蔡司新一代突破性X射線顯微鏡—Xradia600Versa系列隆重上市
屢獲殊榮的蔡司Xradia Versa系列又推出了兩款新型先進產品 — Xradia 610 Versa和Xradia 620 Versa X射線顯微鏡。它們的獨特優勢是能夠在全功率和電壓范圍內更快速地對樣品進行無損成像，且不會影響分辨率和對比度。 蔡司Versa X射線顯微鏡憑借優異的大工作距離高分辨率（RaaD）的特性，成為了全球優秀研究人員和科學家的“有力幫手”。在相對大工作距離下也能保持超高分辨率，有助于產生意義非凡的科學見解和發現。隨著當今技術的快速發展，對分析儀器也提出了更高的要求，而蔡司Xradia 600 Versa系列就是專為應對這一挑戰而設計的。 蔡司 Xradia 610 & 620 Versa采用改進的光源和光學技術 X射線計算機斷層掃描成像領域面臨的兩大挑戰是：實現大尺寸樣品和大工作距離下的高分辨率和高通量成像。蔡司推出的兩款X射線顯微鏡憑借以下優勢完美解決了這些挑戰：系統可提供高功率......閱讀全文
蔡司推出用于Xradia 3D X射線顯微鏡的高級智能化重構技術
蔡司推出應用于Xradia 3D X射線顯微鏡的高級智能化重構技術，創新重構算法有助于提高通量和圖像質量。 蔡司最新發布的高級重構工具箱（Advanced Reconstruction Toolbox），適用于行業先進的蔡司Xradia 3D X射線顯微鏡和計算
X射線顯微鏡原理
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
蔡司新一代突破性X射線顯微鏡—Xradia 600 Versa系列隆重上市
屢獲殊榮的蔡司Xradia Versa系列又推出了兩款新型先進產品 — Xradia 610 Versa和Xradia 620 Versa X射線顯微鏡。它們的獨特優勢是能夠在全功率和電壓范圍內更快速地對樣品進行無損成像，且不會影響分辨率和對比度。 蔡司Versa X射線顯微鏡憑借優異的大工作
X 射線顯微鏡的概念
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出發的
X射線顯微鏡的簡介
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
X射線顯微鏡的定義
X 射線顯微鏡是X 射線成像術的一種，也是顯微成像技術，即將微觀的、肉眼無法分辨看出的結構、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設備的構造與主要組成部件( 如X射線源、探測器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫學成像、機械制品的缺陷探傷、機場車站的安全檢查等) 出
蔡司高分辨3D X射線成像方案 用于半導體封裝失效分析
? 新型亞微米與納米級XRM系統及新型microCT系統為失效分析提供了靈活選擇,幫助客戶加速技術發展,提高先進半導體封裝的組裝產量。 加州普萊斯頓與德國上科亨,2019年3月12日--蔡司發布了一套新型高分辨率3D X射線成像解決方案,用于包括2.5/3D與擴散型晶圓級封裝在內的先進半導體封裝的
近700萬 蔡司X射線掃描成像系統中標中科院采購項目
近日，中國科學院新疆生態與地理研究所發布《中國科學院新疆生態與地理研究所三維X射線掃描成像系統采購項目》中標信息，花費697萬元采購蔡司三維X射線掃描成像系統。詳細信息如下：一、項目編號：OITC-G220300354（招標文件編號：OITC-G220300354）二、項目名稱：中國科學院新疆生態與
磁X射線顯微鏡的相關介紹
同步輻射中所含的輻射均是偏振光，可以是線偏振光，也可以是橢圓或圓偏振光，X 射線也不例外。如果待測物質具有磁性，則具有不成對電子，具有電子自旋磁矩和軌道磁矩。磁矩與不同方向的偏振光的作用是不同的，如用不同方向的圓( 線) 偏振光照射磁性材料，可以得到不同的吸收譜，該性質稱圓( 線) 二色性。
X 射線顯微鏡成像與構造介紹
X 射線顯微鏡的成像原理與光學顯微鏡基本上是一樣的，遵從幾何光學原理，其關鍵部件是成像和放大作用的光學元件，在光學顯微鏡中為透鏡。由于X 射線的波長很短，在玻璃和一般物質界面上的折射率均接近1，故其成像放大元件不能用玻璃透鏡，一般用波帶片。此外，它們同樣利用吸收襯度和位相襯度成像，同樣要求有強光源及