性，其譜帶的數目、位置、形狀和強度都隨化合物不同而各不相同。因此，紅外光譜法是定性鑒定和結構分析的有力工具 ①已知物的鑒定 將試樣的譜圖與標準品測得的譜圖相對照，或者與文獻上的標準譜圖（例如《藥品紅外光譜圖集》、Sadtler標準光譜、Sadtler商業光譜等）相對照，
氮化物/鉭多層膜的制備及性能研究
氣相沉積薄膜賦予材料表面特殊的物理、化學和機械性能，在航天航空、微電子、機械制造等領域有著重要的應用，特別是在金屬切削加工刀具的性能提高方面，具有舉足輕重的作用。氣相沉積的多層膜往往具有基體和單層膜難以達到的特殊性能，是當前薄膜材料理論與技術的研究熱點之一。已有的關于氮化物/金屬多層膜的研究成果，預
湖南公布《多層復合食品包裝膜、袋》地方標準
湖南地方標準《多層復合食品包裝膜、袋》實施三個月，已有超過半數的生產企業采用新標準。10月12日，湖南省質量技術監督局公布標準細則，并召開宣貫會廣而告之，相關生產企業積極配合。此舉將有效提高相關產品的監管能力和質量安全。 現狀：食品相關產品安全風險陡增 自2007年以來，我國對食品用塑料
紅外光譜法
一定頻率的紅外光輻照能導致被照射物質分子在振動、轉動能級上的躍遷。當分子中某些化學鍵或基團（具有偶極特性）的振動頻率與紅外輻射的頻率一致時，分子便吸收此紅外輻射（一種共振吸收）。若以頻率連續改變的紅外光輻照試樣，由于試樣對不同頻率的紅外光的吸收不同，便得到以吸光度A或透光率T為縱坐標，紅外輻射波數或
紅外吸收光譜法結構分析初步
紅外吸收光譜法結構分析初步一、?實驗目的1、?掌握一般固體試樣的制樣方法以及壓片機的使用方法。2、?了解紅外光譜儀的工作原理。3、?掌握紅外光譜儀的一般操作。二、?實驗原理紅外吸收光譜是由于分子中振動能級的躍遷而產生的。由于不同物質或同一物質的不同聚集態中各基團固有的振動頻率不同或結構的不同，導致所
多層織物熱防護性能分析
選用消防員滅火防護服常用外層、舒適層、隔熱層以及防水透氣層組成3層和4層結構織物,測試其整體熱防護能力(TPP)值,分析隔熱層和防水透氣層對多層結構織物整體熱防護性能的貢獻。在噴濕量5%、10%、15%、20%的條件下,探討噴濕方向、噴濕量和潤濕時間對織物TPP值的影響。結果表明:防水透氣層對多層
輸液袋多層共擠膜氮氣阻隔性能的試驗
為了有效降低注射液內氧氣含量，有些注射液產品采用充氮氣方法，即提高輸液袋內氮氣濃度，盡可能降低內部氧氣濃度，使得注射液處在低氧或絕氧環境中。因此，為了保證袋內氮氣不易散失，以維護高氮低氧的環境，輸液袋必須對內部氮氣具有較高的阻隔性，即氮氣透過率較低。企業需要對輸液袋多層共擠膜材料進行氮氣阻隔性能的檢
多層共擠重包裝膜、袋厚度測試解決方案
摘要：隨著社會對環保等方面要求的日益提高,環保,美觀的FFS重包裝膜順勢發展,潛力巨大。自2001年起,中國的重包裝袋市場隨著一些新的石化企業的投產而獲得發展機會。FFS重包裝膜取代傳統包裝形式的潛力巨大。隨著我國重包裝市場的逐步國際化,中國包裝業面臨更嚴峻的挑戰和的機遇,采用更先進的FFS包裝形式
長春光機所極紫外多層膜膜厚分布超高精度控制研究獲進展
近日，中國科學院長春光學精密機械與物理研究所應用光學國家重點實驗室金春水研究團隊在極紫外多層膜膜厚分布超高精度控制研究方面取得新進展：通過采用遺傳算法，實現了Φ200mm曲面基底上極紫外多層膜膜厚分布控制精度優于±0.1%，鍍膜引起的不可補償面形誤差小于0.1nmRMS，相關指標達到國際先進水平